Advantest數(shù)位量測模組滿足超高速SerDes量產(chǎn)測試

全新 Pin Scale串列連結(jié)(PSSL)模組卡擁有超越愛德萬測試前一代 Pin Scale 模組卡的速度與效能，可提供經(jīng)濟(jì)實惠的高階IC原速測試，且采用 V93000 Smart Scale 通用接腳架構(gòu)，可針對元件每根接腳進(jìn)行測試，且具備相當(dāng)高的多組同測效能。

PSSL 模組卡可將整體的運(yùn)作細(xì)分至每只接腳獨立設(shè)定，每只可分別執(zhí)行不同的資料傳輸率，能精準(zhǔn)配合所有測試埠的時脈速度，對待測元件提供完整測試，完全不必犧牲接腳數(shù)或時序彈性。由于所有資源均能獨立并列執(zhí)行， PSSL 可作為量產(chǎn)的理想選擇。

正因為具備如此功能， PSSL 可測試專為應(yīng)用于基礎(chǔ)架構(gòu)與網(wǎng)路處理所設(shè)計高階IC，譬如用于10G/40G/100G乙太網(wǎng)路或PCI Express (PCIe) 介面等的高速元件，甚或建置全中國LTE通訊基礎(chǔ)架構(gòu)所需專有的10G到16G背板SerDes技術(shù)的所用的高階IC。

除了領(lǐng)先業(yè)界的16 Gbps資料傳輸率外， PSSL 還能支援所有實體層(PHY)測試法，譬如偽隨機(jī)位元串流(Pseudorandom Bit Stream)的促發(fā)與反回應(yīng)、訊號抖動注入與量測能力，同時也具備AC/DC分析功能，可滿足不同的測試需求并確保詳盡完整的測試涵蓋率。

愛德萬測試SoC事業(yè)資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「要對目前最高速的IC介面進(jìn)行完整測試，必須藉助可支援原速測試能力的解決方案，同時還要滿足客戶低測試成本需求，這套全新Pin Scale 串列連結(jié)模組卡可提供目前業(yè)者所需的測試速度與效能，有助愛德萬測試進(jìn)一步擴(kuò)大在高速自動化測試設(shè)備市場的領(lǐng)導(dǎo)地位?！?/p>

愛德萬測試全新 Pin Scale 串列連結(jié)模組卡已獲得多家客戶訂單，并開始向客戶交貨。