日本MEC展出光學(xué)薄膜目視檢查用照明系統(tǒng)

日本MEC在“FPD International 2008”上展出了目視檢查照明系統(tǒng)“B30系列”，采用該系統(tǒng)更易于看到光學(xué)薄膜的劃痕等。該產(chǎn)品將于2008年12月上市。價(jià)格為約30萬(wàn)日元。

卷對(duì)卷生產(chǎn)光學(xué)薄膜時(shí)，容易產(chǎn)生周期性缺陷，由于不一定都需要全面檢查，目前除大型廠商外，大部分企業(yè)都采用目視檢查。原照明系統(tǒng)存在的問(wèn)題是，檢查用光直接照入工作人員的眼睛，眼睛疲勞會(huì)使檢查準(zhǔn)確度下降。此次采用了從一側(cè)向薄膜照射鹵素燈光，光源不會(huì)直接照入工作人員眼睛的構(gòu)造。另外，通過(guò)切換照明位置，還便于識(shí)別縱向或橫向的劃痕。

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