3GPP LTE 基帶設(shè)計(jì)庫(kù)(安捷倫)
安捷倫科技公司宣布為 SystemVue 2009 設(shè)計(jì)平臺(tái)推出新的 LTE 基帶設(shè)計(jì)程序庫(kù)。該設(shè)計(jì)庫(kù)(產(chǎn)品號(hào)W1912)提供全部的物理層設(shè)計(jì)基準(zhǔn)參考(golden reference)算法源代碼。這些算法均符合 2009 年 3 月發(fā)布的 3GPP LTE 標(biāo)準(zhǔn)。安捷倫新的 LTE 設(shè)計(jì)庫(kù)為正在進(jìn)行下一代(4G)無(wú)線系統(tǒng)設(shè)計(jì)的 3GPP LTE 基帶算法和硬件開發(fā)人員提供了極大的便利,它支持基于仿真的性能測(cè)試,其圖形用戶界面將簡(jiǎn)化復(fù)雜的配置。
支持將 IP 引入 3GPP LTE 物理層設(shè)計(jì)
Agilent W1912 仿真設(shè)計(jì)庫(kù)提供完整的 C++算法級(jí)源代碼,并可提供鏈路級(jí)參考設(shè)計(jì)以及測(cè)試模板。該測(cè)試模板以 3GPP LTE TS36-101 和 104標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ),支持 HARQ 技術(shù)。源代碼能夠讓工程師研究已經(jīng)成功運(yùn)行的 LTE 基帶物理層的算法,并可以設(shè)置中斷點(diǎn),通過(guò)創(chuàng)建關(guān)鍵的測(cè)試向量和驗(yàn)證套件以節(jié)省時(shí)間。W1912 設(shè)計(jì)庫(kù)能夠與安捷倫的測(cè)試信號(hào)源(例如 N5106A PXB 和 N5182 MXG)、接收機(jī)(例如 N9020A MXA)和軟件(例如 89600 VSA)實(shí)現(xiàn)互通,因此基帶架構(gòu)師可以快速將現(xiàn)有算法應(yīng)用于 FDD LTE、TD-LTE 和 MIMO 的新興領(lǐng)域?,F(xiàn)在,只用于仿真驗(yàn)證的設(shè)計(jì)庫(kù)版本(W1910)也已發(fā)布。
安捷倫副總裁兼移動(dòng)寬帶業(yè)務(wù)部總經(jīng)理 Niels Faché 說(shuō):“LTE 源代碼的開放對(duì)創(chuàng)建早期測(cè)試解決方案來(lái)說(shuō)尤為重要,硬件開發(fā)人員需要使用這些解決方案開發(fā)高質(zhì)量、市場(chǎng)領(lǐng)先的 LTE 用戶設(shè)備和芯片組。SystemVue軟件與新的 LTE 設(shè)計(jì)庫(kù)結(jié)合使用,將新型 E6620A LTE 綜合測(cè)試儀基帶信號(hào)處理功能的開發(fā)時(shí)間縮短了 3 個(gè)月。鑒于此,SystemVue 2009 及其新的 LTE 設(shè)計(jì)庫(kù)正在迅速成為 3GPP LTE 基帶算法和硬件開發(fā)人員的必備工具之一?!?/p>
前瞻式性能測(cè)試
安捷倫現(xiàn)在還為 SystemVue 2009 軟件推出了一種創(chuàng)新的動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)流仿真模式,該模式支持 LTE 標(biāo)準(zhǔn) 8.6 版本中規(guī)定的基于仿真的性能驗(yàn)證?,F(xiàn)在,基帶設(shè)計(jì)者早在對(duì)物理原型進(jìn)行測(cè)試之前,就可以創(chuàng)建和驗(yàn)證可靠的算法,以確保系統(tǒng)性能和更大范圍滿足第 1 層標(biāo)準(zhǔn)要求,縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)周期。這都源于 SystemVue 軟件支持新的子幀通信 HARQ 技術(shù),它擴(kuò)展了物理層,能支持新的動(dòng)態(tài)行為,同時(shí)保留了物理層的通用性和射頻精度。
源代碼和編譯過(guò)的 LTE 設(shè)計(jì)庫(kù)都遵循從系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)到測(cè)試的開發(fā)周期。在模塊從概念到虛擬原型、再到可工作鏈路級(jí)硬件的實(shí)施過(guò)程中,設(shè)計(jì)庫(kù)中的源和接收機(jī)用戶界面支持硬件設(shè)計(jì)者配置測(cè)試矢量,進(jìn)行模塊級(jí)調(diào)試。在整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中,都使用相同的環(huán)境和測(cè)試設(shè)置并將提供基于 3GPP LTE 標(biāo)準(zhǔn)的鏈路級(jí)驗(yàn)證,并可直接延伸至硬件測(cè)試階段。