可加快LTE/WiMAX設備開發(fā)的數(shù)字無線測試方案

DigRF V4是移動基帶和射頻芯片之間的一種高速數(shù)字串行總線，也是LTE和WiMAX的關鍵技術。隨著基帶芯片和射頻芯片之間的通信鏈路從模擬向高速串行數(shù)字技術演變，DigRF標準對移動無線系統(tǒng)的開發(fā)、集成和驗證提出了哪些新的挑戰(zhàn)呢?為加快LTE和WiMAX設備的開發(fā)，應該選擇什么樣的測試解決方案呢?本文針對這些問題給出答案。

由移動行業(yè)處理器接口(MIPI)聯(lián)盟開發(fā)而成DigRF V4，是移動基帶和射頻芯片之間的一種高速數(shù)字串行總線，也是LTE和WiMAX的關鍵技術。隨著基帶芯片和射頻芯片之間的通信鏈路從模擬向高速串行數(shù)字技術演變，DigRF標準對移動無線系統(tǒng)的開發(fā)、集成和驗證提出了一些新的挑戰(zhàn)。

其中一個主要的挑戰(zhàn)是在測試時并非所有的組件都已經(jīng)完成或者可用。例如，射頻芯片必須在沒有基帶芯片的情況下進行測試，而基帶芯片也必須在沒有射頻芯片的情況下進行測試。為重現(xiàn)系統(tǒng)問題或進行回歸測試，通常需要創(chuàng)建可能很難用真實設備重新的通信狀態(tài)。

數(shù)字I/Q數(shù)據(jù)和控制信息通過DigRF接口在基帶芯片和射頻芯片之間進行封包和傳輸。傳統(tǒng)上，工程師采用頻譜分析儀對基帶芯片和射頻芯片之間的模擬I/Q數(shù)據(jù)進行調(diào)制測量，但在DigRF數(shù)字串行接口上執(zhí)行類似測量則需要新的工具。

為在開始手機集成之前驗證射頻芯片的工作狀態(tài)，射頻開發(fā)團隊需要能與傳統(tǒng)RF工具協(xié)同工作的DigRF數(shù)字串行信號源和分析工具?；鶐酒炞C團隊面臨也同樣的挑戰(zhàn)，因為DigRF數(shù)字串行信號源和分析工具必須替代信號源和頻譜分析儀來驗證基帶芯片的功能性。在手機集成階段，DigRF標準帶來的一個挑戰(zhàn)是必須找到可能存在數(shù)字域或射頻域中的互操作性問題的根源。

安捷倫(Agilent)的測試解決方案支持工程師在所選的域(數(shù)字域或射頻域)和抽象層(物理層或協(xié)議層)中進行測試，以快速表征射頻芯片 ，解決交叉域集成問題。Agilent數(shù)字無線測試解決方案將DigRF V4激勵和協(xié)議分析工具集成到了安捷倫最暢銷的數(shù)字、射頻和無線儀器中。Agilent RDX N5344A和N5345A DigRF測試解決方案提供協(xié)議調(diào)試功能，為射頻芯片、基帶芯片和集成團隊提供綜合的交叉域測試。交叉域測試可提供從單個數(shù)字比特到 IQ 調(diào)制射頻信號的全新分析能力。

Agilent E5345A 和 E5346A 有源探測解決方案具有超低電容負載(小于0.15pF)和高靈敏度，能夠在DigRF V4測試中以千兆位速度對系統(tǒng)進行深入分析，而且干擾最小。設計工程師可以選擇采用軟接觸技術的新型Agilent N5345A中間總線探頭來快速探測原型電路板，也可選擇B5346A飛線探測解決方案在空間有限的設計中輕松監(jiān)測 DigRF V4鏈路。

測試軟件環(huán)境包括協(xié)議生成和分析功能，并能與Agilent Signal Studio軟件和89600矢量信分析軟件實現(xiàn)互通。該軟件支持DigRF試驗器和分析模塊，以及信號分析儀和信號源。通過使用這款熟悉的矢量信號生成和分析軟件，射頻工程師可以極大地節(jié)省測試時間。