USB 3.0實(shí)測評(píng)鑒與報(bào)告：快速領(lǐng)略問題癥結(jié)與解決方案

 根據(jù)市調(diào)機(jī)構(gòu)In-Stat年初所公布的報(bào)告指出，USB 3.0的外圍應(yīng)用出貨量在2011年大約為7000萬部，到了2014年將蓬勃發(fā)展并飆破10億部。同時(shí)他們也預(yù)估在2015年時(shí)，筆記本電腦將成為USB 3.0接口的最大載具，屆時(shí)將約有50億個(gè)外圍應(yīng)用可搭載不同形式的USB接口，包含電腦、手機(jī)、主機(jī)外殼、消費(fèi)性電子以及影音多媒體等產(chǎn)品。換言之，隨著消費(fèi)性電子產(chǎn)品的功能特性不斷升級(jí)，市場規(guī)模也隨之起舞與擴(kuò)張，越來越多應(yīng)用都需要高帶寬的傳輸速度來滿足消費(fèi)者的使用情境與體驗(yàn)，而USB 3.0即是目前所提出的最佳解決方案之一。除了數(shù)據(jù)傳輸速度比USB 2.0快上10倍外，更向下兼容目前已廣泛被使用的傳統(tǒng)USB產(chǎn)品，進(jìn)階后的電源管理系統(tǒng)不但能提高80%的供電率以提升充電效能外，更能以低功耗的狀態(tài)執(zhí)行作業(yè)以延長電池的使用時(shí)間。In-Stat更指出，Intel推出的Ivy Bridge處理器將首次內(nèi)建并原生支持USB 3.0功能，再搭配Microsoft新一代操作系統(tǒng)Windows 8的推出，將成為普及USB 3.0的一大動(dòng)力，也意味著USB 3.0未來全面滲透市場的無限可能。

不可否認(rèn)地，USB技術(shù)已然成為鏈接個(gè)人電腦/手機(jī)與外部設(shè)備的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。為了滿足不斷成長的數(shù)據(jù)帶寬傳輸速度與需求，USB-IF在2008年正式公布了USB 3.0的技術(shù)規(guī)格，同時(shí)也帶來新的設(shè)計(jì)/測試的挑戰(zhàn);在經(jīng)過4年時(shí)間的市場探索與技術(shù)磨合，越來越多支持USB3.0產(chǎn)品上市，大家都期許能有更高速、更節(jié)能的USB產(chǎn)品。而為了達(dá)成這項(xiàng)技術(shù)規(guī)格的質(zhì)量穩(wěn)定與效能保障，從促進(jìn)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)化入手，建立一套完整的測試解決方案絕對(duì)是各家廠商在驗(yàn)證或推出USB 3.0應(yīng)用產(chǎn)品的必經(jīng)之路。因此，百佳泰特別針對(duì)在實(shí)際驗(yàn)證USB 3.0兼容性測試時(shí)，比較常遇到的問題跟分析做一些分享，希望可以提供廠商在開發(fā)產(chǎn)品時(shí)一個(gè)參考準(zhǔn)則。

USB 3.0的兼容性測試主要分為兩個(gè)類別，裝置端(device)與主機(jī)端(host)。在裝置端的部分，必須通過「互操作性測試」(xHCI Interoperability test)的檢驗(yàn)，其主要是針對(duì)所有USB 3.0的產(chǎn)品架構(gòu)所作的裝置互操作性測試，讓各種USB 3.0產(chǎn)品能與其他裝置有效地互通并協(xié)同運(yùn)作，不會(huì)因?yàn)檐洝⒂布姹镜牟煌?。在主機(jī)端部分，除了作互操作性測試外，還得進(jìn)行另一項(xiàng)名為「向后兼容測試」(xHCI Backwards compatibility test)的驗(yàn)證，其測試標(biāo)的除了整個(gè)USB產(chǎn)品架構(gòu)外，xHCI controller還必須與現(xiàn)不同的USB產(chǎn)品(known good device)作測試，以確保不同的USB產(chǎn)品在這個(gè)主機(jī)端上能夠正常的運(yùn)作。我們可以發(fā)現(xiàn)，USB 3.0的推出除了代表速度與效能的技術(shù)提升外，為了確保與前代技術(shù)與裝置的兼容性，類似的互操作性與向后兼容測試勢必非常重要，才能讓原本的USB技術(shù)維持零落差的技術(shù)條件與使用情境。與USB 2.0測試不同的是，某些測試上的問題肇因是單單發(fā)生在USB 3.0測試當(dāng)中，這也意味著即使USB 2.0已高普及化，但在實(shí)際驗(yàn)證USB 3.0時(shí)還是會(huì)遇到許多新的難題，值得廠商與我們?nèi)ヒ灰豢朔鸵呻y解答。

