直讀光譜儀基本使用知識介紹
直讀光譜儀是一種常用的分析儀器,在工業(yè)、電子、機(jī)械、石化、電力等領(lǐng)域中都有應(yīng)用。用戶在使用直讀光譜儀過程中對于一些基本使用知識是需要掌握的,今天小編為大家總結(jié)了一下直讀光譜儀基本使用知識,希望可以幫助大家更好的使用直讀光譜儀。
1、怎樣選擇合適的分析譜線?
元素的分析線多為其靈敏線,應(yīng)選擇自吸小、展寬較小、無其他元素干擾等特點(diǎn)的譜線。對于不同的基體,同一元素的分析線可能不同;即使同一基體的同一元素,在低含量段和高含量段的分析線也會(huì)不同。多道式光譜儀受PMT排布的限制,一般最多只能測量60多條譜線,在譜線的選擇上很難根據(jù)基體、含量和干擾情況做最優(yōu)化的配置,如Si的分析線一般只提供一條;而全譜型光譜儀一次采集即可獲得上萬條譜線,譜線選擇更為靈活。如,在低合金鋼中,Si的分析線選288.16,可以使探測限更低;在不銹鋼中Si288.16干擾嚴(yán)重,Si251.16更適合;在鋁硅鑄造合金中,Si的含量較高,Si390.55更合適。
注意:同一元素在不同基體中的最佳分析線可能不一致,一般按照《分析化學(xué)實(shí)驗(yàn)室手冊》或相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)上的推薦來設(shè)置,若推薦譜線不合適,可選擇火花強(qiáng)度適宜,無自吸和自蝕的銳線。
2、光電直讀光譜儀的驗(yàn)收指標(biāo)有哪些?
直讀光譜儀的驗(yàn)收指標(biāo)可參考《JJG768-2005 發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》,最主要的是直讀光譜儀的重復(fù)性和穩(wěn)定性。
其中,重復(fù)性反應(yīng)儀器的基本性能及誤差影響,是最主要的驗(yàn)收指標(biāo)。重復(fù)性良好,說明數(shù)據(jù)波動(dòng)較小,具備準(zhǔn)確測定的能力。如果數(shù)據(jù)重復(fù)性不好,數(shù)據(jù)之間相差較大,就無法確定哪一個(gè)數(shù)據(jù)更可靠,也就無法完成準(zhǔn)確的測量。
穩(wěn)定性是測量儀器保持其計(jì)量特性隨時(shí)間恒定的能力,衡量儀器一段時(shí)間內(nèi)測量結(jié)果的波動(dòng)性,決定了儀器的校準(zhǔn)周期,穩(wěn)定性好可以適當(dāng)延長校準(zhǔn)時(shí)間,降低儀器的使用成本。
很多人在驗(yàn)收過程中,僅關(guān)注準(zhǔn)確度,這種認(rèn)識是片面的。直讀光譜儀的定量方法屬于參照法,即需要一系列的標(biāo)樣來制定工作曲線作為參照標(biāo)準(zhǔn),再通過對比待測元素的強(qiáng)度,計(jì)算出元素含量。由于標(biāo)樣和實(shí)際樣品存在差異,測量結(jié)果勢必有一定的偏差,但這種偏差可以通過控樣來修正。因此,測量結(jié)果的準(zhǔn)確度除了與儀器有關(guān)外,還與控樣的質(zhì)量有密切的關(guān)系,只有重復(fù)性和穩(wěn)定性才直接體現(xiàn)儀器性能的好壞。
3、如何對譜線進(jìn)行校正?
由于外界環(huán)境變化、儀器設(shè)施改動(dòng)和時(shí)間累積等原因,譜線會(huì)發(fā)生漂移,此時(shí)可利用光譜校正標(biāo)樣對儀器進(jìn)行校正,光譜校正標(biāo)樣屬于儀器的配套產(chǎn)品,在使用過程中應(yīng)當(dāng)節(jié)約,盡量不要用作其他用途。當(dāng)光譜校正標(biāo)樣使用完以后,請聯(lián)系儀器維護(hù)工程師,不建議自行購買。一般校正的方法如下:
全譜型:只需激發(fā)單塊標(biāo)樣,即可通過軟件算法自動(dòng)完成所有譜線的校正。
多道型:通過描跡完成校正,校正時(shí)需激發(fā)一組標(biāo)樣才能完成所有通道的校正,如果儀器各通道的漂移不一致,單純的描跡無法完成校正,需要通過調(diào)整出射狹縫位置或折射鏡角度,來校正譜線的變化,此操作需要專業(yè)的維修工程師才能完成。
4、為什么要扣除光譜背景?
