惠瑞捷推IC及MCU測(cè)試專用V101系統(tǒng)

惠瑞捷(Verigy Ltd.)針對(duì)IC與微控制器(MCU)推出一套可執(zhí)行晶圓測(cè)試(Wafer Sort)及終程測(cè)試(Final Test)的V101測(cè)試系統(tǒng)。這套全新的100MHz tester-on-board系統(tǒng)擁有低成本與零佔(zhàn)用空間等優(yōu)勢(shì)，已於今年的SEMICON WEST展覽中首度對(duì)外展示。

V101測(cè)試系統(tǒng)最高可運(yùn)作達(dá)100MHz測(cè)試工作頻率與1024個(gè)I/O通道。V101擁有獨(dú)特的Tester-on-Board架構(gòu)，可藉由內(nèi)建的數(shù)位與直流裝置簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)硬體及其結(jié)構(gòu)，並能以高產(chǎn)出量及較低成本進(jìn)行高效率的多元件並行測(cè)試。另外，採(cǎi)用標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的零組件也讓V101更易於架設(shè)與維護(hù)。

V101的數(shù)位測(cè)試儀器架構(gòu)內(nèi)建數(shù)位與直流裝置，兼顧了測(cè)試效能與低成本兩項(xiàng)優(yōu)勢(shì)。這套架構(gòu)也讓V101的產(chǎn)出量可隨用戶需求彈性地?cái)U(kuò)充。V101是特別針對(duì)4、8與16位元MCU與其他低接腳數(shù)(pin count)低階IC元件的測(cè)試所設(shè)計(jì)。

這套數(shù)位儀器最高能以8個(gè)裝置電源供應(yīng)器(DPS，device power supplies)達(dá)到100MHz的測(cè)試工作頻率；同時(shí)提供60M的深度向量記憶體以及8M的數(shù)位擷取儲(chǔ)存記憶體，因應(yīng)快速的元件生命週期並進(jìn)行修正，可降低雜訊、提升測(cè)試準(zhǔn)確度與良率。內(nèi)建的多功能直流測(cè)量單位(MMU)可免除額外的類比卡，直接進(jìn)行嵌入的類比/數(shù)位轉(zhuǎn)換器(ADC)測(cè)試，達(dá)到降低成本的目標(biāo)。

V101是唯一支援直接探針測(cè)試(direct probing)的最佳晶圓測(cè)試系統(tǒng)，無(wú)須額外的pogo tower或其他高成本的外加介面，因而能大幅節(jié)省成本。V101的設(shè)計(jì)亦有助於提升晶圓測(cè)試的訊號(hào)保真度(signal fidelity)以及簡(jiǎn)化生產(chǎn)設(shè)定工作。

V101採(cǎi)用惠瑞捷的Stylus作業(yè)系統(tǒng)軟體。Stylus提供直接的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)連結(jié)，可縮短程式開(kāi)發(fā)時(shí)程。採(cǎi)用STIL標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程式不僅可簡(jiǎn)化其他STIL標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程式轉(zhuǎn)換作業(yè)，當(dāng)軟體搭配深度向量以及數(shù)位擷取儲(chǔ)存器記憶體時(shí)，更可大幅縮短程式開(kāi)發(fā)時(shí)程。

V101的測(cè)試範(fàn)圍涵蓋多種低成本IC元件，包括4/8/16位元MCU、顯示器驅(qū)動(dòng)控制器、介面週邊應(yīng)用、一般用途的特殊應(yīng)用積體電路(ASIC)、嵌入式記憶體，以及嵌入式類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器。