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示波器測量基礎
通常，在進行示波器測量時，需要考慮的重要指標有：1、帶寬2、采樣率3、波形捕獲率4、存儲深度5、觸發(fā)6、通道數(shù)7、探頭除以上之外，還有其他一些指標需要考慮：串行總線分析測量與分析顯示質(zhì)量連接和文檔價格與趨勢等
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Keithley技術(shù)文獻：半導體C-V測量基礎
通用測試 電容-電壓（C-V）測試廣泛用于測量半導體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導體器件和工藝進行特征分析，包括雙極結(jié)型
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基于FFT的信號分析和測量基礎
1. 基本信號分析計算 分析信號的基本計算包括：將雙邊功率譜轉(zhuǎn)換為單邊功率譜、調(diào)整頻率精度并繪制頻譜、使用FFT，以及將功率和振幅轉(zhuǎn)換為對數(shù)單位。 功率譜返回一個數(shù)組，包含時域信號的雙邊功
