華邦選用惠瑞捷V5400系統(tǒng)測試閃存晶圓

時(shí)間：2008-12-24 00:33:28

關(guān)鍵字：晶圓測試系統(tǒng) 內(nèi)存電子

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[導(dǎo)讀]惠瑞捷(Verigy)公司宣布，內(nèi)存供貨商華邦電子(WinbondElectronics)已采購多套VerigyV5400閃存測試系統(tǒng)，供臺中廠使用，以測試SpiFlash序列式閃存的晶圓。這些內(nèi)存采用序列外圍接口(SPI)，廣泛使用于PC、移動電話和其

惠瑞捷(Verigy)公司宣布，內(nèi)存供貨商華邦電子(WinbondElectronics)已采購多套VerigyV5400閃存測試系統(tǒng)，供臺中廠使用，以測試SpiFlash序列式閃存的晶圓。這些內(nèi)存采用序列外圍接口(SPI)，廣泛使用于PC、移動電話和其它移動裝置中。 V5000系列內(nèi)存測試系統(tǒng)是一套完整的解決方案，從工程開發(fā)到大量生產(chǎn)，可解決所有的內(nèi)存測試需求。V5000系列采可擴(kuò)充的機(jī)臺架構(gòu)，并將測試系統(tǒng)的資源做最佳化的利用，因此，能有效率地測試所有的內(nèi)存類型，有效解決各式各樣的內(nèi)存測試問題?？沙绦蚧涌诰仃嚰夹g(shù)可提供極高的接腳數(shù)(24,576只接腳)、最強(qiáng)的平行測試能力(x512NAND、x512NOR、x576SPI和x384MCP)、以及最高的測試系統(tǒng)利用率，如針對閃存的晶圓測試提供多達(dá)4608個(gè)I/O信道，且每套系統(tǒng)可以做彈性的配置，最多可測試144個(gè)組件。因此，相比于傳統(tǒng)的閃存測試系統(tǒng)，可以大幅降低測試成本。V5000并采用第五代的Tester-per-Sit e架構(gòu)，可以讓客戶完整地移轉(zhuǎn)測試程序且能保持原有的穩(wěn)定性，從設(shè)計(jì)、晶圓到終程等不同的測試階段，都能以超高的效率移轉(zhuǎn)測試程序。華邦電子選擇V5400的原因在于該閃存測試系統(tǒng)的成本低于其它系統(tǒng)，且V5400測試系統(tǒng)在臺灣安裝的數(shù)量相當(dāng)龐大，更容易提供客戶需要的服務(wù)。華邦電子原本即已采用惠瑞捷V5000系列旗下的V5000e工程開發(fā)工作站，現(xiàn)在，只要將既有的測試程序移轉(zhuǎn)到V5400系統(tǒng)上，即可執(zhí)行量產(chǎn)測試，效率超高。