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[導(dǎo)讀]近日,安捷倫科技在在深圳舉辦了亞洲區(qū)最大的測試測量科技盛會(huì)——“2011 安捷倫測試測量大會(huì)” 本次大會(huì)以“綻放電子測量的魅力” 為主題。從智能手機(jī),到平板電腦;從移動(dòng)通信測試大全,到元器件與材料測試的深入解

近日,安捷倫科技在在深圳舉辦了亞洲區(qū)最大的測試測量科技盛會(huì)——“2011 安捷倫測試測量大會(huì)”

本次大會(huì)以“綻放電子測量的魅力” 為主題。從智能手機(jī),到平板電腦;從移動(dòng)通信測試大全,到元器件與材料測試的深入解析;從毫米波應(yīng)用的尖端測試設(shè)備,到靈活配置的新型模塊化方案;從真實(shí)硬件模擬帶寬高達(dá)32GHz的高性能實(shí)時(shí)示波器、DANL可逼近到-172dBm理論極限值的高端頻譜分析儀,再到基于PNA-X的非線性網(wǎng)絡(luò)測試劃時(shí)代的創(chuàng)新產(chǎn)品;從寬帶復(fù)雜信號(hào)產(chǎn)生與分析,到高速數(shù)字總線的測試方案……全方位展現(xiàn)了安捷倫電子測試測量的魅力。

模塊化測試設(shè)備

安捷倫從2010年10月至今已推出50余款 PXI 和AXIe產(chǎn)品,將測試與測量系列產(chǎn)品擴(kuò)展到模塊化產(chǎn)品領(lǐng)域。當(dāng)前制造業(yè)面臨的最大問題是,單一的平臺(tái)無法應(yīng)對所有的測試情況,必須使用大量測試設(shè)備,耗費(fèi)時(shí)間導(dǎo)致成本上升。

2011安捷倫測試測量大會(huì):迎接<strong>LTE</strong>時(shí)代 2011安捷倫測試測量大會(huì):迎接LTE時(shí)代
Larry Desjardin 梁雄峰博士

在大會(huì)上,安捷倫電子測量事業(yè)部模塊化產(chǎn)品運(yùn)營部總經(jīng)理Larry Desjardin先生,以及亞太區(qū)市場開發(fā)經(jīng)理梁雄峰博士,為大家重點(diǎn)介紹了模塊化產(chǎn)品的布局和PXI、AXIe技術(shù)。

與傳統(tǒng)的整體化測試儀器相比,模塊化有著更靈活多變,升級(jí)擴(kuò)展容易等優(yōu)勢限,為客戶節(jié)約測試時(shí)間和人力成本。但安捷倫表示今后不會(huì)放棄傳統(tǒng)儀器這一塊,模塊化與整體化將并存發(fā)展,并且在保持AXIe總線產(chǎn)品主導(dǎo)的同時(shí),增加對PXI總線產(chǎn)品的投入。

PCI-e 2.0 機(jī)箱為業(yè)界首款,以及M9392A VSA,業(yè)界第一款由單個(gè)廠商生產(chǎn)的 PXI 微波矢量信號(hào)分析儀,并通過功能強(qiáng)大、廣泛應(yīng)用的 Agilent 89600 VSA 軟件得到了增強(qiáng)。該產(chǎn)品組合能夠?qū)νㄐ?、雷達(dá)和航空電子信號(hào)(高達(dá) 26.5 GHz)進(jìn)行詳細(xì)分析,并為下一代無線系統(tǒng)和其他應(yīng)用提供業(yè)界領(lǐng)先的 250 MHz 瞬時(shí)帶寬。配合超寬帶下變頻器,可實(shí)現(xiàn)對超過1GHz帶寬的信號(hào)捕獲和分析。此外,微波矢量信號(hào)分析儀(VSA)也成為解決寬帶功放預(yù)失真測試(DPD)有力手段。

2011安捷倫測試測量大會(huì):迎接LTE時(shí)代
安捷倫的工程師在介紹模塊化產(chǎn)品

今年5月,中國移動(dòng)宣布在全國7個(gè)城市鋪設(shè)TD-LTE實(shí)驗(yàn)網(wǎng),LTE技術(shù)一時(shí)成為公眾關(guān)注的熱門話題。全球范圍內(nèi),隨著美國Verizon wireless, 日本NTT Docomo, 和瑞典TeliaSonera成功鋪設(shè)LTE商用網(wǎng)絡(luò),LTE在全球的大規(guī)模商用似乎就在眼前。LTE-Advanced標(biāo)準(zhǔn),在這樣的大背景下應(yīng)運(yùn)而生。

LTE-Advanced標(biāo)準(zhǔn)與LTE相比,究竟有哪些共同點(diǎn),又有哪些顯著增強(qiáng)?載波聚合,增強(qiáng)型上行技術(shù)以及高階MIMO帶來的怎樣的挑戰(zhàn)?

