摘要:針對32位ARM處理器開發(fā)過程中調(diào)試技術的研究,分析了目前比較流行的基于JTAG的實時調(diào)試技術,介紹了正在發(fā)展的嵌入式調(diào)試標準,并展望期趨勢。 關鍵詞:嵌入式 調(diào)試
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