EPC可靠性測(cè)試報(bào)告記錄了超過(guò)170億小時(shí)測(cè)試器件的可靠性的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù) 結(jié)果表明器件的失效率很低

EPC公司的第七階段可靠性報(bào)告表明eGaN®FET非?？煽?，為工程師提供可信賴及可 替代采用傳統(tǒng)硅基器件的解決方案。

宜普電源轉(zhuǎn)換公司發(fā)布第七階段可靠性測(cè)試報(bào)告，展示出在累計(jì)超過(guò)170億器件-小時(shí)的測(cè)試后的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)的分布結(jié)果，以及提供在累計(jì)超過(guò)700萬(wàn)器件-小時(shí)的應(yīng)力測(cè)試后的詳盡數(shù)據(jù)。各種應(yīng)力測(cè)試包括間歇工作壽命[(IOL)[、早期壽命失效率[(ELFR)、高濕偏置、溫度循環(huán)及靜電放電等測(cè)試。報(bào)告提供受測(cè)產(chǎn)品的復(fù)合0.24 FIT失效率的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)。這個(gè)數(shù)值與我們直至目前為止所取得的現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估的結(jié)果是一致的，證明在商業(yè)化的功率開關(guān)應(yīng)用中，eGaN FET已經(jīng)準(zhǔn)備好可以替代日益老化的等效硅基器件。

宜普公司首席執(zhí)行官及共同創(chuàng)始人Alex Lidow說(shuō)：「要能驗(yàn)證全新技術(shù)的可靠性是一個(gè)重大的挑戰(zhàn)。EPC非常重視所有產(chǎn)品的可靠性。本階段的測(cè)試結(jié)果及報(bào)告表明，由于EPC的氮化鎵產(chǎn)品具備必備的可靠性，因此是替代硅基技術(shù)的首選半導(dǎo)體器件?！?/p>

本報(bào)告闡述我們對(duì)eGaN FET進(jìn)行廣泛的應(yīng)力測(cè)試的結(jié)果。這些測(cè)試同樣是對(duì)硅基功率MOSFET進(jìn)行的典型測(cè)試方法，以證明eGaN FET在各種應(yīng)力測(cè)試條件下，可否符合JEDEC的最新標(biāo)準(zhǔn)。各種測(cè)試包括：

·高溫反向偏置[(HTRB)

·高溫柵極偏置[(HTGB)

·溫度循環(huán)(TC)

·高溫高濕反向偏置[(H3TRB)

·早期壽命失效率(ELFR)

·間歇工作壽命(IOL)

EPC公司持續(xù)地對(duì)器件進(jìn)行廣泛的測(cè)試。結(jié)果表明，各種器件的固有技術(shù)及所具備的環(huán)保優(yōu)勢(shì)都是可信賴的。第一至第七階段的可靠性測(cè)試報(bào)告可以在我們的網(wǎng)站找到，網(wǎng)址是www.epc-co.com.cn.