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[導讀]為了成本,集成度和性能等指標,采用高速串行數(shù)據(jù)接口,并且減小半導體制造布局是非常有必要的。但這種較小的器件更容易受到較低電壓和電流所造成的靜電損傷。另外,用于高速數(shù)據(jù)線上的低電容ESD保護器件在電容減小的同時,動態(tài)電阻會變大,這會使它們保護系統(tǒng)敏感IC元件的能力變差。

為了成本,集成度和性能等指標,采用高速串行數(shù)據(jù)接口,并且減小半導體制造布局是非常有必要的。但這種較小的器件更容易受到較低電壓和電流所造成的靜電損傷。另外,用于高速數(shù)據(jù)線上的低電容ESD保護器件在電容減小的同時,動態(tài)電阻會變大,這會使它們保護系統(tǒng)敏感IC元件的能力變差。


對于傳統(tǒng)的ESD保護方案,強大的靜電放電保護與良好的信號完整性是一對矛盾。有一些ASIC根本無法在保證信號完整性的同時,有效地進行ESD保護。

數(shù)據(jù)表說明書


系統(tǒng)設(shè)計者通常用器件數(shù)據(jù)表上標注的ESD等級來比較其ESD保護能力。然而這些等級僅僅適用于單獨的ESD器件,而不代表它們所在的工作系統(tǒng)。


一個ESD等級標注為8kV的設(shè)備,可能會使2kV或者更低的系統(tǒng)級測試失敗。有時,一個標注為15kV的器件對系統(tǒng)提供的保護可能還不如一個8kV的器件。大多數(shù)系統(tǒng)設(shè)計者用來比較ESD器件的主要參數(shù)根本無法顯示實際的系統(tǒng)層次的性能。


系統(tǒng)IC常常會因為過電壓、過電流或者同時受到兩者的作用而受損。很多系統(tǒng)設(shè)計者都知道連續(xù)電壓會使IC遭到損傷,卻沒有意識到大電流往往是ESD損傷的真正原因。

圖1 在傳統(tǒng)的ESD保護體系中,靜電放電保護與信號的完整性是一對矛盾


ESD保護器件可以將大部分電流引入地下,并且將作用于ASIC之上的電壓限制在擊穿電壓之內(nèi)。理論上,我們可以通過比較它們的鉗位電壓和剩余電流(未被ESD器件分流的電流),來比較ESD器件的性能。但是,實際情況卻遠不是如此。

鉗位電壓


在實際測試中,廠家所發(fā)布的鉗位電壓是在給器件施加一個上升時間為   8μs,持續(xù)20μs的脈沖的情況下確定的。


大多數(shù)產(chǎn)品數(shù)據(jù)表所示的鉗位電壓都是通過對器件施加1A脈沖確定的,有時也會采用電流強度更高的脈沖。這種脈沖可重復獲得,并易于測量,因此被廣泛采用。但不幸的是,這種脈沖并不等價于ESD脈沖。ESD脈沖只有1ns的上升時間,持續(xù)60ns。除此之外,IEC 61000-4-2第4級電擊中,峰值電流為30A的鉗位電壓和在1A脈沖作用下也有很大區(qū)別。


采用標準1A脈沖,大多數(shù)半導體ESD保護二極管的鉗位電壓一般都會標注在8~15V之間。但在8kV的IEC 61000-4-2標準測試中,這些二極管的峰值鉗位電壓則會達到50~100V,這是由二極管的其他特征,如動態(tài)電阻值所決定的。


有一些ESD制造商還會提供ESD脈沖波形圖,但是這同樣很容易讓人誤解。例如,制造商經(jīng)常采用衰減器來保護測試儀器不受損傷??墒菙?shù)據(jù)表中的波形圖并沒有將衰減器的影響包括在內(nèi),這會使標注的鉗位電壓存在5~10倍的誤差。


