吉時利推出2651A型高功率數(shù)字源表
21ic訊 吉時利儀器公司推出2600A系列源表中的最新產(chǎn)品2651A型高功率源表(System SourceMeter®)儀器。2651A型專門為高功率電子的特性分析而優(yōu)化設(shè)計,提供業(yè)內(nèi)可用的最寬電流量程。該量程對于各種各樣的研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)測試應(yīng)用至關(guān)重要,例如測試高亮度LED (HBLED)、功率半導(dǎo)體、DC-DC轉(zhuǎn)換器、電池,以及其他高功率材料、元件、模塊和組件。
與2600A系列的每個產(chǎn)品成員一樣,2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載,組合了精密電壓和電流表。該源表在單個全尺寸機(jī)箱中組合了多種儀器的功能:半導(dǎo)體特性分析儀、精密電源、真電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載,以及觸發(fā)控制器,并且通過吉時利的TSP-Link®技術(shù)可完全擴(kuò)展為多通道嚴(yán)格同步系統(tǒng)。與競爭產(chǎn)品具備有限的功率、測量速度和/或分辨率不同,2651A型可源出或吸入高達(dá)2,000W脈沖功率(±40V,±50A)或200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)。該數(shù)字源表還能夠以高達(dá)1微秒每讀數(shù)的速率精密測量低達(dá)1pA和100 μV的信號。
兩種測量模式:數(shù)字化或積分
2651A型可選擇數(shù)字化或積分測量模式,用于對瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進(jìn)行精密特性分析。兩個獨(dú)立的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器定義每種模式——一個用于電流,另一個用于電壓,可同時用于精密電源讀回,不會影響測試效率。
數(shù)字化測量模式的18位A/D轉(zhuǎn)換器能夠以1微秒每點(diǎn)進(jìn)行連續(xù)采樣,每秒可捕獲多達(dá)100萬個讀數(shù),使其成為波形捕獲及高精度測量瞬態(tài)特征的最佳選擇。而競爭方案必須通過對多個讀數(shù)進(jìn)行平均來產(chǎn)生一次測量結(jié)果,并且往往不能測量瞬態(tài)行為。
積分測量模式基于22位A/D轉(zhuǎn)換器,優(yōu)化了儀器在需要最高可能測量準(zhǔn)確度和分辨率應(yīng)用中的工作性能。這樣可確保精密測量新一代器件中的極小電流和電壓。全部2600A系列儀器均具有積分測量工作模式。
寬動態(tài)范圍適用于更寬范圍的應(yīng)用
通過TSP-Link并聯(lián)兩個2651A單元,可將系統(tǒng)的電流量程從50A提高至100A。這比最接近的競爭方案高兩倍半至五倍。兩個單元串聯(lián)時,電壓量程可從40V提高至80V。全部2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠?qū)⒍鄠€單元作為單臺儀器進(jìn)行尋址,使其一致動作,從而簡化測試。2651A型的內(nèi)置觸發(fā)控制器能夠以500納秒同步所有鏈接通道的工作。2651A型的這些功能提供了業(yè)內(nèi)可用的最寬動態(tài)范圍,使其非常適合于各種大電流、大功率測試應(yīng)用,包括:
• 功率半導(dǎo)體、HBLED和光器件特性分析和測試
• GaN、SiC及其他復(fù)合材料和器件的特性分析
• 半導(dǎo)體結(jié)溫特性分析
• 可靠性試驗(yàn)
• 高速、高精度數(shù)字化
• 電遷移研究
高速脈沖防止測試期間器件自熱
為了將器件在測試期間的自熱(這也是大功率半導(dǎo)體和材料的普遍問題)降至最小,2651A型提供了高速脈沖功能,使用戶能夠以高準(zhǔn)確度源出和測量脈沖。脈寬從100μs至DC、占空比從1%至100%可編程。而競爭方案通常受限于儀器占空比編程靈活性。
強(qiáng)大的測試腳本開發(fā)工具
儀器中嵌入了吉時利基于LXI的I-V測試軟件TSP Express,所以無需軟件安裝和編程。從基本到高級測試,TSP Express均能以簡單三步提供器件數(shù)據(jù):連接、配置和采集。它還簡化了儀器連接,允許更高的脈沖水平。能夠以圖形或表格格式查看結(jié)果,然后導(dǎo)出至.csv格式文件,可用于電子表格軟件。還提供另外兩款用于創(chuàng)建測試序列的強(qiáng)大軟件工具。Test Script Builder應(yīng)用軟件支持TSP腳本的創(chuàng)建、修改、調(diào)試、運(yùn)行和管理。一款基于IVI的LabVIEW®驅(qū)動簡化了將2651A集成至LabVIEW測試序列的過程。