下面簡單介紹一下Conducted spurious emissions when transmitting(處于發(fā)射狀態(tài)的傳導雜散)的測試。
測試意圖:在EUT工作的狀態(tài)下,通過EUT上的天線連接器使用傳導方式連接到測試系統(tǒng)上,檢測EUT處于發(fā)射時的雜散信號。
測試搭建簡圖:
測試方法:
1)用射頻線按上圖進行功分器(POWER SPLITTER)的連接,并使用信號源和頻譜儀(Spectrum Analyzer)測量5515C到EUT和EUT到頻譜儀這兩條路徑的損耗,然后記錄損耗值。
2)測量完損耗后按照簡圖將EUT與E5515C、頻譜儀連接到功分器,把功分器衰減較大的一端接到頻譜儀上。
3)在E5515C上調整信道號和路徑損耗的補償,然后按照下列表格中的參數(shù)設置E5515C。
4)EUT與E5515C之間建立呼叫連接,然后將E5515C參數(shù)調到all up bits的功率控制模式,使EUT以最大功率輸出。
5)在頻譜儀上設置好路徑損耗的補償,然后按照以下表格根據(jù)頻率分段測試傳導雜散,所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標準規(guī)定的限值,并記錄測得的數(shù)據(jù)。
6)然后按照以下表格重新設置E5515C的參數(shù)。
7)EUT與E5515C重新建立呼叫連接,把E5515C參數(shù)設置為0和1交替的功率控制模式。
8)按照以下表格重新設置頻譜儀,根據(jù)頻率分段測試傳導雜散,所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標準規(guī)定的限值,并記錄測得的數(shù)據(jù)。
以上是對CDMA終端傳導雜散測試的簡單介紹, 此后我們將分批分期的對其它涉及CDMA部分的射頻測試進行一一闡述, 敬請關注。