雖然不能僅僅通過大多數(shù)數(shù)據(jù)表上提供的鉗位電壓來比較ESD的性能,但是,通過仔細閱讀分析它,我們卻可以了解器件的相對性能。

其他因素


被保護ASIC的鉗位電壓基于幾項因素,包括ESD二極管的擊穿電壓,二極管的動態(tài)電阻以及流過二極管的電流量。雖然數(shù)據(jù)表上標注的鉗位電壓并不準確(通過對其施加8~20μs的脈沖電壓來實現(xiàn),與實際ESD脈沖有很大區(qū)別),但是我們同樣可以恰當?shù)乩盟鼈儊肀容^器件的性能。


在簡化模型中,鉗位電壓會隨著電流線性增加,這個函數(shù)的斜率就是二極管的動態(tài)電阻。
大多數(shù)ESD器件制造商都會提供1A鉗位電壓值,動態(tài)電阻值,或者兩個不同電流強度時的鉗位電壓值。這樣,我們很容易就能計算出器件的動態(tài)電阻。例如,一個器件在1A電流下的鉗位電壓為10V,而在5A電流下鉗位電壓為15V,那它的動態(tài)電阻就等于(15-10)/(5-1)=1.25Ω


動態(tài)電阻值是確定實際鉗位電壓時最重要的因素??紤]兩種器件,一個在1.0A電流強度下具有8V鉗位電壓的器件,一個在1.0A電流強度下具有10V鉗位電壓的器件,哪一個在ESD沖擊中的表現(xiàn)會更好?


8V的鉗制也許看起來會更好,但這或許不是真的。假如B器件(10V鉗位電壓)的動態(tài)電阻僅為1Ω,而8V鉗位電壓器件的動態(tài)電阻達到了2Ω,那么30A的電流下,A器件的鉗位電壓就為8+29×2=66V,而器件B卻為10 + 29×1 = 39 V。這樣B就成為更好的選擇。


通過ASIC的電流大小也與保護電路的動態(tài)電阻有關(guān)。當電路的動態(tài)電阻增加時,被保護器件中的電流也會成比例增加,從而導致ESD損傷的可能性增大。


設(shè)計者應該選擇一種保護器件,使它分流盡可能多的電流,并使通過ASIC的剩余電流盡可能的減小。這個電流會隨著系統(tǒng)的不同而不同,所以不能按數(shù)據(jù)表上的值照搬。不幸的是,很多情況下,ESD保護器件制造商不會為用戶提供直接的動態(tài)電阻值。不過這可以通過幾組鉗位電壓值來估計。


通常,ESD二極管的動態(tài)電阻在1~3Ω之間,而變阻器和干擾抑制器之類的其他器件的動態(tài)電阻則有20~40Ω??梢姡珽SD二極管是靜電放電保護的最好選擇。

傳統(tǒng)的ESD保護措施


圖1所示是發(fā)生擊穿時,傳統(tǒng)的、單級ESD保護器件所起的作用。其中包括:(1)電壓被鉗制在一個較低的水平,以盡量減小ASIC兩端的電壓。(2)保護器件將電流旁路至地面,避開了ASIC元件。(3)ESD電擊結(jié)束后,保護器件將恢復到高阻狀態(tài)。有些器件,比如聚合物,可能需要24小時才能恢復到初始狀態(tài),所以理解這個特性非常重要。


減小ESD保護器件的動態(tài)電阻將會減小ASIC兩端的鉗位電壓,并會減小漏電流。隨著最新的ASIC元件越來越敏感,傳統(tǒng)的ESD保護方案已經(jīng)無法為一些ASIC提供足夠的保護。

新型解決方案


CMD的PicoGuard XP等方案的特點是一種創(chuàng)新的兩級設(shè)計,將兩級ESD保護和電阻串聯(lián),放在同一個封裝內(nèi),以減少到達ASIC的電流。它的工作原理如下:


● 系統(tǒng)從第一級開始鉗制。第一級的漏電流通過串聯(lián)電阻進入系統(tǒng)的第二級。
● 第一級漏電流中的大部分都被第二級從連接到ASIC的通路中分流,與單鉗制保護架構(gòu)相比,這樣做顯著減少了ASIC處的電流。通過這種二級鉗制,同樣也可以減小鉗位電壓。


在一個例子中,采用CM1231,ASIC的鉗位電壓從傳統(tǒng)ESD二極管的6kV以下增加到10kV以上。CM1231是首例采用PicoGuard XP構(gòu)架的器件。

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