測(cè)試系統(tǒng)的不二之選:系統(tǒng)源測(cè)量單元
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源測(cè)量單元(SMU)是一種精密的儀器,可同時(shí)對(duì)同一通道的電流和電壓進(jìn)行同步源測(cè)量。 該功能使得SMU成為從精準(zhǔn)直流電源到分析分立元件或集成電路等半導(dǎo)體組件的特性等各種應(yīng)用的理想之選。
某些SMU針對(duì)特定的應(yīng)用或者需求作了優(yōu)化,例如泄露測(cè)試、大功率IV掃描、為具有快速瞬態(tài)響應(yīng)的移動(dòng)設(shè)備供電。 這些儀器完美地提供了某一特定的功能,但是您可能需要多個(gè)這樣的SMU來(lái)完全分析需要各種不同激勵(lì)或功能的設(shè)備的特性。 或者,您也可以選擇系統(tǒng)SMU,它將高功率、高精度、高速源測(cè)量功能集成到單個(gè)儀器上, 使您能夠執(zhí)行各種不同的功能以及通過(guò)同一針腳進(jìn)行各種不同的設(shè)備測(cè)試。 這不僅簡(jiǎn)化了連接,而且減少了使用儀器的種類(lèi)和數(shù)量,降低了測(cè)試系統(tǒng)的占地空間和總體成本。
NI SMU將傳統(tǒng)的臺(tái)式SMU的高功率和精確度以及NI技術(shù)集于一身,具有更快速、更靈活、更小巧的特性。 這種結(jié)合使得這些儀器不僅能夠?qū)崿F(xiàn)傳統(tǒng)SMU之外的功能,而且變成一款多功能的儀器,可用作為:
- 精密電源
- 快速瞬變電源
- 電壓表、電流表或歐姆表
- 隔離高壓/電流數(shù)字化儀
- 高電壓/電流序列發(fā)生器
- 脈沖發(fā)生器
- 可編程負(fù)載
將這些功能集成到單個(gè)儀器使得成為測(cè)試各種不同設(shè)備的理想之選,這些設(shè)備可能包含以下需求:
- 高功率輸入輸出,同時(shí)具有高速采樣功能,例如電源管理集成電路(PMIC)
- 高速瞬態(tài)響應(yīng),例如射頻電源放大器
- 精準(zhǔn)測(cè)量及大功率脈沖掃頻,例如功率晶體管和高亮度LED
- 通過(guò)同一引腳進(jìn)行精準(zhǔn)IV和低頻電容測(cè)量,例如微型機(jī)電系統(tǒng)設(shè)備(MEM)
基于NI SMU的模塊化特性和緊湊的尺寸,您可以將幾個(gè)SMU集成到混合信號(hào)自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用中,或者借助單個(gè)4U PXI機(jī)箱中的17個(gè)SMU通道來(lái)搭建高密度半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。
2. NI系統(tǒng)SMU的技術(shù)細(xì)節(jié)NI系統(tǒng)SMU所具有的寬功率范圍、高測(cè)量精度可以滿(mǎn)足大部分直流測(cè)試需求。 此外,NI SMU擴(kuò)展了傳統(tǒng)SMU的功能,實(shí)現(xiàn)了快速采樣、快速更新以及基于NI技術(shù)的SMU響應(yīng)自定義化。 這使得SMU能夠用于各種不同的應(yīng)用,而此前則需要連接各種外部?jī)x器,如示波器、函數(shù)發(fā)生器或高度專(zhuān)業(yè)化的電源。
規(guī)格
更寬范圍的脈沖
NI SMU可以產(chǎn)生高至500 W的脈沖,這使您可以快速測(cè)試大功率設(shè)備的IV特性而無(wú)需串聯(lián)多個(gè)源測(cè)量單元。 在更寬的脈沖范圍下進(jìn)行測(cè)試不僅可以使SMU在其常規(guī)的IV范圍之外運(yùn)行,而且可以最小化待測(cè)設(shè)備(DUT)的散熱量,減少對(duì)熱管理設(shè)備的需求。
SourceAdapt技術(shù)
NI SMU采用了新一代SourceAdapt技術(shù),使您可以自定義SMU的控制循環(huán),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)任意給定負(fù)載的最優(yōu)響應(yīng)——即使是高電容或者電感負(fù)載。 消除過(guò)壓不僅保護(hù)了待測(cè)設(shè)備,而且也消除了振蕩引發(fā)的系統(tǒng)穩(wěn)定性問(wèn)題。 此外,上升和下降時(shí)間的最小化也可幫助您最大程度縮短測(cè)試時(shí)間。
