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[導(dǎo)讀]在5月4日至7日的【第四屆半導(dǎo)體青年學(xué)術(shù)會(huì)議】期間,泰克將集中展示最新測(cè)試方案,為神經(jīng)形態(tài)器件與腦類(lèi)計(jì)算、低維半導(dǎo)體材料測(cè)試、半導(dǎo)體量子器件測(cè)試等前沿研究提供全面領(lǐng)先解決方案。

2023年5月6日,中國(guó)北京——為持續(xù)推進(jìn)我國(guó)半導(dǎo)體與集成電路產(chǎn)業(yè)的前沿探索和核心技術(shù)攻關(guān),探討行業(yè)最新創(chuàng)新進(jìn)展和發(fā)展趨勢(shì),2023中國(guó)電子學(xué)會(huì)【全國(guó)電子信息青年科學(xué)家論壇之第四屆半導(dǎo)體青年學(xué)術(shù)會(huì)議】于2023年5月4日至7日在上海市召開(kāi)。會(huì)議以“半導(dǎo)體前沿技術(shù)與集成電路設(shè)計(jì)”為主題,會(huì)議內(nèi)容包括主論壇、青年學(xué)者沙龍和專(zhuān)題論壇三大板塊,其中專(zhuān)題論壇將圍繞半導(dǎo)體領(lǐng)域十四個(gè)關(guān)鍵研究方向分專(zhuān)題進(jìn)行學(xué)術(shù)交流。

作為一家全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案知名品牌,泰克近年來(lái)與客戶(hù)、合作伙伴聯(lián)手一道解決前沿探索過(guò)程中的種種難題,助力半導(dǎo)體與集成電路行業(yè)的技術(shù)發(fā)展和革新。在【第四屆半導(dǎo)體青年學(xué)術(shù)會(huì)議】期間,泰克將集中展示最新測(cè)試方案,為神經(jīng)形態(tài)器件與腦類(lèi)計(jì)算、低維半導(dǎo)體材料測(cè)試、半導(dǎo)體量子器件測(cè)試等前沿研究提供全面領(lǐng)先解決方案。

為神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測(cè)試提供定制化開(kāi)發(fā)和集成

類(lèi)腦計(jì)算是借鑒神經(jīng)科學(xué)處理信息的基本原理,面向人工智能,發(fā)展新的非馮諾依曼計(jì)算的新技術(shù),類(lèi)腦計(jì)算的基礎(chǔ)是人工神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)。人工神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)是由大量處理單元互聯(lián)組成的非線性、自適應(yīng)信息處理系統(tǒng),它通常是由新型高速非易失存儲(chǔ)器組成的陣列構(gòu)成,新一代高速存儲(chǔ)器包括阻變存儲(chǔ)器、相變存儲(chǔ)器、鐵電存儲(chǔ)器等兩端器件和半浮柵晶體管,電解質(zhì)柵晶體管等三端器件。

神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列維數(shù)越高,拓?fù)湓綇?fù)雜,所需的測(cè)試通道就越多,測(cè)試成本也越高,測(cè)試流程也會(huì)變得更復(fù)雜。最新的研究成果顯示,神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列研究已經(jīng)達(dá)到32x32三端器件節(jié)點(diǎn)組成的陣列,并在短期內(nèi)有向更高的維度發(fā)展的趨勢(shì)。由于神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格昂貴,連接及流程控制復(fù)雜,通常的解決方法是用FPGA搭建測(cè)試裝置,但測(cè)試精度以及權(quán)威性都無(wú)法與由專(zhuān)業(yè)的高精度測(cè)試儀器組成的測(cè)試系統(tǒng)相提并論。

對(duì)適當(dāng)維數(shù)的神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列,如32x32兩端節(jié)點(diǎn)或16x16三端節(jié)點(diǎn)陣列,用高精度測(cè)試儀器搭建測(cè)試系統(tǒng)的價(jià)格還是可以接受的。測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)在于它不僅能夠進(jìn)行功能性測(cè)試,還能以極高的測(cè)試精度完成神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列的訓(xùn)練,深度學(xué)習(xí)等方面的研究探索。

