MOSFET柵極充電機理是什么?MOSFET柵極驅動電路的振蕩問題解析
本文中,小編將對MOSFET柵極驅動電路予以介紹,如果你想對它的詳細情況有所認識,或者想要增進對它的了解程度,不妨請看以下內(nèi)容哦。
一、MOSFET柵極充電機理
對MOSFET施加電壓時,其柵極開始積累電荷。下圖所示為柵極充電電路和柵極充電波形。將MOSFET連接到電感負載時,它會影響與MOSFET并聯(lián)的二極管中的反向恢復電流以及MOSFET柵極電壓。此處不作解釋。
a、在t0-t1時間段內(nèi),柵極驅動電路通過柵極串聯(lián)電阻器R對柵源電容Cgs和柵漏電容Cgd充電,直到柵極電壓達到其閾值Vth。由于Cgs和Cgd是并聯(lián)充電,因此滿足以下公式。
b、在t1-t2期間,VGS超過Vth,導致漏極中產(chǎn)生電流,最終成為主電流。在此期間,繼續(xù)對Cgs和Cg充電。柵極電壓上升時,漏極電流增大。在 t2,柵極電壓達到米勒電壓,在公式(1)中用 VGS(pl)代替VGS(t2),可計算出VGS(pl).t2。在t0-t1期間,延遲時間t2和R(Cgs+Cgd)成正比。
c、在t2-t3期間,VGS(pl)電壓處的VGS受米勒效應影響保持恒定。柵極電壓保持恒定。在整個主柵電流流過MOSFET時,漏極電壓在t3達到其導通電壓(RDS(ON)×ID)。由于在此期間柵極電壓保持恒定,因此驅動電流流向Cgd而非Cgs。在此期間Cgd(Qdg)中積累的電荷數(shù)等于流向柵電路的電流與電壓下降時間(t3-t2)的乘積:
d、在t3-t4期間,向柵極充電使其達到過飽和狀態(tài)。對Cgs和Cgd充電,直到柵極電壓(VGS)達到柵極供電電壓。由于開通瞬態(tài)已經(jīng)消失,在此期間MOSFET不會出現(xiàn)開關損耗。
二、MOSFET柵極驅動電路的振蕩問題解析
為了使MOS管完全導通,需要盡量提高柵極的驅動電流。那是不是柵極驅動電流越大越好呢,即驅動電路的內(nèi)阻越小越好?
在PCB layout過程中,走線一定會引入寄生電感和極小的等效串聯(lián)電阻,加之MOS管柵極的寄生電容。因此對MOS管柵極的驅動,其實就可以等效成對RLC串聯(lián)電路的驅動。如下圖所示:
輸入5V/1MHz的方波信號Vin,測量到柵極電壓Vgs出現(xiàn)很嚴重的振鈴。這種振蕩帶來的危害可能是致命的,因為此時MOSFET不再只有徹底導通或者徹底關斷兩種狀態(tài),而會反復進入高阻導通狀態(tài)。從而使MOSFET發(fā)熱嚴重,并進而燒毀MOSFET。
那為什么會出現(xiàn)上述的振蕩現(xiàn)象呢?學過二階電路的動態(tài)響應的動作應該就能理解,在RLC串聯(lián)電路中,當R<√(L/C)時,成為欠阻尼狀態(tài),振蕩一定會發(fā)生。 那有了理論武器的指導,解決方法就很簡單了,使得R>=√(L/C)時,即過阻尼狀態(tài)(臨界阻尼實際應用中基本不會出現(xiàn)),振蕩就會消失。 如下圖,在驅動電路中增加一個串聯(lián)電阻(為了方便,直接將等效的寄生10mohm電阻改成10ohm),再觀察MOSFET柵極電壓波形振蕩現(xiàn)象消失。
至此,我們對MOSFET柵極驅動電路的振蕩問題應該有了比較直觀的理解。在實際解決這個問題的時候,我們需要優(yōu)先考慮減小pcb引線電感,即增加走線寬度或減小走線長度。在電感無法減小的時候,才會采用增加一顆外部小電阻的方案。
以上所有內(nèi)容便是小編此次為大家?guī)淼挠嘘PMOSFET柵極驅動電路的所有介紹,如果你想了解更多有關它的內(nèi)容,不妨在我們網(wǎng)站進行探索哦。