覆層測(cè)厚儀的測(cè)量精度影響因素

使用覆層測(cè)厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)厚過(guò)程，不僅要了解清楚測(cè)厚的基材是什么是否適用，或使用的測(cè)厚儀的測(cè)厚范圍是多少及其他的儀器參數(shù)，能否用在實(shí)驗(yàn)的要求上，而且還要清楚的在使用測(cè)厚儀過(guò)程中哪些因素影響了測(cè)厚儀的測(cè)量精度，既然使用覆層測(cè)厚儀對(duì)物體測(cè)厚，那么試驗(yàn)結(jié)果精度固然是一個(gè)不可忽視甚至是非常重要的一點(diǎn)。根據(jù)南北潮商城的資料顯示，覆層測(cè)厚儀的測(cè)量精度主要受邊界間距、基體金屬最小厚度、表面粗糙度和表面清潔度、探頭測(cè)量時(shí)的作用力、外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁和覆層材料中的鐵磁成分和導(dǎo)電成分等因素影響。具體分析如下：邊界間距當(dāng)探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其它截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測(cè)量誤差。當(dāng)必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度，必須預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能測(cè)量。基體金屬最小厚度被測(cè)物體的基體一定要給出一個(gè)既定的厚度最小值，能夠讓探頭的電磁場(chǎng)全部包裹在被測(cè)物體的金屬中，這里給出的既定厚度最小值和被測(cè)物體的性質(zhì)相關(guān)，在這個(gè)給出的厚度上開(kāi)展檢測(cè)，不用再修整所測(cè)量的結(jié)果。如果基體的厚度達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)，所檢測(cè)到的數(shù)據(jù)就不是最精準(zhǔn)的，這種情況就需要使用同材質(zhì)的物體緊貼在被檢測(cè)物體上。表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測(cè)量值越不可靠?；w金屬和覆蓋層的表面粗糙度越大，影響越大。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些"飛點(diǎn)"。探頭測(cè)量時(shí)的作用力探頭進(jìn)行檢測(cè)時(shí)所使用的力應(yīng)該是一成不變的，改變力應(yīng)該最小化，這樣軟的覆蓋層才不會(huì)出現(xiàn)變形的情況，導(dǎo)致檢測(cè)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。在需要時(shí)，可以在探頭以及被檢測(cè)物體之間夾一層具有相當(dāng)厚度絕緣的硬性薄膜，在檢測(cè)結(jié)果中減掉薄膜的厚度就能夠得到想要的結(jié)果。外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁覆層測(cè)厚儀測(cè)量應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近開(kāi)展。因?yàn)楦鶕?jù)檢測(cè)器的性能殘存的剩磁可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差，但是如果是結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份如果覆層使用的材料是某一種顏料的情況下，在覆層材料中含有一些鐵磁元素，這會(huì)對(duì)檢測(cè)的結(jié)果造成不良干擾。所以，用于校對(duì)覆層中和被檢測(cè)物體覆層一項(xiàng)的電磁性質(zhì)，經(jīng)過(guò)校對(duì)后就能夠正常的進(jìn)行檢測(cè)。運(yùn)用的方式可以是把一樣材質(zhì)的覆層材料涂抹在銅或者鋁的試樣品種，使用電渦流檢測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)取得對(duì)比規(guī)范試樣。關(guān)于覆層測(cè)厚儀的品牌信息、使用方法、圖庫(kù)等可以參考一下：http://www.nbchao.com/p/fucengcehouyi