是德科技推出多核并行測(cè)試系統(tǒng)，在減小外形的同時(shí)顯著提升測(cè)試吞吐量

2021年3月15日，中國(guó)北京——是德科技公司日前推出全新的 i7090 多核并行測(cè)試系統(tǒng)。這是一全新的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，專門設(shè)計(jì)用于對(duì)多種印刷電路板(PCBA)進(jìn)行并行測(cè)試，可以實(shí)現(xiàn)高測(cè)試吞吐量，幫助客戶加速產(chǎn)品推向市場(chǎng)并降低測(cè)試成本。是德科技是一家領(lǐng)先的技術(shù)公司，致力于幫助企業(yè)、服務(wù)提供商和政府客戶加速創(chuàng)新，創(chuàng)造一個(gè)安全互聯(lián)的世界。

目前市面上的測(cè)試系統(tǒng)最多只能支持四核并行測(cè)試?？蛻粜枰少?gòu)更多系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，才能滿足制造需求，但這樣無(wú)疑會(huì)導(dǎo)致規(guī)模擴(kuò)大、基礎(chǔ)設(shè)施成本上升、占用更大的測(cè)試空間，并且需要更多的成本投資和維護(hù)人員。

是德科技新型多核并行測(cè)試系統(tǒng)可支持多達(dá) 20 個(gè)內(nèi)核并行測(cè)試，并提供了基于 PXIe 模塊化接口整合功能測(cè)試 。因此，其內(nèi)核配置可以靈活調(diào)整，不受電路板多聯(lián)版數(shù)量的限制 ，從而可以降低總體計(jì)算成本。為了擴(kuò)展功能，Keysight OpenTAP 支持服務(wù)賦能開放式平臺(tái)集成各種硬件。用戶可以根據(jù)需要添加可擴(kuò)展的儀器和插卡，輕松整合所有的測(cè)試資源 。

是德科技電子工業(yè)產(chǎn)品副總裁 Christopher Cain 表示：“多核并行計(jì)算使現(xiàn)代計(jì)算機(jī)能夠提供突破性的性能。i7090 測(cè)試系統(tǒng)為印刷電路板(PCBA)的制造測(cè)試和編程帶來(lái)了類似能力。i7090 采用了創(chuàng)新的模塊化體系結(jié)構(gòu)，外形纖小卻能提供突破性的測(cè)試速度進(jìn)而提升吞吐量 。它擁有出色的工業(yè) 4.0 自動(dòng)化測(cè)試和分析功能，性能十分優(yōu)異，而且還可以進(jìn)一步優(yōu)化，因而能夠輕松應(yīng)對(duì)廣泛的大規(guī)模 PCBA 制造挑戰(zhàn)。”

新款 Keysight i7090 具有以下重要優(yōu)勢(shì)：

· 配備 20 個(gè)并行內(nèi)核，可提供靈活的可擴(kuò)展性和配置方式，能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)器件執(zhí)行測(cè)試。

· 系統(tǒng)體積小，僅寬 600 毫米，為您節(jié)省寶貴的測(cè)試空間和測(cè)試周期。

· 支持大規(guī)模到超大規(guī)模電路板檢測(cè) ，可以減少系統(tǒng)投資，改善電路板測(cè)試時(shí)間 。

· 不上電和無(wú)矢量測(cè)試技術(shù)(VTEP)帶來(lái)更快的測(cè)試速度 、更低的夾具成本和更高的故障覆蓋率。

· 儀器與 Keysight OpenTAP 軟件集成在同一個(gè)平臺(tái)中，可提供高效的功能測(cè)試測(cè)量;其 PXI 體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可支持是德科技和第三方的儀器。

· 支持在標(biāo)準(zhǔn)的 48 厘米機(jī)架中安裝多個(gè)儀器 ，實(shí)現(xiàn)功能整合。

· 集成燒錄功能提供了系統(tǒng)內(nèi)建燒錄能力，允許用戶使用 160 個(gè)通道實(shí)施并行測(cè)試，顯著提高測(cè)試系統(tǒng)吞吐量 。

上市時(shí)間

Keysight i7090 多核并行測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)已上市。