設計過程1)功能設計的目的是為電路設計做準備,將系統(tǒng)功能用于系統(tǒng)實現(xiàn),便于按系統(tǒng)、電路、元件的級別做層次式設計。2)邏輯設計的結果是給出滿足功能塊所要求的邏輯關系的邏輯構成。它是用門級電路或功能模塊電路實現(xiàn),用表、布爾公式或特定的語言表示的。
3)電路設計的目的是確定電路結構(元件聯(lián)接關系)和元件特性(元件值、晶體管參數(shù)),以滿足所要求的功能電路的特性,同時考慮電源電壓變動、溫度變動以及制造誤差而引起的性能變化。4)布圖設計直接服務于工藝制造。它根據(jù)邏輯電路圖或電子電路圖決定元件、功能模塊在芯片上的配置,以及它們之間的連線路徑.為節(jié)約芯片面積要進行多種方案比較,直到滿意。5)驗證是借助計算機輔助設計系統(tǒng)對電路功能、邏輯和版圖的設計,以及考慮實際產(chǎn)品可能出現(xiàn)的時延和故障進行分析的過程。在模擬分析基礎上對設計參數(shù)進行修正。為了爭取產(chǎn)品一次投片成功,設計工作的每一階段都要對其結果反復進行比較取優(yōu),以取得最好的設計結果。
設計方式一般可分為全定制設計和半定制設計。前者是按圖所示流程依次完成設計的各個階段,后者是在設計的某個階段利用已有成果,進行的更有效設計。例如對已具有合理的版圖結構、經(jīng)過實際使用證明是實用的模塊電路進行半定制設計,就可節(jié)約布圖或制造時間。標準單元法、門陣列法、可編程邏輯陣列法都是利用模塊化電路進行半定制設計的常用方法。在計算機輔助設計系統(tǒng)中,以單元電路庫、宏單元庫形式開發(fā)的基本單元越豐富,越有利于電路設計。這些庫包括基本門、觸發(fā)器、譯碼器、微處理器核心電路、ROM、RAM以及模擬電路模塊等。通常對庫單元的描述有名稱,功能,布爾表達式,邏輯圖,電路圖,電學參數(shù),版圖外框,輸入、輸出口和版圖結構等。
加工工藝專用集成電路的基本工藝是CMOS,雙極型,BiCMOS等。BiCMOS是一種混合工藝,它具有雙極型和CMOS的雙重特點,便于提高工作速度、降低功耗、提高集成度和實現(xiàn)模數(shù)電路的混合。砷化鎵(GaAs)半導體材料的使用不僅提高了電路的工作速度,而且功耗也小。隨著所需功能越趨復雜,器件尺寸逐漸減小、引腳數(shù)增多,專用集成電路為滿足引線數(shù)、體積、散熱性能,芯片和內(nèi)引線壓焊工藝自動化,器件裝上印制電路板時的便捷程度等方面要求,采用了四邊均有引線的正方形外殼、或并排布置兩行外引線等封裝工藝。對于要求高密度組裝的、耐強烈震動和嚴酷的溫、濕環(huán)境的電子系統(tǒng),已采用芯片載體式封裝和帶式自動鍵合封裝,提高了它們在印制電路板上安裝作業(yè)的自動化程度,減小了體積、降低了重量。專用集成電路也采取多芯片技術,用多種工藝和電路技術分別制備單個芯片,更便于設計、制造和測試多功能的專用集成電路。
測試專用集成電路要求電路設計人員緊密地參與測試,從電路設計的開始就需要考慮產(chǎn)品的測試方案與方法。測試設計是開發(fā)專用集成電路的一項重要設計內(nèi)容。在設計電路時,設計一些附加的自動測試電路,且與所設計的功能電路集成在同一芯片上。芯片加工后,這些附加電路在軟件支持下,自動地完成芯片功能的測試。這種測試方式不受限制地測試內(nèi)部節(jié)點,能與被測電路同步工作,提高測試質(zhì)量,節(jié)省時間。傳統(tǒng)的測試方式仍是專用集成電路生產(chǎn)中使用的一種主要方法,希望將對輸入激勵,輸出響應采樣和測試過程控制在一個自動測試設備上進行,否則難以應付不斷擴大的電路規(guī)模與功能。材料缺陷、加工偏差、工作環(huán)境惡劣,尤其是設計錯誤都會引起電路失效。電路設計人員借助計算機輔助設計系統(tǒng),在電路設計過程中對可能的故障進行模擬,分析故障屬性,檢測并確定故障位置以改進電路設計,并使之在生產(chǎn)過程中就可方便地檢測到這些故障。
半導體工藝技術的發(fā)展和電子設計自動化軟件的開發(fā),給專用集成電路發(fā)展與應用提供了有力支持。80年代末,電路的復雜程度平均為數(shù)萬門,最小線寬為1μm,工作效率約有百兆赫。集成電路正向每片上百萬門,芯片面積增加到1平方英寸,加工線寬達0.2μm的程度發(fā)展。數(shù)字、模擬、或者數(shù)?;旌系膶S眉呻娐芬褟V泛用于各類通信系統(tǒng)、圖像與信號處理領域、高質(zhì)量視聲產(chǎn)品、機電控制、測量電路以及計算機中。在軍事與航空航天部門,專用集成電路更受到特別的重視,許多關鍵的電子系統(tǒng)都已使用自己的產(chǎn)品。隨著新材料、新工藝的出現(xiàn),專用集成電路的應用領域在不斷擴大、延伸。