Advantest發(fā)表V93000行動電源管理IC測試方案

愛德萬測試(Advantest)宣布推出以 V93000 平臺為基礎(chǔ)的行動電源管理IC (PMIC)測試解決方案，以最具成本效益的優(yōu)勢進(jìn)軍系統(tǒng)單晶片 (SoC) PMIC 測試市場。此套解決方案相容于愛德萬測試的 V93000 系統(tǒng)，可對具有嵌入式電源管理核心的復(fù)雜SoC元件和單邊接腳封裝(SiP)進(jìn)行大量多點測試。
以行動電源管理IC元件而言，測試機(jī)臺不僅要執(zhí)行大量復(fù)雜測試，包括高達(dá)2,000次元件特性分析測試、500次設(shè)計驗證測試及300次量產(chǎn)測試，且必須配備各式各樣功能，才足以因應(yīng)SoC將類比與數(shù)位電路整合在同一顆IC上并納入電源管理功能的高階設(shè)計需求。

愛德萬測試全新 V93000 行動電源管理IC測試解決方案提供具可擴(kuò)充性的低測試成本架構(gòu)，透過高密度模組進(jìn)行大量并行同測。為提供最大測試彈性與最大經(jīng)濟(jì)效益，測試機(jī)臺采用全新高密度元件電源供應(yīng) DPS128 設(shè)計，每個模組配有128個電壓/電流供應(yīng) (VI) 通道，可精確地供應(yīng)與量測電壓與電流；此解決方案亦采用愛德萬測試 Pin Scale 1600 數(shù)位模組的通用腳位 (Universal Pin)架構(gòu)，同時兼具高速數(shù)位(High Speed Digital)能力、精準(zhǔn)直流電(Precision DC)的供應(yīng)與量測功能，為行動電源管理IC測試最佳選擇。

此外，其每根腳位獨立的時間量測單元 (Per-pin TMU)更能有效率地量測今日先進(jìn)電源管理元件需求如高切換頻率、工作周期、上升/下降時間等功能。其配備組成可隨需要調(diào)整與擴(kuò)充，以符合未來測試需求。

愛德萬測試這套高密度測試解決方案是專為可攜式裝置最新電源管理技術(shù)所設(shè)計，如多重供應(yīng)電壓(MSV)，此技術(shù)透過提供多個電源域，使電流分開配置使用，并利用電源供應(yīng)關(guān)閉(PSO) 設(shè)計，在電源處于待命狀態(tài)時，保留個別電源區(qū)塊，以延長電池使用壽命。

愛德萬測試SoC事業(yè)資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「這套全新 V93000 行動電源管理IC測試解決方案不僅具備絕佳效能，更能讓客戶以經(jīng)濟(jì)實惠的成本達(dá)到加速產(chǎn)品上市目標(biāo)。由于PMIC技術(shù)不斷創(chuàng)新，元件的復(fù)雜性也會隨之增加， V93000 可望成為 PMIC 的標(biāo)準(zhǔn)測試解決方案?！?br>
愛德萬測試 V93000 行動電源管理IC測試解決方案預(yù)計今年內(nèi)開始出貨。