X 射線數(shù)字化成像正在為放射診斷學帶來變革。在傳統(tǒng)的 X 射線系統(tǒng)中，每個組件中的信號衰退都會消耗大于 60% 的原始 X 射線信號能量。在系統(tǒng)的每一級，X 射線信號都將衰退一定的量，即使是為應用專門優(yōu)化的獨立組件也不例外。因此，一般僅有少于 40% 的原始圖像信息可用于生成圖像。通過為 X 射線數(shù)字化成像添加數(shù)字檢測器，捕捉到大于 80% 的原始圖像信息并使用各種后處理工具進一步改善畫質(zhì)就成為了可能。X 射線數(shù)字化技術的其它優(yōu)勢包括：減少患者的服藥劑量、通過免除照相沖洗來縮短診斷時間、通過省去照相沖洗藥劑來節(jié)約成本、圖像數(shù)據(jù)處理以增強所關注的區(qū)域并抑制無關信息；可將圖像數(shù)據(jù)與其它源于 RIS/HIS 的患者相關信息相結合；可通過網(wǎng)絡連接向任何地方快速傳輸信息；而且只需最小的空間即可將所需的全部信息存檔。X 射線數(shù)字化技術包含兩種不同的方式：直接轉換和間接轉換。
直接轉換
在直接轉換中，平板硒檢測器直接吸收 X 射線并將其轉換為獨立的像素電荷。在間接轉換中，X 射線信號首先被轉換為光信號，而后被轉換為電荷。平鋪 CCD（充電耦合設備）陣列和計算機體層攝影均采用間接轉換技術。平鋪 CCD 轉換技術采用多個 CCD 元件通過光纖耦合至閃爍體平板。計算機體層攝影通過光激勵平板誘捕電信號，并通過曝光產(chǎn)生圖像數(shù)據(jù)。在兩種方式中，與像素上所見的 X 射線強度成比例的電荷將存儲在薄膜晶體管 (TFT) 的存儲電容中。大量的此類像素均源于平板檢測器 (FDP)。通過讀出電子器件從 FDP 上讀取電荷，并將它轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)。
下面的方框圖展示了通過直接成像以將 FDP 上的電荷轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)所需的讀出電子器件。它具有兩條鏈：采集鏈和偏置鏈。在采集鏈中，其前端為模擬前端，可多路復用不同的 FDP（通道）存儲電容上的電荷并將這些電荷轉換成電壓。偏置鏈通過媒介偏置及門控電路為 TFT 陣列生成偏置電壓。數(shù)字控制及數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)由 FPGA 完成，F(xiàn)PGA 還通過高速接口（串行接口、LVDS、光學接口）對與外部圖像處理單元的高速串行通信進行管理。溫度傳感器、DAC、放大器以及具有高輸入電壓容忍能力的開關穩(wěn)壓器是其它關鍵系統(tǒng)塊。每個塊都必須具有啟動引腳和同步頻率，以避免與采集鏈中的其它塊串擾。FDP 像素數(shù)將決定 ADC 通道的數(shù)量和 ADC 的速度。靜態(tài)或動態(tài)采集同樣決定 ADC 的速度。靜態(tài)采集意味著要在小于 1s 的時間內(nèi)采集單幅圖像，而動態(tài)采集則意味著圖像要以 30Hz 的速度刷新。動態(tài)采集適用于更加細致的心臟血管、熒光檢查或相關應用，它們在通道數(shù)相同的情況下需要更快的數(shù)據(jù)轉換。具有 2MSPS 及更高速度范圍且具有絕佳 DC 性能的 ADC 可以良好地工作。
間接轉換
對于間接轉換，CCD 輸出需要相關雙采樣 (CDS)。信號電平的復位電壓和圖像信號電平將通過模擬前端 (AFE) 轉換成數(shù)字數(shù)據(jù)。AFE 的采樣速度由 CCD 陣列中的像素數(shù)和幀速率決定。此外，AFE 會校正傳感器錯誤，例如暗流校正、偏移電壓和缺陷像素?？删幊淘鲆娣糯笃?(PGA) 的存在與否、PGA 的線性度和可用增益范圍也很重要，具體取決于信號電平。在數(shù)字化過程中，位數(shù)將決定圖像的對比度。通常，需要將初始數(shù)據(jù)數(shù)字化為精確度比最終圖像所需的位數(shù)高 2 至 4 位的數(shù)據(jù)。因此，如果需要 8 位的最終圖像數(shù)據(jù)，則最初應數(shù)字化為 10 位以允許在圖像處理過程中出現(xiàn)舍入誤差。
圖像質(zhì)量的主要衡量指標是“量子檢測效率”(DQE)，它結合了對比度和 SNR（信噪比），采用百分數(shù)表示。對比度越高且噪聲越低，DQE 就越高。對比度是指灰度的階數(shù)，它取決于 ADC 的輸出分辨率；通常，14 位或 16 位比較適合于應用。SNR 所指示的不僅是源自 ADC 的 SNR，而且是系統(tǒng)的 SNR，它受 X 射線劑量、像素尺寸和所有電子組件的影響?？赏ㄟ^增加 X 射線劑量、增加光電二極管間距和降低電噪聲來提高 SNR。增加 X 射線劑量會對患者或操作人員造成傷害。增加光電二極管間距也行不通，因為這樣做會減小空間分辨率。降低源自系統(tǒng)內(nèi)電子器件的噪聲將是主要的挑戰(zhàn)。系統(tǒng)中的總噪聲是：信號鏈上所有噪聲成分的平方根之和（假設這些噪聲成分沒有關聯(lián)）。這意味著包括 ADC、運算放大器和基準在內(nèi)的所有部分都必須具有超低噪聲或重度過濾（如果適用）。溫度穩(wěn)定性是另一個重大挑戰(zhàn)。由功耗造成的內(nèi)部溫度升高可能會偏移灰度級別并使圖像失真，在動態(tài)采集過程中尤其如此。因此，ADC、運算放大器和基準應該具有較高的溫度穩(wěn)定性。
下載文檔
