8 bit 800 Msps高速采樣保持電路的設(shè)計(jì)
隨著數(shù)字技術(shù)的突飛猛進(jìn),越來(lái)越多的電路系統(tǒng)將A/D轉(zhuǎn)換器作為一個(gè)子模塊集成到系統(tǒng)內(nèi)部。例如在便攜式數(shù)據(jù)傳輸、數(shù)字視頻和圖像處理等應(yīng)用系統(tǒng)中,8~12 bit分辨率的嵌入式A/D轉(zhuǎn)換器就是這些系統(tǒng)中一個(gè)非常重要的組成部分,采樣保持電路(SH)是數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。而A/D轉(zhuǎn)換器是最重要的組成部分之一,其性能直接決定著整個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器的性能。隨著無(wú)線通信的迅速發(fā)展,要求數(shù)據(jù)的傳輸越來(lái)越快,復(fù)雜度不斷提高的調(diào)制系統(tǒng)和電路使A/D轉(zhuǎn)換器的采樣頻率逐漸接近射頻的數(shù)量級(jí)。在這樣高速的要求下,SH的作用就顯得更加的重要,因?yàn)樗梢韵鼳/D轉(zhuǎn)換器前端采樣級(jí)的大部分動(dòng)態(tài)錯(cuò)誤。
本文介紹了一種基于SiGe BiCMOS、開(kāi)環(huán)全差分結(jié)構(gòu)的SH。采樣速率可以達(dá)到800 Msps,采樣精度可以達(dá)到8 bit,能夠適應(yīng)無(wú)線通信領(lǐng)域的要求。
1 電路設(shè)計(jì)
1.1 電路總體結(jié)構(gòu)
SiGe BiCMOS工藝具有高速、低功耗、低成本、高集成度的優(yōu)勢(shì),能夠很好地滿足本設(shè)計(jì)對(duì)SH設(shè)計(jì)指標(biāo)的要求,故設(shè)計(jì)工藝選定為SiGeBiCMOS。
采樣速率和精度要求的不同,決定了采樣電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。盡管閉環(huán)結(jié)構(gòu)的SH可以取得很高的精度,但是這種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的SH頻率響應(yīng)較差。開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu)的SH常用在高頻,為了達(dá)到較高的采樣速率,應(yīng)選擇開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu)。開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu)的SH通常由一個(gè)輸入緩沖器(IB),一個(gè)帶有采樣電容的開(kāi)關(guān)和輸出緩沖器(OB)組成。
考慮SH的采樣精度為8 bit,采樣速率為800Msps性能指標(biāo)的要求,差分結(jié)構(gòu)能保證很好的噪聲性能,最終選擇了如圖1所示的全差分開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu),其中包括輸入緩沖器、采樣開(kāi)關(guān)、采樣電容和輸出緩沖器。采樣開(kāi)關(guān)采用開(kāi)關(guān)射極跟隨器(SEF)結(jié)構(gòu),輸入緩沖器提供反向隔離減少輸入端的開(kāi)關(guān)噪聲,輸出緩沖器用來(lái)驅(qū)動(dòng)ADC。由于電路是全差分結(jié)構(gòu),電路完全對(duì)稱(chēng),為了更清楚地說(shuō)明問(wèn)題,圖2僅給出了單端電路,即整體電路的一半。將兩幅圖2對(duì)稱(chēng)地接成全差分結(jié)構(gòu)即是本設(shè)計(jì)的最終電路。