問題分享一：最低SSC延展幅度不符合規(guī)范(±300 PPM)。

在Electrical Test的部分，由于USB 3.0的傳輸速率高于USB 2.0有十倍之多， EMI(Electromagnetic interference)的影響也相對(duì)嚴(yán)重;因此，在USB 3.0的規(guī)范中加入了SSC(Space Spectrum Clock)技術(shù)規(guī)范，其目的即是透過SSC來降低EMI所帶來的效應(yīng)，以確保USB 3.0的訊號(hào)質(zhì)量不會(huì)受到影響。在USB 2.0時(shí)期，由于屬較低的傳輸速率，受到EMI的干擾也較輕，因而未將SSC技術(shù)納入規(guī)范;然而，隨著USB 3.0的高速傳輸能力上升，間接地越容易受到EMI的干擾。因此，在USB 3.0的測試規(guī)范中，也特別去測試其SSC此技術(shù)來驗(yàn)證電子訊號(hào)的質(zhì)量。

根據(jù)SSC技術(shù)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)指出，其量測出的triangle訊號(hào)圖，其上下展幅為: ±300 ppm(Min);-3700 ~ -5300 ppm(Max)。我們可以從圖一的案例發(fā)現(xiàn)，其最低的展幅為333 ppm，并不在正常規(guī)范內(nèi)。緊接著，我們著手進(jìn)行疑難解答的動(dòng)作，發(fā)現(xiàn)在這個(gè)情境中的問題肇因即為不正確的負(fù)載電容振蕩電路的輸出頻率偏移，進(jìn)而造成SSC展幅偏移。因此，透過改變負(fù)載電容來調(diào)整輸出頻率，從16pF調(diào)成20pF(表一)，其最低的展頻幅度為204 ppm(圖二)，已符合SSC技術(shù)規(guī)范要求。換言之，其問題肇因即是晶體振蕩電路的電容負(fù)載值。

問題分享二：LFPS低頻周期信號(hào)的振幅不符合規(guī)范(800 mV<= X <=1.200mV)。

在驗(yàn)證USB 3.0的過程中，另一項(xiàng)重要的測試LFPS(Low Frequency Periodic Signaling)信號(hào)，目的為驗(yàn)證LFPS在經(jīng)過一定的傳輸信號(hào)長度后，其衰減值是否仍在規(guī)范之內(nèi)，以確保USB 3.0的傳輸速度與質(zhì)量。

首先，根據(jù)USB 3.0的規(guī)范指出，其LFPS差分訊號(hào)的正常范圍應(yīng)屬800 mV至1200mV之間。在測試我們選用的USB3.0產(chǎn)品時(shí)發(fā)現(xiàn)，其差分訊號(hào)測得604.4mV，并不符合協(xié)會(huì)規(guī)范。因此，我們從訊號(hào)的衰減因素著手進(jìn)行解決方案，發(fā)現(xiàn)原因是由訊號(hào)復(fù)元組件也就是Repeater(Redriver)所造成，現(xiàn)今許多裝置為了方便消費(fèi)者使用，外嵌許多USB接口，但不是每個(gè)接口都直接建置在主機(jī)版上，為了讓更多的USB接口可以延伸到各個(gè)位置，需要透過額外加的Cable來延長，這時(shí)訊號(hào)的傳遞就可能受到Chip與接口傳輸距離過長造成訊號(hào)質(zhì)量嚴(yán)重衰減。此時(shí)透過Repeater可讓原始訊號(hào)在經(jīng)過延長后的傳輸距離后作一個(gè)重整與還原的動(dòng)作，使訊號(hào)維持一定的強(qiáng)度。但Repeater的參數(shù)(EX: Gain)若調(diào)整不正確，將會(huì)造成錯(cuò)誤的行為及振幅，而在我們重新更換過Repeater之后，立即發(fā)現(xiàn)如圖四的結(jié)果，其差分訊號(hào)下降至1080.4mV并符合協(xié)會(huì)規(guī)范。

這項(xiàng)問題肇因即可說明，如果USB 3.0主機(jī)芯片和連接器之間的距離太長，就會(huì)出現(xiàn)訊號(hào)幅度明顯衰減的狀況。若為了改善此情況而加入Repeater，其參數(shù)必須調(diào)整至一個(gè)最適當(dāng)?shù)闹?。Repeater所重整還原出來的訊號(hào)不一定符合系統(tǒng)或規(guī)范要求，有時(shí)候訊號(hào)經(jīng)過Repeater的重整還原之后，雖然訊號(hào)強(qiáng)度得到了補(bǔ)償;但因參數(shù)調(diào)整不正確，使其訊號(hào)振幅過大超出規(guī)范，所以Repeater的使用需要經(jīng)過精密的設(shè)定與驗(yàn)證，才能得到最正線的傳輸訊號(hào)的穩(wěn)定質(zhì)量。

