IIC-China 2013展前專訪：羅德與施瓦茨將帶來多項最新測試方案

測試測量技術(shù)領(lǐng)導廠商——羅德與施瓦茨（R&S）將在IIC China 2013上展示多項最新測試方案，包括移動通信/無線通信基帶芯片的測試方案、射頻芯片/元件測試方案、電視/視頻/音頻測試方案、數(shù)字/模擬芯片測試方案、電磁兼容、電磁干擾診斷測試方案等。

移動通信/無線通信基帶芯片的測試方案

- R&S CMW500無線終端綜合測試儀：支持的技術(shù)標準包括GSM/EDGE、WCDMA、CDMA2000、TD-SCDMA、TDD/FDD LTE、WLAN、Bluetooth、CMMB、GPS等
- R&S CMW-Z10/Z11 屏蔽箱和耦合器
- R&S AMU200 基帶信號源

射頻芯片/元件測試方案

- R&S ZVx系列微波射頻矢量網(wǎng)絡分析儀：用于射頻S參數(shù)測試、噪聲系數(shù)測試、半導體參數(shù)提取等

- R&S SMU200A矢量射頻信號源
- R&S FSW頻譜分析儀

電視/視頻/音頻測試方案

- R&S VTC視頻測試儀

數(shù)字/模擬芯片測試方案

- R&S RTO示波器
- R&S RTM示波器

電磁兼容、電磁干擾診斷測試方案

- R&S ESL電磁兼容測試接收機
- R&S HZ-15/16電磁干擾診斷探頭

除此之外，羅德與施瓦茨還將帶來一場精彩的測試測量研討會，針對示波器多域綜合測試技術(shù)作詳細介紹。

演講題目：現(xiàn)代電子設(shè)計挑戰(zhàn)與示波器多域綜合測試技術(shù)
演講嘉賓：焦保春，羅德與施瓦茨中國有限公司業(yè)務發(fā)展經(jīng)理
時間：3月1日上午10:30 – 11:10
地點：深圳會展中心2號館2號會議室

演講摘要：隨著各種高速總線和射頻技術(shù)的大量應用，電子電路的設(shè)計工作日益復雜。除傳統(tǒng)的模擬和數(shù)字電路測試外，作為工程師最常用的測試工具，示波器增加了越來越多的測試能力，以滿足測試需求的增長。基于70年測試儀器研發(fā)經(jīng)驗，羅德與施瓦茨公司創(chuàng)新產(chǎn)品RTO系列示波器，不但實現(xiàn)了超越同類產(chǎn)品的優(yōu)異性能，更在操作和使用便捷性方面設(shè)立了業(yè)內(nèi)的新標準。接近專業(yè)頻譜設(shè)備的頻域分析能力，更使RTO示波器成為時域、頻域和數(shù)字域的綜合測試儀器。配合相關(guān)的軟件選件，RTO示波器可以完成IQ數(shù)據(jù)采集，OFDM信號分析和LTE測試等遠遠超過傳統(tǒng)示波器的應用領(lǐng)域。配合近場探頭和獨有的頻譜模板功能，RTO示波器還可以出色地完成EMI調(diào)試和預測試分析。

除羅德與施瓦茨外， IIC China 2013 現(xiàn)場將匯集眾多優(yōu)質(zhì)技術(shù)廠商，于今年2月28日，3月1-2日在深圳會展中心舉行，歡迎廣大工程師朋友們蒞臨參觀、學習和交流。