羅德史瓦茲RTE示波器強(qiáng)大功能征服市場(chǎng)

羅德史瓦茲陸續(xù)齊備了示波器產(chǎn)品線，從入門(mén)款的RTM，中階款的RTE到高階的RTO，不同款式都已經(jīng)齊備。

臺(tái)灣羅德史瓦茲應(yīng)用工程師陳立凱指出，羅德史瓦茲陸續(xù)齊備了示波器產(chǎn)品線，從入門(mén)款的RTM，中階款的RTE到高階的RTO，不同款式都已經(jīng)齊備。而最新款的R&S RTE數(shù)位示波器即為中階款產(chǎn)品，是快速可靠的解決方案，其高取樣率、擷取率及高訊號(hào)保真度的特性，特別適用于嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)、電力電子分析及一般除錯(cuò)等日常量測(cè)任務(wù)，搭配全面的量測(cè)分析工具讓使用者快速獲得量測(cè)結(jié)果，高解析度的觸控螢?zāi)皇筊TE示波器更易于操作及使用。

R&S RTE數(shù)位示波器頻寬為200MHz至1GHz，以超過(guò)每秒一百萬(wàn)次的波形擷取率幫助使用者快速找到錯(cuò)誤的訊號(hào)，并以幾乎沒(méi)有觸發(fā)抖動(dòng)的高精度數(shù)位觸發(fā)系統(tǒng)提供高度精確的量測(cè)結(jié)果，單核心的A/D轉(zhuǎn)換器以超過(guò)7個(gè)有效位元的ENOB幾乎完全消弭了訊號(hào)的失真；每秒5 Gsample的取樣率及每個(gè)通道50 Msample的記憶體深度，使R&S RTE于I2C及CAN等串列協(xié)定資料內(nèi)容分析時(shí)，可準(zhǔn)確且完整地紀(jì)錄長(zhǎng)訊號(hào)序列。

R&S RTE更是執(zhí)行復(fù)雜量測(cè)任務(wù)的最佳選擇，如遮罩測(cè)試可快速地得到測(cè)試統(tǒng)計(jì)結(jié)果，近似頻譜分析儀 (spectrum-analyzer-like) 的快速傅立葉轉(zhuǎn)換對(duì)于零星的訊號(hào)能更可靠的進(jìn)行偵測(cè)，因此R&S RTE為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)期EMI除錯(cuò)的理想工具。

R&S RTE具備10.4" XGA高解析度的觸控螢?zāi)?，使用者可透過(guò)直覺(jué)式圖形化的操作介面快速進(jìn)行各式日常量測(cè)任務(wù)，例如，透過(guò)輕觸螢?zāi)患纯杀４鏈y(cè)試設(shè)定、透過(guò)拖放(drag & drop)即可快速重組螢?zāi)簧蠝y(cè)試波形的區(qū)塊顯示位置；在螢?zāi)贿吘壍募磿r(shí)訊號(hào)波形縮圖顯示功能，讓使用者一目了然、快速掌握測(cè)試節(jié)奏；所有測(cè)試對(duì)話方塊皆以半透明方式呈現(xiàn)，與當(dāng)下所觀測(cè)的測(cè)試波形重疊顯示，因此不會(huì)阻礙測(cè)試波形的觀測(cè)；對(duì)話方塊中的訊號(hào)測(cè)試流程圖及前進(jìn)與后退按鈕，將大幅簡(jiǎn)化操作上的復(fù)雜度。

這些先進(jìn)的測(cè)試工具讓使用者幾乎于一開(kāi)機(jī)后即可立即進(jìn)行測(cè)試，快速量測(cè) (QuickMeas) 功能讓使用者可針對(duì)同一個(gè)訊號(hào)同時(shí)進(jìn)行數(shù)個(gè)測(cè)試工作；透過(guò)輕觸螢?zāi)坏挠嵦?hào)變焦功能，即可簡(jiǎn)單的將所欲觀測(cè)的訊號(hào)進(jìn)行放大，快速觀測(cè)訊號(hào)的細(xì)節(jié)；所有測(cè)試工具皆可透過(guò)螢?zāi)簧戏降墓ぞ吡锌焖俸艚小?/p>

R&S RTE更提供了多樣化的應(yīng)用解決方案，包含串列協(xié)定量測(cè)的觸發(fā)及解碼選配、16個(gè)額外的數(shù)位通道和電源分析選配；另外，R&S亦提供多樣化的測(cè)試探棒滿足各種量測(cè)需求及應(yīng)用。

這款RTE數(shù)位示波器提供2個(gè)及4個(gè)測(cè)試通道以供選擇、頻寬選擇包括了200MHz、350MHz、500MHz及1GHz。