2011安捷倫測試測量大會(huì):迎接LTE時(shí)代
LTE正在全球范圍內(nèi)普及

PXT 儀器是 LTE 終端測試領(lǐng)域的一項(xiàng)重大突破。它提供靈活的基站/網(wǎng)絡(luò)仿真和射頻參數(shù)測試功能,是安捷倫針對 LTE 開發(fā)和驗(yàn)證的測試產(chǎn)品系列中又一出色的測試解決方案。

2011安捷倫測試測量大會(huì):迎接LTE時(shí)代
Yip YauMun

安捷倫無線寬帶運(yùn)營部亞太區(qū)市場開發(fā)經(jīng)理葉有文先生(Yip YauMun)講解了PXT 用于LTE 射頻測量的功能。PXT LTE 測試儀支持真實(shí)的基站/網(wǎng)絡(luò)仿真,提供一個(gè)可配置的測量環(huán)境,可驗(yàn)證網(wǎng)絡(luò)附著、空閑和連接模式下的操作及功能性能(例如吞吐量)。

PXT 具有最大的靈活性,可配置各種連接和網(wǎng)絡(luò)參數(shù),進(jìn)行測量和調(diào)試所設(shè)計(jì)的協(xié)議和數(shù)據(jù)處理能力,包括下行 2x2 MIMO (兩步法模擬)和切換(I-RAT)??蛇x的應(yīng)用軟件支持更詳細(xì)的協(xié)議和應(yīng)用測試及分析??梢赃B續(xù)記錄幾天不間斷測試產(chǎn)生的數(shù)據(jù),并且通過遠(yuǎn)程協(xié)助功能(System-View)幫助工程師解決測試中遇到的實(shí)際問題。

然而最大的亮點(diǎn)還是針對LTE移動(dòng)設(shè)備的耗電量模擬測試。當(dāng)今各種智能手機(jī)、平板電腦的功能越來越強(qiáng)大,電池卻越來越不夠用。如何幫助終端廠商優(yōu)化電源設(shè)計(jì)?PXT有辦法。

PXT 儀器還可用于安捷倫的設(shè)計(jì)驗(yàn)證和一致性測試解決方案,覆蓋整個(gè)LTE研發(fā)周期。借助這款全新產(chǎn)品,就能更迅速、更高效地將設(shè)計(jì)推向市場,并繼續(xù)提供適用于產(chǎn)品生命周期各個(gè)階段的全套工具。

隨著HDMI1.4,USB3.0,Display Port等各種高速數(shù)據(jù)線纜的廣泛使用,高速數(shù)據(jù)線纜的測試成為線纜廠商的一大挑戰(zhàn),安捷倫元器件測試工廠市場應(yīng)用工程師真鍋秀一先生(HidekazuManabe),為我們介紹了網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071C選件TDR。它可以既進(jìn)行傳統(tǒng)的S參數(shù)測試,又可以進(jìn)行TDR各項(xiàng)指標(biāo)的測試。

2011安捷倫測試測量大會(huì):迎接LTE時(shí)代
Hidekazu Manabe

傳統(tǒng)上,基于采樣示波器的時(shí)域反射計(jì) (TDR) 一直用于電纜和印刷電路板的測試。由于這種示波器的噪聲相對較大,同時(shí)實(shí)現(xiàn)高動(dòng)態(tài)范圍和快速測量具有一定難度,雖然通過取平均法可以降低噪聲,但是這會(huì)影響測量速度。示波器上用于測量時(shí)序偏差的多個(gè)信號(hào)源之間的抖動(dòng),也會(huì)導(dǎo)致測量誤差。此外,給TDR 示波器設(shè)計(jì)靜電放電 (ESD) 保護(hù)電路非常困難,因此TDR 示波器容易被ESD 損壞。這些問題只憑TDR 示波器基本上很難解決,只有通過E5071C-TDR — 基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 的TDR 解決方案才能解決。[!--empirenews.page--]

2011<strong>安捷倫</strong><strong>測試測量</strong>大會(huì):迎接<strong>LTE</strong>時(shí)代
整套設(shè)備HDMI線纜測試設(shè)備價(jià)格比ENA選件TDR方案貴5倍

與傳統(tǒng)TDR相比,基于ENA的TDR操作上更簡單,測量更快速精確,并且通過其測試的線材均可達(dá)到HDMI,SATA等實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。所以廠商無須花大價(jià)錢去購買整套測試設(shè)備,只須在TDR上進(jìn)行預(yù)測,便可送實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證。當(dāng)然,如果不放心,預(yù)測時(shí)可以適當(dāng)加嚴(yán)。

TDR選件目前已經(jīng)覆蓋到5Gbps的總線速度標(biāo)準(zhǔn),并且提供在線免費(fèi)固件升級(jí)服務(wù)。

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