1.2 電路分析
1.2.1 輸入緩沖器
輸入緩沖器的主要目的是將信號(hào)源與采樣部分分離,該電路的輸入電容一般都比較大。輸入緩沖器不能引入失真,且必須有一定的速度。理想的輸入緩沖器應(yīng)當(dāng)具有大帶寬、低噪聲、高線性度和單位增益等特點(diǎn)。圖2中的Q3、Q4、Q5的結(jié)構(gòu)在采樣時(shí)鐘的控制下能夠?qū)崿F(xiàn)很好的隔離效果;Q1實(shí)現(xiàn)電壓提升的作用。
1.2.2 SEF采樣開(kāi)關(guān)
本設(shè)計(jì)中使用的開(kāi)關(guān)是開(kāi)關(guān)射極跟隨器,SEF既可以在高速度下運(yùn)行,又可以保持很好的線性度。
在圖2中,Q6、Q7、QS、I5是開(kāi)關(guān)的主要部分。采樣模式時(shí),S相對(duì)于H是高電位,開(kāi)關(guān)導(dǎo)通,I5流過(guò)QS和Q7。保持模式時(shí),H相對(duì)于S是高電位,開(kāi)關(guān)關(guān)斷,I5經(jīng)過(guò)Q6,此時(shí)QS的基極電位被拉得很低,所以關(guān)斷。
諧波直接關(guān)系到電路的采樣精度。整個(gè)電路是全差分結(jié)構(gòu),所以只考慮奇次諧波,其中三次諧波是最大的諧波,直接決定SFDR(無(wú)雜波動(dòng)態(tài)范圍),從而決定采樣精度,采樣精度的近似計(jì)算公式如式(1)。ENOB表示有效位
開(kāi)關(guān)部分對(duì)電路的三次諧波影響最大,三次諧波的計(jì)算公式為
式中:VT是熱電壓;I5是圖2中開(kāi)關(guān)的電流;A是輸入信號(hào)的幅度;ic=2πAfinC5,fin是輸入信號(hào)的頻率。
從式(2)中可以看出,要減小三次諧波就要選擇較大的I5、較小的A、fin和CS。但是選擇較大的I5會(huì)增加功耗,引入更大的噪聲;較小的A、fin會(huì)減小輸入信號(hào)的可用范圍,限制采樣頻率(特別是在每周期相干采樣2個(gè)點(diǎn)的最嚴(yán)酷情況下);較小的Cs會(huì)增加噪聲(kT/C)。所以要獲得良好的電路性能就要折中考慮這些因素,同時(shí)還要考慮本文隨后介紹的其他影響。本設(shè)計(jì)中VT=26 mV,A=1 V,fin=387.5 MHz,Cs=450fF,I5=1.46 mA,得HD3≈-54.6 dB,可見(jiàn)理論值與一52.8 dB的實(shí)際值比較接近,電路性能可以滿足要求。
圖2中PM2、Qclp是一種電壓穩(wěn)定結(jié)構(gòu),將在后面介紹。Rs是為了改善輸出電壓的振鈴減小建立時(shí)間而加入的一個(gè)小電阻。
1.2.3 輸出緩沖器
在圖2中,以QOUT形成的射極跟隨器是輸出緩沖器的主體部分,用Q8、Q9、Q10組成單位增益放大器。因?yàn)槟壳暗钠骷紩?huì)有漏電流,所以在輸出緩沖器前有漏電流的存在,在保持模式時(shí)存儲(chǔ)在采樣電容CS上的信號(hào)電壓不恒定。假設(shè)保持模式的持續(xù)時(shí)間為T(mén)、保持模式開(kāi)始時(shí)CS上的電壓為VCs(0)、保持模式結(jié)束時(shí)Cs上的電壓為VCs(T),則
有
式中:ileak為漏電流;Rp為輸出緩沖器的輸入阻抗。
