Sematech將使用X射線開發(fā)新型半導(dǎo)體材料
據(jù)悉,Bede的X-ray計(jì)量系統(tǒng)將被Sematech的研究人員用于包括SiGe、金屬柵極和high-k電介質(zhì)在內(nèi)的前沿前段材料的研發(fā)。具體而言,上述系統(tǒng)將用于幫助研發(fā)人員研究high-k電介質(zhì)和金屬電極中存在的晶相和結(jié)晶度,以及SiGe薄膜中應(yīng)力的測(cè)定。
Sematech公司的高級(jí)研究員AlainDiebold在一份聲明中表示,high-k材料的晶向和結(jié)晶度會(huì)影響器件的電氣特性,使用XRD(X射線衍射分析儀)可以幫助研究人員調(diào)整工藝,加速high-k電介質(zhì)的開發(fā)。當(dāng)前XRD是測(cè)量SiGe中的應(yīng)力和成分的先進(jìn)技術(shù)。