溫度變化對(duì)靜態(tài)工作點(diǎn)的影響
晶體管是一個(gè)溫度敏感器件,當(dāng)溫度變化時(shí),其特性參數(shù)(β、ICBO、UBE)的變化比較顯著,實(shí)驗(yàn)表明:溫度每升高1℃,β約增大0.1%左右,UBE減?。?~2.5)mV,溫度每升高10℃,ICBO 約增加一倍。晶體管參數(shù)隨溫度的變化,必然導(dǎo)致放大電路靜態(tài)工作點(diǎn)發(fā)生漂移,這種漂移稱為溫漂。
以基本共射放大電路為例,當(dāng)溫度t↑升高、UBE ↓、其靜態(tài)電流IB↑、β↑則IC↑↑;
可見,無論是UBE的減小,還是β、ICBO的增大,都使IC增大,從而使Q點(diǎn)向飽和區(qū)移動(dòng)。
靜態(tài)工作點(diǎn)的移動(dòng),將影響放大電路的放大性能,為此,必須設(shè)法穩(wěn)定靜態(tài)工作點(diǎn)。穩(wěn)定靜態(tài)工作點(diǎn)的方法常用的主要有負(fù)反饋法和參數(shù)補(bǔ)償法兩種