若標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測樣品的背景不一致時(shí),容易引起測量誤差;背景強(qiáng)度過大時(shí),嚴(yán)重影響低含量元素的測定,同時(shí)造成儀器檢出限過高。因而,扣除背景有利于提高分析結(jié)果的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度,提升儀器靈敏度和檢出限。
多道型直讀光譜儀測量的是各通道出縫寬度內(nèi)的光強(qiáng)累加值,無法區(qū)分背景強(qiáng)度和譜線強(qiáng)度,測量精度受到背景強(qiáng)度的影響。
全譜型直讀光譜儀可以獲得每條譜線的輪廓信息,因此可結(jié)合背景校正技術(shù),正確區(qū)分背景和譜線,有效提高測量精度。
5、如何選擇控樣?
使用控樣的思想就好比天平的砝碼調(diào)節(jié)??貥幽軌驕p少曲線漂移,儀器波動(dòng),樣品冶煉和加工工藝等帶來的差異,建議測定樣品時(shí)一定要使用控樣校正。
控樣應(yīng)該是一個(gè)與分析試樣的冶金過程和物理狀態(tài)一致的標(biāo)準(zhǔn)樣品,其各元素含量應(yīng)當(dāng)準(zhǔn)確可靠、成分均勻、外觀無氣孔、沙眼、裂紋等物理缺陷,并且各元素含量應(yīng)位于校準(zhǔn)曲線含量范圍之內(nèi),盡可能與分析樣品的含量接近。《校正標(biāo)樣在光電直讀法中的分析研究和運(yùn)用》(張存貴郝艷峰)一文報(bào)道:通過實(shí)驗(yàn)對比發(fā)現(xiàn),用自己熔煉的校正樣品分析比用市場上采購來的樣品分析準(zhǔn)確性更好,因而建議有實(shí)力的廠家,最好是把自己的產(chǎn)品熔煉后重新定值作控樣。
6、直讀光譜儀的安裝須滿足什么條件?
環(huán)境要求:
(1)光譜儀應(yīng)置于專用的工作空間,附近應(yīng)無有害、易燃及腐蝕性的氣體,不要與化學(xué)分析
放在一起。
(2)保證至少十平方米以上空間。
(3)工作溫度:(10~30)℃,因儀器工作需要恒溫條件,室溫波動(dòng)要盡量小,室內(nèi)需要安
裝空調(diào)。
(4)存儲溫度:(0~45)℃。
(5)環(huán)境相對濕度:(20~80)%,對于潮濕地區(qū),需配備一臺除濕機(jī)。
放置位置要求:
(1)光譜儀應(yīng)該放置在一個(gè)平整、穩(wěn)定的位置,不應(yīng)該有震動(dòng)。
(2)光譜儀的背面與墻之間應(yīng)該留有適當(dāng)?shù)木嚯x以方便安裝與維護(hù)。
電源要求:
(220±20)V AC,50Hz,保護(hù)性接地的單相電源。電源的PE接地必須可靠,以保證儀器正常
工作和避免人體觸電。如果不能保證PE可靠接地,請為儀器提供一條專用地線。
為保證儀器的正常使用,請為儀器配備一臺(1~2)KVA(視接負(fù)載量而定)的單相220V 交
流參數(shù)穩(wěn)壓器。
氬氣要求:
(1)氬氣純度≥99.999%;
(2)氬氣入口壓力:0.5MPa;
標(biāo)準(zhǔn)樣品:
準(zhǔn)備適合自己產(chǎn)品類型的標(biāo)準(zhǔn)樣品或內(nèi)控樣品。
7、地線和電源的質(zhì)量為什么會(huì)影響檢測結(jié)果?
光源產(chǎn)生的電磁輻射被屏蔽罩吸收并隨地線釋放,假如接地不良,這些干擾電壓就會(huì)影響各弱電回路的地電位,從而造成控制系統(tǒng)誤動(dòng)作,模擬信號失真,分析精度差等問題。所以經(jīng)常維護(hù)地線是十分必要的。一般要求零線和地線之間的電壓小于2V,最大不能超過5V。
光電直讀光譜儀基于光電轉(zhuǎn)換原理,若電源電壓不穩(wěn)會(huì)造成激發(fā)光源的能量波動(dòng),采集信號異常等問題,因此直讀光譜儀使用過程中一般要配有穩(wěn)壓器。另外,由于大功率電器會(huì)影響電網(wǎng)的穩(wěn)定性,從而影響直讀光譜儀的測量精度,而強(qiáng)輻射的電器也會(huì)通過空間電磁場干擾數(shù)據(jù)的采集,引起測量誤差,因此直讀光譜儀還應(yīng)避免與大功率、強(qiáng)輻射電器同時(shí)使用。
8、溫度對光譜儀有什么影響?
