愛德萬多功能測試平臺切入快閃儲存裝置測試市場

愛德萬測試(Advantest Corp.)發(fā)表多功能 NEO-SSD 平臺，揮軍高階 PCI Express (PCIe) 3.0 NVMe 企業(yè)級/消費(fèi)性應(yīng)用固態(tài)硬碟(SSD)測試市場。愛德萬測試以此平臺為基礎(chǔ)開發(fā)了一系列測試解決方案，預(yù)定于今年(2013)第四季開始向客戶出貨。此 NEO-SSD 平臺可隨需設(shè)定，支援多種通訊協(xié)定，具備各種 SSD 系統(tǒng)等級測試功能，包括工程驗(yàn)證、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、可靠性驗(yàn)證與生產(chǎn)測試。
根據(jù)預(yù)估到2017年時(shí)， SSD 的市場規(guī)模將成長5倍，數(shù)量將超過2億，目前 SSD 在市場上的推廣應(yīng)用仍處于初期發(fā)展階段，裝置通訊協(xié)定與測試策略也還在調(diào)整中，因此必須仰賴具備高效能和彈性的有效測試解決方案。

NEO-SSD 平臺采用愛德萬測試的 Tester-per-DUT 獨(dú)立架構(gòu)，可讓客戶根據(jù)本身的特別需求平衡成本與效能。這套系統(tǒng)可支援各種大小的被測設(shè)備，例如硬碟、介面卡以及各種通訊協(xié)定，包括 PCIe 3.0 介面。隨著資料中心、桌面電腦、 Ultrabook 與行動(dòng)電子裝置的匯排流應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)興起， PCIe 造成測試市場來不及因應(yīng)，因?yàn)樗枰喾N版本的新通訊協(xié)定支援(如PCIe NVMe、AHCI、UFS與SAS)，且需以全效能運(yùn)轉(zhuǎn)提供更高匯排流速度，還須有進(jìn)一步控制元件電源供應(yīng)的能力，這些需求必須透過高效多通訊協(xié)定測試解決方案，才能以高延展性與經(jīng)濟(jì)效益達(dá)成大量量產(chǎn)高品質(zhì) SSD 的目標(biāo)。

愛德萬測試美國子公司Advantest America GTRI副總裁Colin Ritchie表示：「 NEO-SSD 平臺讓我們得以率先開發(fā)出業(yè)界第一套真正具有延展性、以平臺為基礎(chǔ)的 SSD 測試解決方案，為客戶提供低成本、高測試效能、快速作業(yè)能力與高度訊號完整性等效益。此外，采用 Tester-per-DUT 架構(gòu)的 NEO-SSD 機(jī)臺不必與其他設(shè)備共用資源，而能創(chuàng)造出突破性企業(yè)級效能與品質(zhì)，且絲毫不影響測試周期或測試范圍?！?br>