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基于Verilog的多路相干DDS信號源設(shè)計
摘要：傳統(tǒng)的多路同步信號源常采用單片機搭載多片專用DDS芯片配合實現(xiàn)。該技術(shù)實現(xiàn)復(fù)雜，且在要求各路同步相干可控時難以實現(xiàn)。本文在介紹了DDS原理的基礎(chǔ)上，給出了用Verilog_HDL語言實現(xiàn)相干多路DDS的工作原理、設(shè)
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石英晶體測試系統(tǒng)中DDS信號源設(shè)計
摘要 針對π網(wǎng)絡(luò)石英晶體參數(shù)測試系統(tǒng)，采用以STM32F103ZET6型ARM為MCU控制DDS產(chǎn)生激勵信號。該測試系統(tǒng)相對于傳統(tǒng)的PC機測試系統(tǒng)具有設(shè)備簡單、操作方便，較之普通單片機測試系統(tǒng)又具有資源豐富、運算速度更快等優(yōu)
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ISA總線實現(xiàn)多路同步DDS信號源設(shè)計
ISA總線實現(xiàn)多路同步DDS信號源設(shè)計
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DDS信號源在掃頻測試中的應(yīng)用
電子設(shè)計中經(jīng)常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等，而最常見的就是DUT的幅頻特性。最初，對于DUT的幅頻特性的測試是在固定頻率點上逐點
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DDS信號源的FPGA實現(xiàn)
1 引言 目前直接數(shù)字頻率合成DDS專用器件大多采用先進特定工藝技術(shù)，并具有高性能，多功能，且其內(nèi)部數(shù)字信號抖動小．輸出信號的質(zhì)量高等特點，諸如Qualcomm公司的Q2230、Q2334，Analog Device公司的AD9955、AD
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基于DDS信號源外觸發(fā)功能的多機同步輸出解決方案
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基于ISA總線的多路同步DDS信號源設(shè)計
介紹了一種基于計算機ISA總線、三路同步的DDS信號源的設(shè)計。對信號源與ISA總線的接口關(guān)系以及多路DDS的同步問題進行了討論。測試結(jié)果表明，該信號源的各路DDS具有較好的同步關(guān)系和相位噪聲指標(biāo)。
