利用機器學習加快TEM樣品制備
4月20日,賽默飛宣布推出Helios 5 EXL晶片雙束透射電子顯微鏡,旨在滿足半導體廠商隨著規(guī)?;洜I而不斷增加的樣品量以及相應的分析需求。
新一代儀器提升數據可靠性,控制圖像畸變≤1%。
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