2011年國際儀表與測量技術大會在杭召開

2011年5月10日至12日，一年一度的儀器與測量領域水平最高、影響力最大的國際學術盛會——國際儀表與測量技術大會在杭州龍禧福朋喜來登酒店召開。

國際儀表與測量技術大會由美國電氣和電子工程師學會儀表與測量協(xié)會主辦，浙江大學承辦，吸引了來自美國、意大利、英國、加拿大等40多個國家和地區(qū)的300余名專家和學者參加。中控技術股份公司作為僅有的兩家企業(yè)代表之一亮相，中控創(chuàng)始人褚健教授于開幕當天發(fā)表主旨演講，介紹了中控在自動化控制系統(tǒng)和現(xiàn)場總線技術等領域的最新科研成果和應用，引起了國內外學者的廣泛關注。

國際儀表與測量技術大會集聚了當今國際儀表與測量技術研究領域的知名專家和學者，與會代表就國際最新的儀表和測量技術、信號處理技術、數(shù)據(jù)采集技術、傳感器技術等方面進行廣泛的交流和討論，集中體現(xiàn)了未來幾年國際儀表與測量技術的發(fā)展方向。

在會議現(xiàn)場，許多國際知名的專家和學者來到中控展位，欣賞了ECS-700DCS演示箱，并聽取了會議工作人員的講解。他們中有不少人表示對褚健教授的演講印象深刻，對中控及其產(chǎn)品表現(xiàn)出濃厚的興趣。因此，工作人員組織部分外國來賓在會議結束之后赴中控參觀，加深了解，促進合作。

國際儀表與測量技術大會是拓展中控國際化交流與合作的一次重要機遇。借助這樣的學術平臺，一方面可以了解業(yè)內技術發(fā)展的最新動態(tài)，另一方面也促進國際企業(yè)相互間的科技交流與技術合作，進一步提升中控在測量與測試領域的學術地位和知名度。國際儀表與測量技術大會的召開也促進了國家之間的技術交流與合作，為國家之家的經(jīng)濟合作奠定了基礎。