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我國首批噪聲測試儀投入使用
在鄭州供電公司110千伏焦砦變電站，一名運(yùn)行人員正拿著一個(gè)智能小巧的噪聲測試儀對(duì)變壓器和高壓室排風(fēng)機(jī)所產(chǎn)生的噪聲進(jìn)行測試，檢測噪聲是否超標(biāo)。這是全省首家使用噪聲測試儀對(duì)電力設(shè)備噪聲進(jìn)行測試的供電單位。目前
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PN結(jié)二極管散粒噪聲測試方法研究
摘要：針對(duì)散粒噪聲難以測量的特點(diǎn)，提出了一種低溫散粒噪聲測試方法。在屏蔽環(huán)境下，將被測器件置于低溫裝置內(nèi)，有效抑制了外界電磁波和熱噪聲的干擾，采用背景噪聲充分低的放大器以及偏置器、適配器等，建立低溫散
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將頻譜分析儀擴(kuò)展用作相位噪聲測試裝置
關(guān)鍵字：頻譜分析儀 相位噪聲測試頻譜分析儀是一種通用測試工具，它能夠?qū)拸V的頻率范圍內(nèi)的大動(dòng)態(tài)范圍信號(hào)進(jìn)行顯示。然而，通過在其中包括相位噪聲測試儀的裝置，馬里蘭州哥倫比亞市Rohde &Schwarz公司的FSUP Sign
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短溝道MOSFET散粒噪聲測試方法研究
近年來隨著介觀物理和納米電子學(xué)對(duì)散粒噪聲研究的不斷深入，人們發(fā)現(xiàn)散粒噪聲可以很好的表征納米器件內(nèi)部電子傳輸特性。由于宏觀電子元器件中也會(huì)有介觀或者納米尺度的結(jié)構(gòu)，例如缺陷、小孔隙和晶粒等，因而也會(huì)
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短溝道MOSFET散粒噪聲測試方法研究
近年來隨著介觀物理和納米電子學(xué)對(duì)散粒噪聲研究的不斷深入，人們發(fā)現(xiàn)散粒噪聲可以很好的表征納米器件內(nèi)部電子傳輸特性。由于宏觀電子元器件中也會(huì)有介觀或者納米尺度的結(jié)構(gòu)，例如缺陷、小孔隙和晶粒等，因而也會(huì)
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