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  • 使用低代碼平臺(tái)協(xié)調(diào) IAT、IPA 和 RPA：高級(jí)自動(dòng)化和測(cè)試的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)

    當(dāng)軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)面臨快速交付高質(zhì)量應(yīng)用程序的壓力時(shí)，低代碼平臺(tái)可以為快速發(fā)展的業(yè)務(wù)需求和復(fù)雜的集成提供所需的支持。集成智能自動(dòng)化測(cè)試 (IAT)、智能流程自動(dòng)化 (IPA) 和機(jī)器人流程自動(dòng)化 (RPA) 解決方案可以更輕松地適應(yīng)變化，確保測(cè)試和自動(dòng)化與不斷發(fā)展的應(yīng)用程序和流程保持同步。在低代碼開(kāi)發(fā)環(huán)境中，如圖 1 所示，IAT、IPA 和 RPA 可以減少人工工作量并提高 SDLC 和流程自動(dòng)化中的測(cè)試覆蓋率、準(zhǔn)確性和效率。

  • 數(shù)字化的動(dòng)力——傳感器、計(jì)量學(xué)

    許多數(shù)字化過(guò)程依賴(lài)于越來(lái)越強(qiáng)大的傳感器和其他測(cè)試和測(cè)量技術(shù)收集的數(shù)據(jù)。處理此數(shù)據(jù)時(shí)，它可提供有關(guān)操作環(huán)境的準(zhǔn)確可靠信息。9個(gè)弗勞恩霍夫研究所將于6月25日至27日在紐倫堡的Sensor + Test 2019(5號(hào)展廳248號(hào)展位)上展示他們?cè)趥鞲衅骷夹g(shù)及其在測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域的應(yīng)用研究成果。