神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列測(cè)試,首先需要根據(jù)被測(cè)節(jié)點(diǎn)的表征參數(shù)選擇合適的測(cè)試儀器,其次還要根據(jù)被測(cè)陣列的芯片管教布局定制探卡,最后要根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目定制軟件,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。泰克憶阻器/神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測(cè)試系統(tǒng)包含單元測(cè)試及陣列測(cè)試兩大類(lèi),每一大類(lèi)又包含不同的配置以滿(mǎn)足不同研究階段的測(cè)試需求。泰克公司中國(guó)研發(fā)中心可以為這一領(lǐng)域的客戶(hù)提供定制開(kāi)發(fā)及系統(tǒng)集成。

泰克神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列測(cè)試系統(tǒng)S500,可以被定制為以下三種配置:

1. 兩端器件陣列通用測(cè)試方案:a.全定制化;b.基于26系列源表;c.最高32x32。

2. 三端器件陣列通用測(cè)試方案:a.全定制化;b.基于26系列源表;c.最高16x16。

3. 極端化表征陣列測(cè)試方案:a.全定制化;b.適用于兩端及三端器件陣列;c.最高8x8;d.基于26系列源表、AWG5208和MSO68B。

應(yīng)對(duì)二維/石墨烯材料及電子器件測(cè)試挑戰(zhàn)

電阻率及霍爾效應(yīng)測(cè)試均是加流測(cè)壓的過(guò)程,需要設(shè)備能輸出電流并且測(cè)試電壓,這意味著同時(shí)需要電流源和電壓表,并且電流源和電壓表精度要高,保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。

電阻率及電子遷移率通常范圍較大,需要電流電壓范圍都很大的設(shè)備。同時(shí),還需與探針臺(tái)配合,測(cè)試設(shè)備需方便連接,需易用的軟件。另外,霍爾效應(yīng)測(cè)試時(shí),通常要準(zhǔn)備霍爾條(Hall Bar)。

電輸運(yùn)測(cè)試方案助力半導(dǎo)體量子器件測(cè)試

除了低電平測(cè)試儀器,通常電輸運(yùn)測(cè)試還要配置SMU作為直流激勵(lì)源。特殊情況下還需要AFG作為交流激勵(lì)源,采集卡或示波器用于采集鎖放輸出信號(hào)。如果測(cè)試介電常數(shù),還需配置靜電計(jì)。高頻輸運(yùn)特性的研究是電輸運(yùn)特性測(cè)試的發(fā)展方向,研究高頻輸運(yùn)特性時(shí),需配置帶寬達(dá)GHz的任意波形發(fā)生器。

單一被測(cè)樣品測(cè)試方案——6221/2182A一套,24XX或26XX一臺(tái),選配(各一臺(tái)):AFG31252、2002八位半數(shù)字萬(wàn)用表、6514或6517或6430(測(cè)試介電常數(shù))。

高頻輸運(yùn)特性測(cè)試方案——高頻輸運(yùn)特性測(cè)試,在一般輸運(yùn)特性配置基礎(chǔ)上,需增配AWG系列任意波形發(fā)生器。泰克提供AWG5200及AWG70000系列任意波形發(fā)生器。

除此之外,泰克還為半導(dǎo)體自旋電子器件與物理測(cè)試、半導(dǎo)體光電子材料與器件測(cè)試、化合物半導(dǎo)體器件與集成測(cè)試、柔性電子器件與應(yīng)用測(cè)試、半導(dǎo)體傳感器與微納機(jī)電系統(tǒng)測(cè)試、集成電路設(shè)計(jì)與EDA測(cè)試、集成芯片與先進(jìn)封裝、半導(dǎo)體邏輯/存儲(chǔ)器件與集成測(cè)試等提供更多半導(dǎo)體測(cè)試解決方案。

關(guān)于泰克科技

泰克公司總部位于美國(guó)俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡(jiǎn)便的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案,解決各種問(wèn)題,釋放洞察力,推動(dòng)創(chuàng)新能力。70多年來(lái),泰克一直走在數(shù)字時(shí)代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請(qǐng)登錄:tek.com.cn

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