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無線通信設備通用測試方法
隨著我國無線通信的迅速發(fā)展，對無線通信設備的技術(shù)要求越來越高，如何確定其性能指標成為設備生廠商與網(wǎng)絡運營商以及通信測試機構(gòu)所共同關注的問題。本文介紹了用于無線通信設備的通用測試方法。這測試方法適用于包
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紡織品聲學和聲學特性的新測試方法
簡·貝林格博士率領的德國海恩斯研究院科學家攜手蒂賓根縣羅伊特林根大學與羅伊科那紡織有限公司，開發(fā)出紡織材料的聲學和聲學特性新的測試方法。海恩斯坦研究院利用聲學測試儀器可測定紡織材料在何種程度下具
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電磁兼容設計原理及測試方法介紹
摘要：針對當前嚴峻的電磁環(huán)境，分析了電磁干擾的來源，通過產(chǎn)品開發(fā)流程的分解，融入電磁兼容設計，從原理圖設計、PCB設計、元器件選型、系統(tǒng)布線、系統(tǒng)接地等方面逐步分析，總結(jié)概括電磁兼容設計要點，最后，介紹了
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UL發(fā)表鋰電池安全議題白皮書，研發(fā)新測試方法
從乘坐飛機限制攜帶鋰電池，到平時手機鋰電池的養(yǎng)護，鋰電池安全越來越受到人們關注。近日，產(chǎn)品安全測試及認證服務供應商UL發(fā)表鋰電池的安全議題白皮書，針對應用在便攜式電子產(chǎn)品如手機的鋰電池進行安全研究。UL還
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基于Agent技術(shù)的嵌入式智能設備的測試方法
基于Agent技術(shù)的嵌入式智能設備的測試方法
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我國TD-LTE標準在試商用中日趨成熟
“TD-LTD系統(tǒng)目前正在我國的5個城市中試商用，其終端顯現(xiàn)出多制式、多頻段和多業(yè)務的特點。此外TD-LTE已在國際上16個運營商的36個試驗網(wǎng)上得到推廣”。這是工業(yè)和信息化部電信管理局服務質(zhì)量監(jiān)督處沈泳濤處
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布線測試方法及光纖傳輸通道測試
標簽：光纖傳輸通道 SCS計算機網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)化綜合布線系統(tǒng)(StructuredCablingSystem，SCS)是美國貝爾實驗室專家們經(jīng)過多年研究推出的基于星形拓樸結(jié)構(gòu)的模塊系統(tǒng)，也是目前局域網(wǎng)建設首選的系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有實用、靈活、
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中國將在明年內(nèi)完成TD－LTE終端標準的制定
TD-LTE終端相關技術(shù)要求的標準制定工作已經(jīng)啟動，預計將在明年完成。據(jù)了解，此次標準制定由工信部電信研究院牽頭，中國移動(微博)、國家無線電監(jiān)測中心、華為、中興、大唐、重郵信科、展訊、諾基亞、三星等產(chǎn)業(yè)鏈眾
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LED行業(yè)七大常用測試方法詳解
1、高溫高壓及其沖擊測試：針對對象：LED燈具(含LED Driver的成品燈具)參照標準：行業(yè)經(jīng)驗測試方法：1，將5款LED燈具放置在一個室溫為60℃的房間;2，通過調(diào)壓器將LED燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓的1.1倍;3，接
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LED行業(yè)七大常用測試方法詳解
1、高溫高壓及其沖擊測試：針對對象：LED燈具(含LED Driver的成品燈具)參照標準：行業(yè)經(jīng)驗測試方法：1，將5款LED燈具放置在一個室溫為60℃的房間;2，通過調(diào)壓器將LED燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓的1.1倍;3，接
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TD－LTE終端標準制定工作啟動
TD-LTE終端相關技術(shù)要求的標準制定工作已經(jīng)啟動，預計將在明年完成。據(jù)了解，此次標準制定由工信部電信研究院牽頭，中國移動(微博)、國家無線電監(jiān)測中心、華為、中興、大唐、重郵信科、展訊、諾基亞、三星等產(chǎn)業(yè)鏈眾
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TD-LTE終端標準制定工作啟動
日前獲悉，TD-LTE終端相關技術(shù)要求的標準制定工作已經(jīng)啟動，預計將在明年完成。據(jù)了解，此次標準制定由工信部電信研究院牽頭，中國移動、國家無線電監(jiān)測中心、華為、中興、大唐、重郵信科、展訊、諾基亞、三星等產(chǎn)業(yè)
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集成電路電磁干擾EMC測試方法
標簽：電磁干擾 EMC測試一、前言：集成電路產(chǎn)業(yè)是我國高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)的一個重要部分，它帶動了其它產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，集成電路已成為各個行業(yè)中電子、機電設備智能化的核心，起著十分重要的作用。近年來越來越多的電路設
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電磁干擾介紹及電磁兼容設計原理及測試方法
摘要：針對當前嚴峻的電磁環(huán)境，分析了電磁干擾的來源，通過產(chǎn)品開發(fā)流程的分解，融入電磁兼容設計，從原理圖設計、PCB設計、元器件選型、系統(tǒng)布線、系統(tǒng)接地等方面逐步分析，總結(jié)概括電磁兼容設計要點，最后，介紹了
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電磁干擾介紹及電磁兼容設計原理及測試方法
摘要：針對當前嚴峻的電磁環(huán)境，分析了電磁干擾的來源，通過產(chǎn)品開發(fā)流程的分解，融入電磁兼容設計，從原理圖設計、PCB設計、元器件選型、系統(tǒng)布線、系統(tǒng)接地等方面逐步分析，總結(jié)概括電磁兼容設計要點，最后，介紹了
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可以處理6.4Gbps以上數(shù)據(jù)率的創(chuàng)新型串行總線測試方法
在高端運算(先進的微處理器)和消費電子(圖形和游戲芯片組)設備中采用的半導體器件一般通過高速串行總線接口提供高達6.4Gbps的數(shù)據(jù)率，例如PCI Express 和 HyperTransport。根據(jù)2005年的國際半導體發(fā)展路線圖(ITRS)，
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寬帶多媒體網(wǎng)關測試方法研究
0引言近年來，開發(fā)新一代高速信息網(wǎng)絡得到了世界各國的普遍重視，各國都提出了相應的高速網(wǎng)絡研究計劃，如美國自然科學基金會設立了“下一代Internet研究計劃：NGI”,建立了高速網(wǎng)絡試驗床vBNS（Very High
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DFT測試方法之比較
ASIC設計的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發(fā)工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規(guī)則被認為是好做法，但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
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發(fā)光二極管光譜參數(shù)測試方法的研究
1 引言LED(發(fā)光二極管)由于其光強高、功耗低、壽命長、可靠性高、易驅(qū)動、易與IC相銜接等特點,已被廣泛用于交通、商業(yè)廣告和儀器儀表顯示中。而LED的顏色是影響各種顯示效果的一種關鍵因素,決定LED顏色的則是它的波長
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如何提高G652D光纖宏彎損耗測試效率
光纖宏彎損耗測試，在國家標準GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度，可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代替100圈
