專用集成電路如何測(cè)試?專用集成電路設(shè)計(jì)過(guò)程介紹

今天，小編將在這篇文章中為大家?guī)?lái)專用集成電路測(cè)試和專用集成電路設(shè)計(jì)過(guò)程的有關(guān)報(bào)道，通過(guò)閱讀這篇文章，大家可以對(duì)專用集成電路具備清晰的認(rèn)識(shí)，主要內(nèi)容如下。

一、從集成電路談到專用集成電路

集成電路具有體積小，重量輕，引出線和焊接點(diǎn)少，壽命長(zhǎng)，可靠性高，性能好等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)成本低，便于大規(guī)模生產(chǎn)。它不僅在工、民用電子設(shè)備如收錄機(jī)、電視機(jī)、計(jì)算機(jī)等方面得到廣泛的應(yīng)用，同時(shí)在軍事、通訊、遙控等方面也得到廣泛的應(yīng)用。用集成電路來(lái)裝配電子設(shè)備，其裝配密度比晶體管可提高幾十倍至幾千倍，設(shè)備的穩(wěn)定工作時(shí)間也可大大提高。專用集成電路是為特定用戶或特定電子系統(tǒng)制作的集成電路。數(shù)字集成電路的通用性和大批量生產(chǎn)，使電子產(chǎn)品成本大幅度下降，推進(jìn)了計(jì)算機(jī)通信和電子產(chǎn)品的普及，但同時(shí)也產(chǎn)生了通用與專用的矛盾，以及系統(tǒng)設(shè)計(jì)與電路制作脫節(jié)的問題。

二、專用集成電路的測(cè)試

在了解了什么是專用集成電路后，我們?cè)賮?lái)看看大家比較關(guān)心的專用集成電路測(cè)試問題。

專用集成電路要求電路設(shè)計(jì)人員緊密地參與測(cè)試，從電路設(shè)計(jì)的開始就需要考慮產(chǎn)品的測(cè)試方案與方法。測(cè)試設(shè)計(jì)是開發(fā)專用集成電路的一項(xiàng)重要設(shè)計(jì)內(nèi)容。

在設(shè)計(jì)電路時(shí)，設(shè)計(jì)一些附加的自動(dòng)測(cè)試電路，且與所設(shè)計(jì)的功能電路集成在同一芯片上。芯片加工后，這些附加電路在軟件支持下，自動(dòng)地完成芯片功能的測(cè)試。這種測(cè)試方式不受限制地測(cè)試內(nèi)部節(jié)點(diǎn)，能與被測(cè)電路同步工作，提高測(cè)試質(zhì)量，節(jié)省時(shí)間。

傳統(tǒng)的測(cè)試方式仍是專用集成電路生產(chǎn)中使用的一種主要方法，希望將對(duì)輸入激勵(lì)，輸出響應(yīng)采樣和測(cè)試過(guò)程控制在一個(gè)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行，否則難以應(yīng)付不斷擴(kuò)大的電路規(guī)模與功能。

材料缺陷、加工偏差、工作環(huán)境惡劣，尤其是設(shè)計(jì)錯(cuò)誤都會(huì)引起電路失效。電路設(shè)計(jì)人員借助計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)系統(tǒng)，在電路設(shè)計(jì)過(guò)程中對(duì)可能的故障進(jìn)行模擬，分析故障屬性，檢測(cè)并確定故障位置以改進(jìn)電路設(shè)計(jì)，并使之在生產(chǎn)過(guò)程中就可方便地檢測(cè)到這些故障。

三、專用集成電路設(shè)計(jì)過(guò)程

在看過(guò)專用集成電路測(cè)試問題后，我們?cè)賮?lái)看看專用集成電路的設(shè)計(jì)過(guò)程。設(shè)計(jì)過(guò)程主要包含5大步驟，各步驟分別如下：

1)功能設(shè)計(jì)的目的是為電路設(shè)計(jì)做準(zhǔn)備，將系統(tǒng)功能用于系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，便于按系統(tǒng)、電路、元件的級(jí)別做層次式設(shè)計(jì)。

2)邏輯設(shè)計(jì)的結(jié)果是給出滿足功能塊所要求的邏輯關(guān)系的邏輯構(gòu)成。它是用門級(jí)電路或功能模塊電路實(shí)現(xiàn)，用表、布爾公式或特定的語(yǔ)言表示的。

3)電路設(shè)計(jì)的目的是確定電路結(jié)構(gòu)(元件聯(lián)接關(guān)系)和元件特性(元件值、晶體管參數(shù))，以滿足所要求的功能電路的特性，同時(shí)考慮電源電壓變動(dòng)、溫度變動(dòng)以及制造誤差而引起的性能變化。

4)布圖設(shè)計(jì)直接服務(wù)于工藝制造。它根據(jù)邏輯電路圖或電子電路圖決定元件、功能模塊在芯片上的配置，以及它們之間的連線路徑.為節(jié)約芯片面積要進(jìn)行多種方案比較，直到滿意。

5)驗(yàn)證是借助計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)系統(tǒng)對(duì)電路功能、邏輯和版圖的設(shè)計(jì)，以及考慮實(shí)際產(chǎn)品可能出現(xiàn)的時(shí)延和故障進(jìn)行分析的過(guò)程。在模擬分析基礎(chǔ)上對(duì)設(shè)計(jì)參數(shù)進(jìn)行修正。

為了爭(zhēng)取產(chǎn)品一次投片成功，設(shè)計(jì)工作的每一階段都要對(duì)其結(jié)果反復(fù)進(jìn)行比較取優(yōu)，以取得最好的設(shè)計(jì)結(jié)果。

以上所有內(nèi)容便是小編此次為大家?guī)?lái)的有關(guān)專用集成電路的所有介紹，如果你想了解更多有關(guān)它的內(nèi)容，不妨在我們網(wǎng)站或者百度、google進(jìn)行探索哦。