查找嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的技術(shù)研究

基于模式的靜態(tài)代碼分析、運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)、單元測(cè)試以及數(shù)據(jù)流分析等軟件驗(yàn)證技術(shù)是查找嵌入式C語言程序/軟件缺陷行之有效的方法。上述技術(shù)中的每一種都能查找出某一類特定的錯(cuò)誤。即便如此，如果用戶僅采用上述技術(shù)中的一種或者幾種來進(jìn)行驗(yàn)證，這樣的驗(yàn)證方法很有可能會(huì)漏過對(duì)程序中的一些缺陷的檢查。解決此類問題的一種安全和有效的策略就是同時(shí)使用上述軟件驗(yàn)證中的所有互補(bǔ)技術(shù)。這樣就能建立起一個(gè)牢固的框架來幫助用戶檢查出可能會(huì)避開某種特定技術(shù)的缺陷。與此同時(shí)，用戶也自然地建立起一個(gè)能檢測(cè)出關(guān)鍵并且難以查找的功能性錯(cuò)誤的環(huán)境。

　　本文將詳盡闡述基于模式的靜態(tài)代碼分析、運(yùn)行時(shí)內(nèi)存錯(cuò)誤檢測(cè)、單元測(cè)試以及數(shù)據(jù)流分析等自動(dòng)化技術(shù)共同使用時(shí)是如何查找出嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的。本文中將以Parasoft C++test為例來演示上述各項(xiàng)技術(shù)。C++teST是一個(gè)經(jīng)廣泛的最佳實(shí)踐證明能提升軟件開發(fā)團(tuán)隊(duì)開發(fā)效率以及軟件質(zhì)量的自動(dòng)化集成解決方案。

　　當(dāng)讀者在閱讀本文以及任何時(shí)候思考查找到的缺陷時(shí)，關(guān)注文中的截圖是很重要的。自動(dòng)化檢測(cè)例如內(nèi)存崩潰和死鎖的缺陷，毫無疑問對(duì)任何開發(fā)團(tuán)隊(duì)都是一項(xiàng)必不可少的任務(wù)。盡管如此，最致命的缺陷卻是功能性錯(cuò)誤，這往往是難以自動(dòng)發(fā)現(xiàn)的。在本文的結(jié)論部分我們將簡(jiǎn)要地討論一下查找這些缺陷的技術(shù)。

　　情景簡(jiǎn)介

　　為了給出一個(gè)具體的示例，我們將就一個(gè)我們最近遇到的案例來介紹以及演示我們所推薦的缺陷查找策略：一個(gè)運(yùn)行在ARM 板上的簡(jiǎn)單傳感器應(yīng)用程序。

　　假設(shè)我們已經(jīng)創(chuàng)建了該應(yīng)用系統(tǒng)，但是當(dāng)我們將程序上載到系統(tǒng)目標(biāo)板上并試圖運(yùn)行該程序時(shí)，我們沒有在LCD屏上看到所預(yù)期的輸出。

　　我們尚不明確系統(tǒng)不能正常工作的原因，因此我們?cè)O(shè)法對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試，但是在目標(biāo)板上進(jìn)行調(diào)試是一件耗時(shí)而且煩人的事。因?yàn)槲覀儾坏貌皇謩?dòng)分析調(diào)試器的結(jié)果并試圖人工判斷出問題的真正原因?；蛘呶覀兪褂靡恍┍蛔C實(shí)能自動(dòng)定位出錯(cuò)誤的工具或技術(shù)來幫助我們減輕負(fù)擔(dān)。

　　從這一點(diǎn)而言，我們要么期待使用調(diào)試器來調(diào)試程序能夠帶來好運(yùn)，要么我們嘗試使用一種自動(dòng)化的測(cè)試策略來查找代碼中所存在的錯(cuò)誤。如果自動(dòng)化技術(shù)仍然沒有幫助我們查找到錯(cuò)誤，那么我們不得不回到使用調(diào)試器作為最后的辦法。

　　基于模式的靜態(tài)代碼分析

　　這里，我們假設(shè)僅在絕對(duì)必要的情況下才使用調(diào)試器進(jìn)行調(diào)試，因此我們從運(yùn)行基于模式的靜態(tài)代碼分析開始。它將查找到如下圖所示的問題：

　　這是違反了 MISRA 的一個(gè)規(guī)則，此違規(guī)說明該處的賦值運(yùn)算符存在一些可疑情況。的確，編程者此處的本意是使用比較運(yùn)算符而不是賦值運(yùn)算符。因此我們將此處檢測(cè)到的沖突修改掉，并重新運(yùn)行程序。

　　我們發(fā)現(xiàn)有了一些改善：一些輸出被顯示在了LCD屏上了。但是，由于一次訪問違規(guī)，程序崩潰掉了。因此我們需要再次地做出選擇。我們是應(yīng)該使用調(diào)試器還是繼續(xù)使用自動(dòng)化的錯(cuò)誤檢測(cè)技術(shù)。由于經(jīng)驗(yàn)告訴我們自動(dòng)化錯(cuò)誤檢測(cè)技術(shù)能非常高效地檢查出我們當(dāng)前程序所遇到的內(nèi)存崩潰這類問題，因此我們決定使用運(yùn)行時(shí)內(nèi)存監(jiān)測(cè)來查找問題。