愛德萬測(cè)試發(fā)表DDR4與LPDDR4測(cè)試方案

愛德萬測(cè)試(Advantest)宣布發(fā)表專為新一代記憶積體電路(IC)所設(shè)計(jì)的最新測(cè)試解決方案，以滿足行動(dòng)裝置與伺服器市場(chǎng)對(duì)新一代記憶IC的強(qiáng)勁需求。此套最新測(cè)試解決方案T5503HS延續(xù)廣為業(yè)界采用的T5503架構(gòu)并加以改進(jìn)，提供高速平行同測(cè)、完整相容性，并加入可升級(jí)設(shè)計(jì)，創(chuàng)造業(yè)界最佳性能，實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)能低測(cè)試成本效益。
愛德萬測(cè)試記憶體測(cè)試事業(yè)執(zhí)行副總裁山田弘益表示，這套新測(cè)試系統(tǒng)是一套最能滿足新一代DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體測(cè)試需求的解決方案，因?yàn)門5503HS可提供最高測(cè)試效率，讓客戶獲得最大資本投資回報(bào)。

隨著可上網(wǎng)功能的行動(dòng)裝置與相關(guān)支援伺服器在資料處理量不斷激增之下，高速高容量記憶晶片制造商亟需具成本競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試解決方案加速推出新興DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體等新產(chǎn)品上市。愛德萬測(cè)試全新T5503HS系統(tǒng)可提供符合記憶體制造商需求之功能，同時(shí)降低測(cè)試成本。

T5503HS測(cè)試速度最高可達(dá)4.5Gbit/s，此速度足以因應(yīng)現(xiàn)今最高階雙倍資料傳輸速度記憶體最高4.266Gbit/s運(yùn)作頻率。T5503HS藉由Cyclic Redundancy Check與CA parity codes，比對(duì)輸入/輸出(I/O)資料傳輸率與待測(cè)裝置位址，確保達(dá)到最高測(cè)試速度，且簡(jiǎn)化新測(cè)試程式的開發(fā)流程，減少工作負(fù)擔(dān)，縮短新半導(dǎo)體設(shè)計(jì)上市時(shí)程。

愛德萬測(cè)試網(wǎng)址：www.advantest.com