OPWILL發(fā)布155M SDH測(cè)試模塊
OPWILL公司發(fā)布單槽位OTM2515SDH測(cè)試模塊,該測(cè)試模塊適用于OTP6200平臺(tái),可實(shí)現(xiàn)PDH/DSN以及SDH/SONET測(cè)試功能。OTP6200+OTM2500可支持155M光接口、155MSDH電接口和1.5M/2M/34M/45M/140MPDH電接口測(cè)試,可完成SDH網(wǎng)絡(luò)日常維護(hù)測(cè)試,如開(kāi)銷捕獲、智能掃描、環(huán)回延遲測(cè)試、指針監(jiān)測(cè)調(diào)整、通道掃描等。
除了上述常用測(cè)試功能,該產(chǎn)品還支持E1多通道測(cè)試功能和基于E1接口與STM-N接口(或兩個(gè)E1接口)的雙向保護(hù)倒換測(cè)試功能。
E1多通道測(cè)試功能可以使我們同時(shí)監(jiān)控12路E1通道,提高我們的測(cè)試效率;
兩個(gè)E1接口的雙向保護(hù)倒換測(cè)試功能可以使我們針對(duì)特殊的具有RJ48E1接口的網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行服務(wù)倒換測(cè)試。
該產(chǎn)品的推出,進(jìn)一步完善了OPWILL公司在傳輸SDH網(wǎng)絡(luò)方面的測(cè)試解決方案,也為客戶提供了更多的選擇。