Multitest的“測(cè)試接口模擬”幫助測(cè)試接口實(shí)現(xiàn)優(yōu)化和成本效益

Multitest 現(xiàn)推出旨在優(yōu)化測(cè)試接口的“測(cè)試接口模擬”?！?strong>信號(hào)完整性模擬”在了解測(cè)試接口性能方面頗具價(jià)值。這是一款重要的多功能工具，可用來(lái)持續(xù)改善設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)、驗(yàn)證現(xiàn)有設(shè)計(jì)和優(yōu)化新設(shè)計(jì)。“信號(hào)完整性模擬”使PCB布局實(shí)現(xiàn)成本效益，并確保最佳整體測(cè)試接口?；谛枨?，可采用專用模擬，以低成本保證最佳性能。

設(shè)計(jì)接口時(shí)，帶寬非常重要?！膀?yàn)證模擬”是一種頗具成本效益的布局后解決方案，該解決方案使用之前的模擬模型庫(kù)來(lái)確定接口是否符合帶寬要求。對(duì)比PCB材料和測(cè)試座類型的限量?jī)?yōu)化亦可包含其中。

對(duì)于高速和超靈敏應(yīng)用，優(yōu)化整個(gè)接口是至關(guān)重要的。為提高性能（如部件足跡、測(cè)試座和跟蹤拓?fù)洌?，?shù)種接口功能的設(shè)計(jì)可以定制?！皟?yōu)化模擬”是一種確保測(cè)試接口實(shí)現(xiàn)首次正常運(yùn)轉(zhuǎn)的精密3-D電磁系統(tǒng)級(jí)方法。

許多PCB和測(cè)試座設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)基于機(jī)械結(jié)構(gòu)的限制而制定。通過(guò)考慮機(jī)械和電氣參數(shù)，Multitest產(chǎn)品的電氣性能實(shí)現(xiàn)優(yōu)化，同時(shí)保持機(jī)械可靠性。Multitest不斷通過(guò)模擬改善PCB和測(cè)試座的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。

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