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可靠性測試包括哪些
電子產(chǎn)品可靠性試驗的方法及分類
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可靠性測試
可靠性測試就是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進行的活動。
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思達科技最新一體化可靠性測試系統(tǒng)進展順利：已開始接單出貨
我們距離完全的自給自足還有一段距離，需要再加把勁才行。 6月份的308億顆產(chǎn)量比2020年同期增長了43.9%，同時，2021年前6個月，我們一共生產(chǎn)了1712億個芯片，同比增長48.1%。
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電源測試大全之可靠性測試
1 反復(fù)短路測試 測試說明 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應(yīng)能實現(xiàn)保護或回縮，反復(fù)多次短路，故障排除后，模塊應(yīng)該能自動恢復(fù)正常運行。 測試方
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硅片級可靠性測試詳解
引言 硅片級可靠性（WLR）測試最早是為了實現(xiàn)內(nèi)建（BIR）可靠性而提出的一種測試手段。硅片級可靠性測試的最本質(zhì)的特征就是它的快速，因此，近年來它被越來越多得用于工藝開發(fā)階段。工藝工程師
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LED燈具可靠性測試詳解
作為光源中的新興力量，led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來發(fā)光。發(fā)光方式的不同決定了LED與傳統(tǒng)光源有著本質(zhì)的區(qū)別，也決定了它有自己獨特之處。 首
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可靠性試驗分類方法及試驗標(biāo)準(zhǔn)
1. 如可靠性測試以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗;2. 可靠性試驗以試驗項目劃分，可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗;3.可靠性試驗室若按試驗?zāi)康膩韯澐?，則可分為篩選
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科普:高加速壽命試驗是什么？
一款新產(chǎn)品的推出都要經(jīng)歷很多階段，其中最關(guān)鍵的部分可能要數(shù)設(shè)計研發(fā)階段了。新的產(chǎn)品理念的提出到試品的出現(xiàn)，可謂是從無到有的過程。在整個產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)階段，工程師們需要通過很多手段使產(chǎn)品的種種缺陷提早暴露
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EPC可靠性測試報告記錄了超過170億小時測試器件的可靠性的現(xiàn)場數(shù)據(jù) 結(jié)果表明器件的失效率很低
宜普電源轉(zhuǎn)換公司發(fā)布第七階段可靠性測試報告，展示出在累計超過170億器件-小時的測試后的現(xiàn)場數(shù)據(jù)的分布結(jié)果，以及提供在累計超過700萬器件-小時的應(yīng)力測試后的詳盡數(shù)據(jù)。各種應(yīng)力測試包括間歇工作壽命[(IOL)[、早期壽命失效率[(ELFR)、高濕偏置、溫度循環(huán)及靜電放電等測試。報告提供受測產(chǎn)品的復(fù)合0.24 FIT失效率的現(xiàn)場數(shù)據(jù)。這個數(shù)值與我們直至目前為止所取得的現(xiàn)場評估的結(jié)果是一致的，證明在商業(yè)化的功率開關(guān)應(yīng)用中，eGaN FET已經(jīng)準(zhǔn)備好可以替代日益老化的等效硅基器件。