直讀光譜儀屬于精密測量儀器,光學(xué)系統(tǒng)微小的變化(如結(jié)構(gòu)件的熱脹冷縮等)即會(huì)引起很大的測量誤差,因此光譜儀在設(shè)計(jì)時(shí)會(huì)對光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行恒溫控制。但即使如此,外界溫度的變化仍會(huì)影響恒溫系統(tǒng)的熱平衡狀態(tài),引起測量誤差,因此為了保證測量結(jié)果的精密度,應(yīng)盡可能減小使用過程中環(huán)境溫度的波動(dòng),最大不應(yīng)超過5℃。
另外,大多數(shù)光譜儀廠家對儀器的使用溫度都有嚴(yán)格的限制,一般在10-30℃之間。首先是因?yàn)閮x器在工廠校準(zhǔn)時(shí)的溫度在20℃左右,10-30℃內(nèi)使用可以獲得較好的測量精度,其次儀器的部件及設(shè)計(jì)在10-30℃范圍內(nèi)具有更高的可靠性,超出該溫度范圍使用,會(huì)引起可靠性下降,嚴(yán)重的還會(huì)引起儀器故障;另外,光譜儀一般把光室的溫度控制在34~38℃之間的某個(gè)溫度點(diǎn)(不同型號儀器恒溫溫度不同),為了確保光譜儀的恒溫控制正常工作,儀器使用的環(huán)境溫度必須與光譜儀恒溫溫度有一定的溫差,因此要求儀器使用環(huán)境溫度低于30℃。
因此,直讀光譜儀在使用過程中應(yīng)嚴(yán)格控制環(huán)境溫度,配備足夠功率的空調(diào)系統(tǒng)。
9、直讀光譜儀在什么情況下必須做標(biāo)準(zhǔn)化?
儀器正常使用的情況下,需要定期(一般為一周)做標(biāo)準(zhǔn)化。若測試數(shù)據(jù)精確穩(wěn)定,可適當(dāng)延長標(biāo)準(zhǔn)化周期。但有如下情況之一,儀器必須做標(biāo)準(zhǔn)化,否則可能會(huì)影響測試精密度。
(1)光譜校正后。
(2)儀器移動(dòng)后。因?qū)嶒?yàn)室或廠址更改,可能需要對直讀光譜儀進(jìn)行轉(zhuǎn)移,為保證測試的精密度,轉(zhuǎn)移后需要重新進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化操作。
(3)清洗透鏡后。長時(shí)間使用會(huì)導(dǎo)致透鏡變臟,在清洗透鏡后需要對儀器重新做標(biāo)準(zhǔn)化。
(4)清理激發(fā)臺或更換電極后,建議客戶重新做標(biāo)準(zhǔn)化。
10、光電直讀光譜儀多長時(shí)間維護(hù)一次?
各直讀光譜儀廠家的儀器特點(diǎn)不同,因而其維護(hù)保養(yǎng)時(shí)間也是不一樣的。為保證儀器的正常運(yùn)行,延長儀器的使用壽命,廠家建議客戶根據(jù)不同的情況,按如下提示進(jìn)行定期的部件維護(hù)和保養(yǎng)。如果需要整機(jī)的維護(hù)和保養(yǎng),請聯(lián)系相關(guān)的廠家,他們會(huì)為客戶提供完整的解決方案,以解決客戶的需求。
11、為什么光譜儀激發(fā)樣品時(shí)需要高純氬氣保護(hù)?
(1)氬氣的電離電位較低,易于形成等離子區(qū);
(2)氬氣為惰性氣體,不會(huì)與樣品金屬蒸氣反應(yīng);
(3)氬氣能夠傳輸真空紫外光譜(并非真空下的光譜,而是波長在10-200nm之間的光譜),如C、P、S等,不會(huì)影響紫外及真空紫外區(qū)域元素的測定;
(4)氬氣為原子狀態(tài)氣體,譜線簡單,不宜形成譜線干擾;
(5)氬氣的背景輻射低;
自行檢查氬氣的質(zhì)量比較困難,一般而言,首先是看氬氣供應(yīng)商的資質(zhì),其次,為保證氬氣純度,可配置氬氣凈化器。若要對氬氣精確檢驗(yàn),須采購特定的氬氣純度測定儀。
當(dāng)然還有一種簡單方法,因直讀光譜儀對氬氣的純度要求很高,可以用直讀光譜儀試用下,若能夠正常激發(fā),打出來的點(diǎn)無異常,且數(shù)據(jù)穩(wěn)定,一般來說就可正常使用。為避免出現(xiàn)霧狀白點(diǎn),建議配置氬氣凈化器。
12、激發(fā)臺多久需要清理一次?
