本文依據(jù)主元分析原理從語音特征觀察空間分離說話人語音特征子空間,對(duì)輸入語音特征矢量與子空問的距離測(cè)度進(jìn)行了定義,并對(duì)基于特征子空問的說話人識(shí)別性能進(jìn)行了分析。說話人語音訓(xùn)練樣本提取特征后在語音特征觀察空間形成具有一定散度的分布,根據(jù)主元分析原理和分布散度提取主要散度本征向量作為基底構(gòu)成說話人語音特征子空間,并通過測(cè)試語音特征矢量與子空間的距離測(cè)度進(jìn)行模式匹配。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,特征子空間方法對(duì)說話人識(shí)別是有效的,特別是在小于3秒的短時(shí)測(cè)試語音下能夠得到較高的識(shí)別率。
1 引言 通常采用密碼術(shù)保護(hù)數(shù)字媒體的知識(shí)產(chǎn)權(quán),但密碼術(shù)對(duì)內(nèi)容的保護(hù)僅限于通信或訪問控制,一旦數(shù)據(jù)被解密或被用戶訪問。則不再具有保護(hù)能力,與此同時(shí)密文的隨機(jī)性也暴露了信息的重要性,容易引起攻擊者的
0引 言 隨著城市化的進(jìn)展和汽車的普及,交通擁擠加劇,交通事故頻發(fā),交通環(huán)境惡化,這成為長(zhǎng)期以來困擾發(fā)展中國(guó)家和發(fā)達(dá)國(guó)家的嚴(yán)重問題。解決此問題的直接方法是提高路網(wǎng)的通行能力??尚藿ü返目臻g有限,而
闡述了自校驗(yàn)技術(shù)在容錯(cuò)系統(tǒng)中的作用,給出了自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)原理及實(shí)現(xiàn)方法,指出用VHDL語言結(jié)合FPGA/CPLD是實(shí)現(xiàn)大規(guī)模自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)的有效途徑
美商吉時(shí)利儀器公司(Keithley Instruments)宣佈將其廣受歡迎的射頻向量訊號(hào)分析儀全線產(chǎn)品升級(jí),降低了訊號(hào)擷取和量測(cè)的時(shí)間。吉時(shí)利全新Model 2820A射頻向量信號(hào)分析儀能在400MHz~4GHz或400MHz~6GHz的頻率範(fàn)圍內(nèi)提
Anritsu近日為其VNA Master系列新增二款產(chǎn)品MS2026B和MS2028B。MS2026B和MS2028B分別以涵蓋5 kHz至6 GHz和20 GHz的頻率範(fàn)圍,滿足RF和微波電纜及天線分析需求。Anritsu在手持式儀器中,除了為S參數(shù)量測(cè)解決方案提供最
Anritsu全新發(fā)表VectorStar寬頻ME7828A向量網(wǎng)路分析儀系統(tǒng),其能於70 kHz至110 GHz的最廣頻率範(fàn)圍提供業(yè)界最佳的動(dòng)態(tài)範(fàn)圍、量測(cè)速度和校準(zhǔn)與量測(cè)穩(wěn)定性。其效能和頻率涵蓋率提供微波/毫米波零組件和元件設(shè)計(jì)者和製造
O 引 言 通常意義的的集成電路測(cè)試,只是施加測(cè)試以判斷被測(cè)電路是否存在故障,并不對(duì)故障進(jìn)行定位、確定故障類型、明確故障發(fā)生的根本原因。隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)集成電路測(cè)試提出了更高的要求,必須
英特爾工程師上周在舊金山的Game Developers Conference(游戲開發(fā)者大會(huì))上公開該公司第一款繪圖芯片的詳細(xì)設(shè)計(jì)藍(lán)圖,向游戲產(chǎn)業(yè)宣告,全球最大的芯片制造商將加入他們的戰(zhàn)場(chǎng)。 在GDC研討會(huì)舉行前的記者會(huì)上,負(fù)責(zé)
英特爾公布未來繪圖芯片藍(lán)圖
在現(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中,帶有DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn),并且在電路板中形成了邊界掃描鏈,支持邊界掃描測(cè)試。 在DSP電路板中有這樣一類集成電路,它們屬于非邊界掃描器件,位于電路板邊緣連接器和由DSP芯片形成的邊界掃描鏈之間。這部分器件的功能測(cè)試難以進(jìn)行。首先,這些帶DSP的電路板有獨(dú)立的時(shí)序,所以不能單獨(dú)采用傳統(tǒng)的通過外部接口輸入測(cè)試矢量的方法進(jìn)行測(cè)試;其次,邊界掃描測(cè)試只能對(duì)與DSP芯片相連的引腳進(jìn)行互連測(cè)試,可檢測(cè)短路故障,但是難以進(jìn)行功能測(cè)試。 本文采用邊界掃描測(cè)試技術(shù)與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相結(jié)合,為這類器件的功能測(cè)試提供了一種新的選擇。
在現(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中,帶有DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn),并且在電路板中形成了邊界掃描鏈,支持邊界掃描測(cè)試。 在DSP電路板中有這樣一類集成電路,它們屬于非邊界掃描器件,位于電路板邊緣連接器和由DSP芯片形成的邊界掃描鏈之間。這部分器件的功能測(cè)試難以進(jìn)行。首先,這些帶DSP的電路板有獨(dú)立的時(shí)序,所以不能單獨(dú)采用傳統(tǒng)的通過外部接口輸入測(cè)試矢量的方法進(jìn)行測(cè)試;其次,邊界掃描測(cè)試只能對(duì)與DSP芯片相連的引腳進(jìn)行互連測(cè)試,可檢測(cè)短路故障,但是難以進(jìn)
三菱重工業(yè)、羅姆、凸版印刷和三井物產(chǎn)4公司以及山形大學(xué)研究生院城戶淳二教授,為開展有機(jī)EL照明業(yè)務(wù),成立了驗(yàn)證該業(yè)務(wù)可行性的合資公司“Lumiotec”。該公司將從2009年春季開始制造、銷售樣品面板,力爭(zhēng)3年后實(shí)現(xiàn)