安捷倫光學(xué)調(diào)變分析儀新增誤碼率分析功能

安捷倫科技(Agilent Technologies)日前為其光學(xué)調(diào)變分析儀產(chǎn)品新增誤碼率(BER)分析功能，可協(xié)助工程師更清楚地洞察40/100G發(fā)射器和系統(tǒng)之BER信息。
在數(shù)字傳輸領(lǐng)域中，工程師必須深入分析發(fā)射器或鏈路的誤碼率(BER)，以確保40/100G系統(tǒng)之最佳傳輸質(zhì)量。然而，目前用于開(kāi)關(guān)鍵控(on-off keying)調(diào)變的測(cè)試儀器，因缺乏合適的接收器來(lái)偵測(cè)這類訊號(hào)，故無(wú)法量測(cè)先進(jìn)調(diào)變格式的誤碼率。
相較之下，安捷倫的光學(xué)調(diào)變分析儀整合了必要的接收器，可計(jì)數(shù)錯(cuò)誤，并可實(shí)時(shí)透過(guò)偵測(cè)數(shù)據(jù)運(yùn)算BER，或是在大量樣本擷取樣式(large sample number capture modus)中進(jìn)行運(yùn)算。可用假性隨機(jī)位序列(PRBS)，或是用戶自定義模式，當(dāng)作測(cè)試訊號(hào)。
如 果工程師僅只量測(cè)從發(fā)射器輸入端到接收器輸出端，這一段光纖鏈路的電子BER，一旦出現(xiàn)BER問(wèn)題而導(dǎo)致測(cè)試失敗時(shí)，便無(wú)法確定到底是發(fā)射器、鏈路本身， 或是接收器出了問(wèn)題。當(dāng)發(fā)射器與系統(tǒng)之設(shè)計(jì)工程師及質(zhì)量工程師能夠確實(shí)量測(cè)物理層訊號(hào)之BER，便可深入洞察是傳輸系統(tǒng)的那一部份導(dǎo)致了BER問(wèn)題。
安捷倫BER測(cè)試解決方案的功能包括：實(shí)時(shí)運(yùn)算BER，而非推估BER；支持極化多任務(wù)(Polarization Multiplexing)訊號(hào)；支持偽隨機(jī)位序列(PRBS)或用戶自定義模式；可詳細(xì)分析0與1的錯(cuò)誤；以及能夠?qū)ER與差錯(cuò)向量幅度(EVM)進(jìn)行比較。
全新的BER測(cè)試功能與安捷倫各種調(diào)變格式兼容，并可搭配使用安捷倫獨(dú)特的極化比對(duì)算法(polarization alignment algorithm)，以支持極化多任務(wù)訊號(hào)量測(cè)。