針對不同的基體,清理周期有所不同,如Al基一般在激發(fā)700-800次需要清理,F(xiàn)e基在1200次左右。M5000型直讀光譜儀可根據(jù)客戶的使用頻率,提醒客戶及時(shí)清理激發(fā)臺。
13、光電直讀光譜儀分析時(shí)對被檢測樣品有什么要求?應(yīng)該如何制樣?
為了獲得準(zhǔn)確的分析結(jié)果,要求樣品:
(1)不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷;
(2)樣品表面必須平整,可以完全蓋住激發(fā)孔隙;
(3)樣品表面必須清潔、不得污染,不能帶有其他物質(zhì),也不能用手摸;
制樣要求:一般情況下,鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑,鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制(鑄態(tài)試樣需要先切割)。要求磨制后的樣品表面平整潔凈、紋路清晰、溫度適宜。另外,不同基體的樣品盡量不要在同一砂紙制樣。
其中鑄鐵必須白口化后才能分析,白口化時(shí)應(yīng)注意以下幾點(diǎn):
1)一般多用樣模澆鑄,樣模盡量取直徑35-40mm,厚6-8mm,這樣試樣冷卻快,白口好,待鐵水澆后30秒左右取出,開水澆再冷水冷。
2)不要澆鑄過快,避免偏析;
3)盡量選取砂模,減少縮孔和夾雜。
14、激發(fā)部位的選擇:試樣制備好后在什么地方激發(fā)最合適?
一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。(請參閱《分析化學(xué)實(shí)驗(yàn)室手冊》)
如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣最外層是精細(xì)粒區(qū),該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較小(一般只有兩三毫米);試樣中心區(qū)域是等軸晶區(qū),就晶體本身來說較適合光譜分析,但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷;所以距離試樣中心三分之二的圓周是最理想的分析區(qū)域,該區(qū)域多為柱狀晶,宏觀偏析也較小,最適合光譜分析。(關(guān)于宏觀偏析和微觀偏析還和易偏析元素含量有關(guān)??梢詤㈤喴苯鹣嚓P(guān)書籍。)
另外,鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析,以避免偏析的出現(xiàn)。
15、儀器測定結(jié)果偏差較大,分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理?
1)檢查分析方法是否正確,如分析模型、分析程序等;
2)儀器本身穩(wěn)定:檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求;
3)激發(fā)控樣:若控樣分析結(jié)果良好,說明儀器性能不存在問題,待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷;
4)控樣結(jié)果也存在較大問題時(shí),應(yīng)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)化;
5)清理火花臺,擦拭透鏡或平鏡,清理排污通道,更換氬氣等,然后重新校準(zhǔn)曲線;
6)外界條件符合要求:室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi);電源電壓穩(wěn)定;周圍無大功率、強(qiáng)輻射電器運(yùn)作;地線連接良好等;
7)對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩(wěn)定時(shí)間。
若還存在問題,請聯(lián)系相關(guān)廠家工程師。
16、使用過程中發(fā)現(xiàn)C、P、S數(shù)據(jù)變化,而其他元素正常該怎么處理?
C、P、S的特征譜線在真空紫外區(qū),只有在真空或惰性氣體環(huán)境下才能準(zhǔn)確測定。C、P、S的測量性能變差,往往與光傳輸效率下降有關(guān)。常規(guī)的處理方法如下:
充氬儀器:延長光室吹掃時(shí)間,清理紫外光室透鏡,清理火花臺,校正光譜,標(biāo)準(zhǔn)化。
真空儀器:觀察真空是否泄漏,清理火花臺,清理光室透鏡,重新描跡,標(biāo)準(zhǔn)化。
17、線材、棒材能不能用直讀光譜儀分析?
可以,但必須使用特殊的小樣品夾具。為滿足分析結(jié)果的要求,不同的樣品需要配備不同種類的夾具。目前很多廠家的儀器可以進(jìn)行小樣品的測定,如Spectro、ARL、FPI、Bruker等,各廠家分析的手段基本一致。但對于同一臺儀器來說,小樣品分析結(jié)果的精密度比正常樣品稍差。