開放式架構(gòu)SiP測試方案提高良率
[導(dǎo)讀]隨著國內(nèi)諸如搭載CMMB等功能多媒體手機、MP4/5等移動手持消費類電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，加入了無源器件、射頻器件、MEMS、以及多個子系統(tǒng)高度集成的SiP產(chǎn)品技術(shù)發(fā)展迅猛，對IC設(shè)計、封裝、以及測試都提出了新的要求和挑
隨著國內(nèi)諸如搭載CMMB等功能多媒體手機、MP4/5等移動手持消費類電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，加入了無源器件、射頻器件、MEMS、以及多個子系統(tǒng)高度集成的SiP產(chǎn)品技術(shù)發(fā)展迅猛，對IC設(shè)計、封裝、以及測試都提出了新的要求和挑戰(zhàn)。
SiP測試最大的問題在于如何通過1PASS完成針對SoC、Memory、RF等不同功能的測試，來降低測試成本；以及在CP階段對SiP的大量重要測試數(shù)據(jù)進行詳細分析，提高測試良率。愛德萬測試在今年10月的“ICCHINA”、11月的IC設(shè)計年會、以及12月的技術(shù)研討會上，推出了一系列面向SiP測試的全新測試方案。搭載了支持數(shù)字測試、模擬測試、電源測試、射頻測試、Memory測試、多時域測試等不同測試功能測試模塊的開放式架構(gòu)T2000測試系統(tǒng)，可以根據(jù)SiP的不同測試要求，整合及調(diào)配測試資源，將原先的NPASS測試流程升級為1PASS測試，優(yōu)化了擁有不同測試功能的測試資源，大幅縮短了原來復(fù)雜流程的測試時間，實現(xiàn)了測試成本的大幅降低；同時T2000測試系統(tǒng)內(nèi)嵌的如SCANFF，F(xiàn)AILBITMAP等EDA-LinkageGUI調(diào)試工具，使設(shè)計人員和測試工程人員對SiPCP測試階段獲得的大量、復(fù)雜的測試結(jié)果數(shù)據(jù)，能夠直觀、系統(tǒng)的進行分析，從而進一步實現(xiàn)了SiP測試的良率提高。
愛德萬測試的全新SiP測試方案，必將能助力國內(nèi)的SiP產(chǎn)業(yè)更好更快得發(fā)展。
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