摘要： 科技正在發(fā)生著跨時代的變革。為了應對新數(shù)字世界所面臨的挑戰(zhàn)，日圖科技有限公司中國合作伙伴美國泰克為電子測量測試行業(yè)中從事研發(fā)設計、驗證、調試的工程師們推出了一系列的全新測試產品平臺及完善的解決方案應對當前在高速串行和嵌入式系統(tǒng)設計中最新的測試測量挑戰(zhàn)。
關鍵字： 電子， 調試， 嵌入式，
測量設備行業(yè)盛典
科技正在發(fā)生著跨時代的變革。為了應對新數(shù)字世界所面臨的挑戰(zhàn)，日圖科技有限公司中國合作伙伴美國泰克為電子測量測試行業(yè)中從事研發(fā)設計、驗證、調試的工程師們推出了一系列的全新測試產品平臺及完善的解決方案應對當前在高速串行和嵌入式系統(tǒng)設計中最新的測試測量挑戰(zhàn)。
日圖科技攜手美國Tektronix盛邀請您關注：2011年度Tektronix技術交流會廈門喜來登站
時間：2011年3月23日 地點：廈門市喜來登酒店
地址：廈門市思明區(qū)嘉禾路386-1號 喜來登酒店 (附近站臺天地花園站， 呂厝北站 ， SM廣場附近)
測量設備行業(yè)盛典看點：
行業(yè)專家論壇 - 業(yè)內權威人士與您分享嵌入式系統(tǒng)市場合作和應用前景，掌握測量技術的最新資訊和技術趨勢，行業(yè)的技術動態(tài)，和未來的發(fā)展趨勢。
技術應用課程 - 行業(yè)知名廠商助您掌握最新技術應用及解決方案 ，提升競爭力。
頂尖產品拆解 - 現(xiàn)場拆解解讀產品的內部結構、工作原理、產品性能對比等。
高端技術分享 - 尖端產品現(xiàn)場展示，為您解密電子產品的檢測成功之道！
測量設備行業(yè)盛典看點：
新品內容包含如下：
DPO/DSA/MSO70000C系列數(shù)字與混合信號示波器，采樣率達100 GS/s，低噪聲時提供5倍過采樣
AWG7000C/5000C任意波形發(fā)生器，縮短45%波形創(chuàng)建時間
TLA6200邏輯分析儀系列， 為主流嵌入式系統(tǒng)設計者提供了強大的高端調試與分析能力
Bertscope BSA系列誤碼率分析儀，增強了Tx/Rx的測試能力，完善泰克在高速串行和電信的測試方案
MSO/DPO5000，MSO/DPO4000B全新系列的混合信號示波器平臺，加快調試的每一個階段，擁有高端的性能，開放式的平臺，完善的調試和探測功能
屆時泰克的資深專家會親臨現(xiàn)場為您做精彩演講，同時還會展示泰克的全線產品，涵蓋從便攜式臺式儀器系列到高性能的系統(tǒng)級測試儀器的全明星陣容。
分段主題介紹：
加快調試的每一個階段--泰克全新MSO/DPO5000混合信號示波器介紹
當前的工程師和技術人員正面臨著日益復雜關鍵的調試任務。新型數(shù)字設計給設計人員帶來了新的問題：串行總線上的系統(tǒng)集成問題，瞬變，信號畸變，總線爭用問題，信號完整性問題等等，當然也包括產品開發(fā)周期的競爭壓力，這一切都要求技術人員必須迅速準確地完成調試工作，縮短產品的開發(fā)周期。
泰克全新MSO/DPO5000提供了高端的性能和開放的平臺，在日益復雜的調試中加快了調試的每一個階段。通過探測、發(fā)現(xiàn)、捕獲、搜索、分析五個步驟來快速完成復雜電路調試和驗證， 為復雜的電子電路設計提供了業(yè)內最優(yōu)秀的解決方案。
產品特色：
更快探測： 突破性的TPP無源探頭，1GHz帶寬，4pF電容，帶寬增倍，負荷減半；數(shù)字探頭與通道，1ns毛刺檢測，3pF電容，速度增倍，負荷減半倍，支持多種邏輯分析
更快發(fā)現(xiàn)：DPX波形更新率，比同類最高快100倍
更快捕獲：MagniVu™數(shù)字采樣，60.6ps定時分辨率，快同類產品8倍，超過350種觸發(fā)組合，快速抓住異常故障！
更快搜索：Wave Inspector®搜索，在250M深存儲，快速自動定位故障
