低電壓下的試驗
低電壓下測量空載損耗,在制造和運(yùn)行部門主要用于鐵芯裝配過程中的檢查,以及事故和大修后的檢查試驗。主要目的是:檢查繞組有無金屬性匝間短路;并聯(lián)支路的匝數(shù)是否相同;線圈和分接開關(guān)的接線有無錯誤;磁路中鐵芯片間絕緣不良等缺陷。試驗時所加電壓,通常選擇在5%~10%額定電壓范圍內(nèi)。低電壓下的空載試驗,必須計及儀表損耗對測量結(jié)果的影響,而且測得數(shù)據(jù)主要用于相互比較,換算到額定電壓時誤差較大,可按照下式換算
P0=P1(UN/ U1)n(6-4)
式中U1——試驗時所加電壓;Un——繞組額定電壓;
P1——電壓為 U’時測得的空載損耗;P0——相當(dāng)于額定電壓下的空載損耗;
n——指數(shù),數(shù)值決定于鐵芯硅鋼片種類,熱軋的取1.8,冷軋的取1.9~2。
對于一般配電變壓器或容量在3200kVA以下的電力變壓器,對值可由圖6-4查出。
圖6-4對應(yīng)于不同的U1/ UN時的n值