問題分享三：從hybrid sleep恢復(fù)后，系統(tǒng)會(huì)發(fā)生重置動(dòng)作或USB裝置無法續(xù)傳。

不同于前兩項(xiàng)屬于electrical或硬件端的問題，我們觀察到也有因?yàn)檐浖O(shè)定而導(dǎo)致測試失敗。這次我們用USB協(xié)會(huì)定義使用的三項(xiàng)USB產(chǎn)品(known good device)來作主機(jī)軟件端的兼容性測試時(shí)發(fā)現(xiàn)，其中一項(xiàng)產(chǎn)品在從睡眠模式(hybrid sleep)中恢復(fù)后，會(huì)產(chǎn)生系統(tǒng)reset或USB傳輸中斷的狀況。根據(jù)協(xié)會(huì)規(guī)范，當(dāng)USB正在傳輸檔案時(shí)，即使進(jìn)入睡眠模式后再重新啟動(dòng)，應(yīng)要做續(xù)傳的動(dòng)作，如果發(fā)生停止或reset的狀況即為測試失敗。

因此，我們從這個(gè)問題肇因可以發(fā)現(xiàn)USB傳輸效能與系統(tǒng)供電的關(guān)聯(lián)性。其他兩項(xiàng)USB產(chǎn)品皆是屬于Self -Power的產(chǎn)品，因此在系統(tǒng)進(jìn)入hybrid sleep后在重新復(fù)蘇啟動(dòng)OS時(shí)，由于產(chǎn)品自我供電的特性，使產(chǎn)品不會(huì)因?yàn)樗B接的Host中斷V_BUS供電而在回到操作系統(tǒng)時(shí)做reset的動(dòng)作，使原本的傳輸中斷。反之，在這個(gè)測試出現(xiàn)失敗的產(chǎn)品中，因?yàn)槭菍貰us-Power產(chǎn)品，其供電接來自于所連接的Host，因此從hybrid sleep蘇醒時(shí)，其產(chǎn)品會(huì)因Host供應(yīng)的V_BUS不足(或中斷)導(dǎo)致來不及在回到操作系統(tǒng)前完成resume的動(dòng)作，造成reset或中斷傳輸?shù)膭?dòng)作?；旧?，我們推測其為產(chǎn)品BIOS的問題，因此在我們更換過產(chǎn)品的BIOS后，即可解決此供電狀況的問題(如圖五和圖六)。特別的是，我們發(fā)現(xiàn)現(xiàn)今許多USB產(chǎn)品為了主打省電的功能，各家的BIOS都不盡相同;但為符合協(xié)會(huì)規(guī)范，其最低要求是系統(tǒng)從hybrid sleep的狀態(tài)恢復(fù)時(shí)，至少要能來得及反應(yīng)并啟動(dòng)OS，才不會(huì)造成其他裝置動(dòng)作出現(xiàn)中斷或系統(tǒng)發(fā)生reset的情況。

問題分析四：USB 3.0兼容性測試時(shí)最常遇到的問題之一，韌體不兼容造成藍(lán)屏(BOSD，Blue Screen of Death)狀況。

在了解整個(gè)問題肇因前，我們得先知道在作USB 3.0測試時(shí)，必須手動(dòng)開啟「Driver Verifier」此指令，目的為讓這個(gè)指令去監(jiān)視所有g(shù)old tree上裝置的運(yùn)作狀態(tài)，這也是協(xié)會(huì)規(guī)范所指定的動(dòng)作之一。再者，我們?cè)谧鱑SB 3.0兼容性測試時(shí)，只要出現(xiàn)藍(lán)屏(BSOD)便會(huì)判定為測試失敗。根據(jù)上述，這個(gè)階段的問題肇因即是發(fā)生在當(dāng)待測物裝置在某廠商芯片組的USB 3.0筆記本電腦上時(shí)，接著我們?cè)僮髡麄€(gè)gold tree的兼容性測試時(shí)，會(huì)不定時(shí)的發(fā)生藍(lán)屏狀況。為了解決此問題，我們發(fā)現(xiàn)在開啟Driver Verifier后會(huì)有一個(gè)預(yù)設(shè)旗標(biāo)值(flags)，其默認(rèn)值為「0x7F」，這會(huì)讓USB裝置上的driver與系統(tǒng)controller driver產(chǎn)生沖突情形，因此造成藍(lán)屏的現(xiàn)象。而根據(jù)與USB協(xié)會(huì)及AMD討論出來的解決方式，即是把旗標(biāo)職從「0x7F」改成「0x9ab」，藍(lán)屏問題集獲得改善。

一般來說，獲得越多環(huán)境資源的driver理當(dāng)能正常運(yùn)作，因此建構(gòu)這個(gè)最低需求環(huán)境的Driver Verifier指令，為的就是讓gold tree上所有的device 及controller driver最嚴(yán)苛的環(huán)境之下，還能夠正常的運(yùn)作。相反地，如果driver在這個(gè)環(huán)境條件下測試會(huì)造成藍(lán)屏，就代表這個(gè)裝置不符合規(guī)范;能通過這個(gè)最低資源、環(huán)境條件的測試，才能確保各產(chǎn)品兼容的完整性。