Multitest發(fā)布Kelvin測(cè)試座綜合教程

21ic訊 為全球(集成元件制造商（IDM）和最終測(cè)試分包商，提供設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的Multitest公司，日前宣布推出Kelvin教程。 若要低成本測(cè)試其測(cè)量值相對(duì)于接觸電阻值很敏感的元件，Kelvin測(cè)試座是不可或缺的。真正的Kelvin測(cè)試座完全消除了直流電參數(shù)測(cè)試的接觸電阻誤差。

將這種卓越的電氣解決方案應(yīng)用于集成電路測(cè)試是一個(gè)機(jī)械挑戰(zhàn)。需要和兩個(gè)電氣絕緣且機(jī)械結(jié)構(gòu)獨(dú)立的探針相連接的測(cè)試點(diǎn)是微小并緊密排列的（并且正變得更小更緊密）。Kelvin接觸的成本最初是較高的。如果部署Kelvin測(cè)試座，大批量生產(chǎn)測(cè)試的成本將顯著降低。

市場(chǎng)上現(xiàn)有多款Kelvin測(cè)試座，它們來自不同供應(yīng)商并采用不同技術(shù)。應(yīng)當(dāng)仔細(xì)甄別。

Multitest的Kelvin教程對(duì)何為Kelvin連接方式以及何時(shí)需要Kelvin接觸方式進(jìn)行了說明。此外，該教程還提供一些實(shí)用建議和示例。

若需下載Kelvin綜合教程，請(qǐng)?jiān)L問： www.multitest.com/KelvinTutorial。