更快分析：53種自動測量，超過10種應用軟件，包括以太網與USB2.0一致性驗驗證軟件，開放式Windows7平臺
泰克DDR1/2/3原理和自動化測試方案
DDR目前正在逐漸滲透到計算機行業(yè)，通訊行業(yè)和消費電子行業(yè)的各個領域，隨著DDR產品的更新?lián)Q代和速度的提升，DDR測試給產品開發(fā)和測試工程師帶來越來越多的困難和挑戰(zhàn)。如何理解DDR物理層和協(xié)議層原理，如何對DDR數(shù)據進行讀寫分離，如何對DDR進行自動化測試，如何靈活地精確地探測BGA封裝的DDR信號，如何對DDR的協(xié)議層進行分析，如何對PCB板件做阻抗和S參數(shù)的測量，這些都是我們現(xiàn)在和以后所面臨的困難和挑戰(zhàn)。本講座將就以上問題，以及泰克為此所推出的全新的DDR測試解決方案做深入的分析。[!--empirenews.page--]
完整的USB3.0發(fā)送端和接收端測試方案
驗證USB3.0設計要求的通常遠不止于一致性測試工具。在被測器件一致性測試失敗時，分析其根本原因變得非常關鍵。我們將討論并演示調試USB 3.0發(fā)射機和接收機使用的工具。系統(tǒng)檢定是了解設計余量的關鍵。例如，不同系統(tǒng)組件(包括信道和電纜)都會導致互操作能力問題。我們將介紹迅速執(zhí)行接收機檢定的方法，以及確定接收機測試失敗根本原因使用的工具。在發(fā)射機方面，我們將討論在不同信道特點下評估設計的方法。
PCI Express2.0-3.0演化中的新要求
PCIe3.0帶來了許多在設計和驗證PCIe3.0設計時必需考慮的新的挑戰(zhàn)。由于數(shù)據速率提高到8Gb/s，其必須采用新的均衡方案，以補償信道損耗，這帶來了新的發(fā)射機測量項目和一致性測試方法。均衡技術不能補償系統(tǒng)中的所有抖動來源，因此PCIe3.0要求采用新的抖動方法。發(fā)射機測量規(guī)定在芯片引腳上進行，而芯片引腳一般都不能接觸，因此要求反嵌信道影響，以測量發(fā)射機。這就要求進行發(fā)射機測試，以滿足標準，并提供新的測試方法。正確測試發(fā)射機必不可少，因為信道末尾的眼圖將閉上，從而要求CTLE、CTLE和DFE，實現(xiàn)長服務器信道。接收機必須能夠適應系統(tǒng)中的信道，因此我們將討論新的接收機測試方法，包括自動鏈路協(xié)商。
更多內容現(xiàn)場發(fā)放:
1、確保免費席位和相關資料； 2、與現(xiàn)場專家直接交流；
3、獲得會后研討會整合資料一份； 4、現(xiàn)場參觀最新產品展示；
5、免費獲得日圖科技贈送的精明禮品一份；6、免費帶產品測試，幫您現(xiàn)場解答疑難問題
7、免費五級酒店用餐（喜來登） 8、免費現(xiàn)場參加組織方帶來的萬元禮品抽獎
萬元大獎任您領
現(xiàn)場設有：現(xiàn)場互動、技術問答、精彩游戲、產品綜合展示動手區(qū)等環(huán)節(jié)，更有千元禮品現(xiàn)場贈送。
凡參加者將可獲贈精美禮品1份，活動多多，精彩多。
一等獎（1名）：價值 千元優(yōu)派液晶顯示器
二等獎（2名）：價值 五百元禮品一份
三等獎（2名）：價值 三百元禮品一份
幸運獎（多名）：凡與會的工程師均可免費領取
確認報名參加登記
現(xiàn)在就報名參加，免費領取參觀票（免費門票數(shù)量有限，以日圖科技官方網站公布為準）
請于2011年3月15日前致電800-716-0102，400-616-5217 周小姐、楊小姐報名參加
郵箱：zhoulingzhi@rituchina.com 或 yangcheng@rituchina.com
時間：2011年3月23日 地址：廈門市思明區(qū)嘉禾路386-1號 喜來登酒店
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