哈工大發(fā)現(xiàn)高效去除AFM探針表面污染物新方法

美國(guó)材料研究學(xué)會(huì)(MRS)官方網(wǎng)站日前在“材料研究當(dāng)前新聞”欄目中，以《光柵刷子能清潔原子力顯微鏡的探針針尖》為題，報(bào)道了哈爾濱工業(yè)大學(xué)化工學(xué)院催化科學(xué)與工程系教授甘陽(yáng)與墨爾本大學(xué)教授弗蘭克斯合作發(fā)表在國(guó)際學(xué)術(shù)期刊《超顯微術(shù)》(Ultramicroscopy)上的原創(chuàng)性研究成果。

該報(bào)道稱：“清潔原子力顯微鏡(atomic force microscope，AFM)針尖是AFM可靠成像和力測(cè)量的關(guān)鍵。研究者現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)，具有超尖刺突的標(biāo)定光柵作為‘刷子’，可用來(lái)機(jī)械清除AFM探針上的污染物，這是通過(guò)把探針在加大力的恒力模式下掃描刺突來(lái)實(shí)現(xiàn)。這一方法不但能用來(lái)無(wú)損、高效地去除有機(jī)和無(wú)機(jī)污染物，而且可實(shí)現(xiàn)污染物去除和探針研究的一步完成。此外，該方法既可用來(lái)清潔膠體/顆粒探針，也可以用來(lái)清潔標(biāo)準(zhǔn)AFM針尖?！?/p>

甘陽(yáng)認(rèn)為，作為一種新型的表面污染物“定點(diǎn)”清除方法，該方法的應(yīng)用遠(yuǎn)不限于清潔原子力顯微鏡探針，更有望在廣泛的表界面研究、微電子等領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。

這篇論文在愛思唯爾(Elsevier)出版社2009年第三季度的“25篇最熱門論文”中列《超顯微術(shù)》的第一位?！冻@微術(shù)》是Elsevier出版的顯微研究領(lǐng)域的國(guó)際著名期刊。