這個(gè)功能對(duì)高電容負(fù)載特別重要,因?yàn)樗梢员苊鈸p壞待測(cè)設(shè)備或者儀器。 傳統(tǒng)的SMU使用固定的模擬控制循環(huán),通過(guò)從“常態(tài)”跳轉(zhuǎn)到“高電容”模式來(lái)防止源測(cè)量單元陷入不穩(wěn)定狀態(tài)。 但是,在高電容模式運(yùn)行時(shí),SMU的上升時(shí)間被極大地限制了,而且電容負(fù)載通常被限制在50 uF。 由于SourceAdapt技術(shù)可讓您直接訪(fǎng)問(wèn)SMU的數(shù)字控制循環(huán),您可以?xún)?yōu)化任意負(fù)載的源測(cè)量單元響應(yīng),即使是針對(duì)2,500 uF的電容器,如下圖所示。
如上圖所示,SMU為一個(gè)電容2,500 uF和電阻2Ω的待測(cè)設(shè)備提供了源電壓。 電壓上升到3.3 V且電流達(dá)到極值10 A后大約停留了1 ms。如果不采用SourceAdapt技術(shù),在這種無(wú)功負(fù)載狀態(tài)下,傳統(tǒng)的SMU可能會(huì)變得不穩(wěn)定,并且有可能會(huì)損壞待測(cè)設(shè)備或儀器。
3. 應(yīng)用示例——DC-DC轉(zhuǎn)換器測(cè)試測(cè)試PMIC,如下圖所示的德州儀器公司的降壓轉(zhuǎn)換器,需要配置兩個(gè)SMU。 第一個(gè)SMU為待測(cè)設(shè)備提供了特定電壓的輸入電源。第二個(gè)SMU通過(guò)增量掃描電流充當(dāng)負(fù)載。
通過(guò)測(cè)量DUT輸入輸出端的電壓電流,就可以計(jì)算出DC-DC轉(zhuǎn)換器的功率效率,如下圖所示。 NI PXIe-4139提供了寬IV范圍和硬件定時(shí)的序列引擎,使其成為從低功率到高功率快速掃描的理想選擇。
此外,NI PXIe-4139的快速采樣率使您可以捕獲線(xiàn)路和負(fù)載的瞬態(tài)變化,而使用傳統(tǒng)儀器則需要連接一個(gè)外部示波器。 這一瞬態(tài)行為對(duì)于分析DC分量以及傳統(tǒng)SMU無(wú)法測(cè)量的參數(shù)的特性至關(guān)重要。
4. 應(yīng)用示例——LED特性分析上圖所示的LED來(lái)自于CREE公司,具有一個(gè)典型的37 V正向電壓,最高電流達(dá)2.5 A。即使這些數(shù)值超過(guò)了NI PXIe-4139的20 W直流上限,您仍然可以通過(guò)擴(kuò)展的脈沖范圍來(lái)分析該設(shè)備的特性。 脈沖使您不僅只需使用一個(gè)SMU就可分析LED的特性,還可最小化通過(guò)測(cè)試設(shè)備消散的熱量,避免需要?jiǎng)?chuàng)建自定義散熱器。
上圖通過(guò)使用一組50 us脈沖并使電流逐漸增大到最大值來(lái)顯示大功率LED的IV特性。 使用50 us的窄脈沖寬度不僅可以最小化LED的自熱影響,而且還可以減少總體測(cè)試時(shí)間。 如果沒(méi)有NI SourceAdapt技術(shù),精準(zhǔn)地創(chuàng)建窄脈沖是不可能的,該技術(shù)優(yōu)化了SMU對(duì)特定待測(cè)設(shè)備的響應(yīng),并可提供最快的上升時(shí)間,且無(wú)過(guò)壓或振蕩現(xiàn)象。
5. SMU助力您的下一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)NI系統(tǒng)SMU在體積小巧的PXI組成結(jié)構(gòu)中提供高達(dá)500 W的脈沖電源,同時(shí)也提供了高達(dá)100 fA的電流敏感度。 這些儀器不僅提供了卓越的直流性能,而且也通過(guò)增加內(nèi)置數(shù)字化儀和可自定義的SMU響應(yīng)克服了傳統(tǒng)儀器的種種局限性。 此外,NI系統(tǒng)SMU還提供了前所未有的通道密度,將多達(dá)17個(gè)系統(tǒng)SMU通道封裝在一個(gè)19英寸4U的機(jī)架空間中。 功率、精度、速度和高通道密度的結(jié)合造就了NI系統(tǒng)SMU,您下一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)不可或缺的選擇!