Advantest全新T5831系統(tǒng)支援高速M(fèi)CP測(cè)試

時(shí)間：2013-07-16 05:36:00

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[導(dǎo)讀]愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(Advantest)的全新 T5831 系統(tǒng)已開(kāi)始向客戶出貨，該系統(tǒng)主要應(yīng)用于新一代行動(dòng)裝置應(yīng)用IC (包括搭載高速ONFi或Toggle Mode介面的 NAND 快閃記憶體) 與Managed NAND裝置 (如嵌入式多媒體記憶卡eMMC)，且具備

愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(Advantest)的全新 T5831 系統(tǒng)已開(kāi)始向客戶出貨，該系統(tǒng)主要應(yīng)用于新一代行動(dòng)裝置應(yīng)用IC (包括搭載高速ONFi或Toggle Mode介面的 NAND 快閃記憶體) 與Managed NAND裝置 (如嵌入式多媒體記憶卡eMMC)，且具備多項(xiàng)功能，可支援并行同測(cè)多晶片封裝 (MCP) 中的NAND快閃記憶體和行動(dòng) DRAM 記憶體。
T5831是專為高速平行同測(cè)所設(shè)計(jì)，提供客戶低成本測(cè)試功能，亦能在未來(lái)隨需升級(jí)，延伸投資報(bào)酬，堪稱業(yè)界最經(jīng)濟(jì)測(cè)試解決方案。其附隨的工程解決方案T5831 ES，最適用于測(cè)試程式開(kāi)發(fā)與元件特性分析，可讓客戶加快整體上市時(shí)間。

此套系統(tǒng)提供了許多專為NAND快閃記憶體所設(shè)計(jì)的重要功能，能以業(yè)界最快速度完成測(cè)試，此系統(tǒng)的Tester-Per-Site架構(gòu)不僅可創(chuàng)造高產(chǎn)能，更能提供每裝置業(yè)界最高電流，加速程式設(shè)計(jì)和抹除作業(yè)；此外，亦能即時(shí)執(zhí)行錯(cuò)誤更正碼 (ECC) 分析，避免增加后處理測(cè)試時(shí)間成本。

相較于傳統(tǒng)的后處理方式，即時(shí)源同步 (source-synchronous) 功能可獲得最大產(chǎn)率并提高產(chǎn)能。此系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)執(zhí)行逐周期 (cycle-by-cycle) 調(diào)整，以了解制程、電壓、溫度 (PVT) 與抖動(dòng)之間的差異所造成的時(shí)序漂移，確保資料眼 (data-eye) 的正確性，以在高速下產(chǎn)生最佳產(chǎn)率。其他支援功能還包括：壞塊管理、冗余分析和自訂/隨機(jī)資料產(chǎn)生，這意味著T5831可全方位滿足NAND快閃記憶體所有測(cè)試需求。