漏電流的存在會(huì)產(chǎn)生偏移誤差和增益誤差,如果漏電流是輸入的非線性函數(shù),將產(chǎn)生失真。但是因?yàn)槭褂昧松錁O跟隨器,所以Rp=rb+βrce,式中β是Vce的非線性函數(shù),所以由下垂率導(dǎo)致的誤差表現(xiàn)為輸入電壓的非線性函數(shù),也就是說(shuō)產(chǎn)生了諧波。為了抑制這種諧波,用Q8、Q9、Q10組成單位增益放大器以增大輸入電阻Rp,減小漏電流。
1.2.4 保持模式饋通(HMF)的改善
在保持模式下,由于信號(hào)通路上晶體管存互寄生電容(圖2中Cbe,Qs),輸入信號(hào)與保持在采樣電容上的信號(hào)之間并非百分之百的隔離,導(dǎo)致被保持在采樣電容Cs上的信號(hào)受到輸入信號(hào)影響,而存在失真。在保持模式下,由于電容Cbe,Qs和Cs非線性的分壓作用,一小部分的信號(hào)出現(xiàn)在輸出端上。因此
式中Av是晶體管Qclp的增益,近似等于1。
HMF是本設(shè)計(jì)中影響最大的誤差,對(duì)噪聲和諧波都有影響。應(yīng)當(dāng)減小饋通的影響,饋通可以通過(guò)增大采樣電容Cs來(lái)減少,但是這種方法會(huì)增加功率耗散,因?yàn)楸仨氃黾与娏鱽?lái)驅(qū)動(dòng)更大的采樣電容Cs。因此,采用了圖2中PM2、Qclp組成的電壓穩(wěn)定結(jié)構(gòu),把采樣電容Cs保持的信號(hào)直接復(fù)制到A點(diǎn),即用Cs保持的信號(hào)本身來(lái)穩(wěn)定A點(diǎn)的電壓。其中PM2起電壓提升作用,用以抵消信號(hào)在Qclp發(fā)射結(jié)上的電壓下降。這一結(jié)構(gòu)能夠消除Cbe,Qs和Cs非線性的分壓作用,非常有效地改善了噪聲和諧波的性能。
2 版圖設(shè)計(jì)
整個(gè)采保電路的版圖采用標(biāo)準(zhǔn)0.35μm兩層多晶三層鋁布線BiCMOS工藝進(jìn)行設(shè)計(jì)。采保電路的采樣速率達(dá)到800 Msps,版圖中引入的寄生電容和電阻的引入對(duì)電路性能影響很大,給版圖設(shè)計(jì)提出了很高的要求。因此,版圖設(shè)計(jì)中應(yīng)重點(diǎn)解決信號(hào)間的串?dāng)_、時(shí)鐘信號(hào)對(duì)模擬信號(hào)的干擾、各種元件的匹配以及連線延遲等對(duì)采樣保持電路性能產(chǎn)生影響的關(guān)鍵問(wèn)題。最終版圖如圖3所示。
3 仿真結(jié)果
本設(shè)計(jì)采用BiCMOS工藝,提供了0.35μm的CMOS和46 GHz fT的SiGe HBT。用Cadence Spectre仿真,電源電壓為3.3 V,功耗為44 mW。為了減小基座誤差,采用兩相非重疊時(shí)鐘,時(shí)鐘擺幅為400 mV,如圖4所示。
圖5是在相干采樣、每周期只采樣2個(gè)點(diǎn)的最嚴(yán)酷情況下的采樣包絡(luò)圖,輸入信號(hào)幅度為1 Vpp,輸入頻率為387.5 MHz,采樣頻率為800 MHz。此時(shí)仿真法得出的SFDR為一52.8 dB,如圖6所示。THD為一50.4 dB。
4 結(jié)語(yǔ)
設(shè)計(jì)了一種基于BiCMOS工藝的高速采樣保持電路,該工藝提供了O.35μm的CMOS和46 GHz fT的SiGe HBT。電路中使用了差分開(kāi)關(guān)射極跟隨器,使電路結(jié)構(gòu)較為簡(jiǎn)單并且可以用于中精度、高速ADC。在Cadence Spectre環(huán)境下進(jìn)行仿真,當(dāng)輸入信號(hào)為387.5 MHz,1 Vpp的正弦波,采樣速率為800Msps時(shí),該采樣保持電路的SFDR達(dá)到一52.8 dB,THD達(dá)到一50.4 dB,對(duì)應(yīng)于8 bit的分辨率;在3.3 V電源電壓下的功耗為44 mW。