失效模式是指電子元器件在失效前、失效過(guò)程以及失效后的狀態(tài)變化和情況,因此,了解電子元器件的失效模式對(duì)于電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、維護(hù)和更新都具有非常重要的意義。
今天,小編將在這篇文章中為大家?guī)?lái)壓敏電阻的有關(guān)報(bào)道,通過(guò)閱讀這篇文章,大家可以對(duì)它具備清晰的認(rèn)識(shí),主要內(nèi)容如下。
摘要:可靠性分析始于20世紀(jì)50年代,系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)分析則出現(xiàn)較晚,且隨著系統(tǒng)的復(fù)雜度提高,系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)分析越來(lái)越重要。鑒于此,對(duì)一般的可靠性分析模型和計(jì)算方法進(jìn)行了評(píng)估,指出了現(xiàn)有分析方法存在的優(yōu)缺點(diǎn)。
摘 要:通過(guò)對(duì)片式膜電阻器在不同環(huán)境條件下進(jìn)行的過(guò)電應(yīng)力試驗(yàn),研究了其過(guò)電應(yīng)力失效模式及失效機(jī)理,為指導(dǎo)用戶(hù)正確選用片式膜電阻器提供了參考,同時(shí)提高了片式膜電阻器的使用可靠性。
SiP組件的失效模式主要表現(xiàn)為硅通孔(TSV)失效、裸芯片疊層封裝失效、堆疊封裝(PoP)結(jié)構(gòu)失效、芯片倒裝焊失效等,這些SiP的高密度封裝結(jié)構(gòu)失效是導(dǎo)致SiP產(chǎn)品性能失效的重要原因。
繁華的城市離不開(kāi)LED燈的裝飾,相信大家都見(jiàn)過(guò)LED,它的身影已經(jīng)出現(xiàn)在了我們的生活的各個(gè)地方,也照亮著我們的生活。隨著LED產(chǎn)品制造技術(shù)的逐漸成熟,成本越來(lái)越低,性?xún)r(jià)比越來(lái)越高。目前小功率LED產(chǎn)品在大屏幕戶(hù)外顯示等商用領(lǐng)域有很大的應(yīng)用范圍,如何增加使用壽命,減少維護(hù)成本也是業(yè)界關(guān)注的要點(diǎn)所在。
在生活中處處可以見(jiàn)到LED的影子,LED失效模式主要有:芯片失效、封裝失效、熱過(guò)應(yīng)力失效、電過(guò)應(yīng)力失效以及裝配失效,其中尤以芯片失效和封裝失效最為常見(jiàn)。本文將就這幾種主要失效模式,進(jìn)行詳細(xì)的分析。
1 引言 自1859年法國(guó)科學(xué)家普蘭特發(fā)明鉛酸蓄電池以來(lái),至今已有一百多年的歷史。它與其它化學(xué)電源一樣,是一個(gè)電能與化學(xué)能互相轉(zhuǎn)換的裝置。由于它具有電動(dòng)勢(shì)高、充放電
1 引言 目前,閥控式鉛酸蓄電池在電力操作電源廣泛使用,由于閥控式鉛酸蓄電池結(jié)構(gòu)的特殊性,在運(yùn)行中可靠地檢測(cè)蓄電池的性能,并有針對(duì)性地對(duì)蓄電池進(jìn)行維護(hù)變得困難但
歸納起來(lái),鉛酸蓄電池的失效有下述幾種情況: ( 1 )正極板柵的腐蝕變形 ( 2 )正極活性物質(zhì)脫落、軟化 ( 3 )不可逆硫酸鹽化 蓄電池過(guò)放電并長(zhǎng)期在放電狀